公开(公告)号：CN1604234A

公开(公告)日：2005-04-06

申请号：CN200410071376.8

申请日：2004-07-23

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 柴田茂则 ,  吉川定男 ,  渡边智文 ,  铃木贵之

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/36 ,  G11C2029/0401 ,  G11C2029/3602 ,  G11C2029/5602

Abstract: 本发明提供一种在一个封装内混装多个半导体芯片的装置，虽结构简单，但可以更有效地进行动作试验。本半导体装置，在一个封装(11)内，作为多个半导体芯片，混装着具有数据处理功能的逻辑芯片(12)以及存储该逻辑芯片(12)处理过的、或应处理的数据的存储器芯片(13)。而且，在该半导体装置中，具备：根据外部指令自动地向存储器电路(15)进行数据写入的自动改写电路(16)；和选择性地切换对上述存储器电路(15)的访问由该自动改写电路(16)进行还是由逻辑电路(14)进行的选择器(18)。另外，作为逻辑试验器的外部试验装置(17)，在向上述自动改写电路(16)输出开始试验指令后，启动逻辑电路(14)的动作试验。

公开(公告)号：CN100468578C

公开(公告)日：2009-03-11

申请号：CN200410071376.8

申请日：2004-07-23

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 柴田茂则 ,  吉川定男 ,  渡边智文 ,  铃木贵之

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/36 ,  G11C2029/0401 ,  G11C2029/3602 ,  G11C2029/5602

Abstract: 本发明提供一种在一个封装内混装多个半导体芯片的装置，虽结构简单，但可以更有效地进行动作试验。本半导体装置，在一个封装(11)内，作为多个半导体芯片，混装着具有数据处理功能的逻辑芯片(12)以及存储该逻辑芯片(12)处理过的、或应处理的数据的存储器芯片(13)。而且，在该半导体装置中，具备：根据外部指令自动地向存储器电路(15)进行数据写入的自动改写电路(16)；和选择性地切换对上述存储器电路(15)的访问由该自动改写电路(16)进行还是由逻辑电路(14)进行的选择器(18)。另外，作为逻辑试验器的外部试验装置(17)，在向上述自动改写电路(16)输出开始试验指令后，启动逻辑电路(14)的动作试验。