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公开(公告)号：CN100559717C
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200510062954.6
申请日：2005-03-31
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: H04L1/0071 , G11B20/18 , G11B2020/1272 , H04L1/0045 , H04L1/0061
Abstract: 本发明提供一种错误位置的检测方法、使用该方法的检测电路、纠错电路和再生装置。读入部(222)读入数据信号。第一估计部(226)根据数据信号中含有的BIS码，来估计错误位置，并将该位置存储在错误位置存储部(230)中。第二估计部(228)根据相邻于BIS码的位列的特征，来估计错误位置，并将该位置存储在错误位置存储部(230)中。纠正部(232)根据存储在错误位置存储部(230)中的错误位置，来特定消失位置，并对所特定的消失位置进行消失纠正。除了通过由BIS码进行的错误位置的估计之外，还根据相邻于BIS码的位列的特征来估计错误位置，可以抑制成组传输错误的漏检。
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公开(公告)号：CN101989437A
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：CN201010243161.5
申请日：2010-07-28
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G11B20/10203 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明提供一种光拾取装置、光盘装置及焦点调整方法，能够以简单结构有效地去除杂散光，并且能够抑制跟踪误差信号中产生的DC分量。其中，使由盘反射的激光会聚到第一方向和第二方向上，并导入像散。使用与第一方向和第二方向平行的2条直线分割所得到的4个光束区域(A～D)的光的行进方向，分别变换为(Da～Dd)的方向。由此，在光检测器上产生了只含有信号光的信号光区域。通过在该区域配置传感器图案，从而抑制了杂散光的影响。求出校正倍率，该校正倍率用于根据将激光照射于无轨道的测试盘时的区域B、C的光量平衡、和区域A、D的左右的光量平衡来抑制跟踪误差信号的DC分量。通过该校正倍率对跟踪误差信号进行校正。
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公开(公告)号：CN101989437B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201010243161.5
申请日：2010-07-28
Applicant: 三洋电机株式会社
IPC: G11B7/135 , G11B7/1395 , G11B7/09
CPC classification number: G11B20/10203 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明提供一种光拾取装置、光盘装置及焦点调整方法，能够以简单结构有效地去除杂散光，并且能够抑制跟踪误差信号中产生的DC分量。其中，使由盘反射的激光会聚到第一方向和第二方向上，并导入像散。使用与第一方向和第二方向平行的2条直线分割所得到的4个光束区域(A～D)的光的行进方向，分别变换为(Da～Dd)的方向。由此，在光检测器上产生了只含有信号光的信号光区域。通过在该区域配置传感器图案，从而抑制了杂散光的影响。求出校正倍率，该校正倍率用于根据将激光照射于无轨道的测试盘时的区域B、C的光量平衡、和区域A、D的左右的光量平衡来抑制跟踪误差信号的DC分量。通过该校正倍率对跟踪误差信号进行校正。
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公开(公告)号：CN1677874A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510062954.6
申请日：2005-03-31
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: H04L1/0071 , G11B20/18 , G11B2020/1272 , H04L1/0045 , H04L1/0061
Abstract: 本发明提供一种错误位置的检测方法、使用该方法的检测电路、纠错电路和再生装置。读入部(222)读入数据信号。第一估计部(226)根据数据信号中含有的BIS码，来估计错误位置，并将该位置存储在错误位置存储部(230)中。第二估计部(228)根据相邻于BIS码的位列的特征，来估计错误位置，并将该位置存储在错误位置存储部(230)中。纠正部(232)根据存储在错误位置存储部(230)中的错误位置，来特定消失位置，并对所特定的消失位置进行消失纠正。除了通过由BIS码进行的错误位置的估计之外，还根据相邻于BIS码的位列的特征来估计错误位置，可以抑制成组传输错误的漏检。
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