公开(公告)号：CN105636078B

公开(公告)日：2019-11-01

申请号：CN201510817689.1

申请日：2015-11-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张德玹 ,  赵成来 ,  李炯周 ,  林采万 ,  李政佑

IPC: H04W24/00

Abstract: 提供在电子设备中提供无线局域网服务的设备和方法。所述电子设备包括：通信接口，发送和接收用于无线局域网服务的信号；以及处理器，使用通信接口并且基于信道扫描信息，选择多个信道；接入与所述多个信道当中的至少一个信道相对应的至少一个接入点(AP)；以及在保持接入至少一个AP的状态中监视多个AP。

公开(公告)号：CN101094409A

公开(公告)日：2007-12-26

申请号：CN200710137955.1

申请日：2007-03-26

Applicant: 首尔大学校产学协力财团 ,  三星电子株式会社

Inventor： 李政佑

IPC: H04N7/26

CPC classification number: H04N19/154 ,  H04N19/124 ,  H04N19/146

Abstract: 一种比特率控制方法，可以包括计算当前帧的质量度量和两个或更多先前帧的质量度量的平均值，以便计算所述当前帧的质量度量与所述两个或更多先前帧的质量度量的平均值之间的偏差；比较所述偏差与临界值度量；以及，响应于所述比较结果控制量化参数。一种比特率控制装置，可以包括：质量度量计算器，其计算所述当前帧的质量度量和所述两个或更多先前帧的质量度量的平均值，以便计算所述偏差；比较器，其比较所述偏差与所述临界值度量；以及，量化参数设置单元，其响应于所述比较结果控制所述量化参数。

公开(公告)号：CN105636078A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201510817689.1

申请日：2015-11-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张德玹 ,  赵成来 ,  李炯周 ,  林采万 ,  李政佑

IPC: H04W24/00

Abstract: 提供在电子设备中提供无线局域网服务的设备和方法。所述电子设备包括：通信接口，发送和接收用于无线局域网服务的信号；以及处理器，使用通信接口并且基于信道扫描信息，选择多个信道；接入与所述多个信道当中的至少一个信道相对应的至少一个接入点(AP)；以及在保持接入至少一个AP的状态中监视多个AP。

公开(公告)号：CN1617326A

公开(公告)日：2005-05-18

申请号：CN200410100543.7

申请日：2004-09-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜棋皓 ,  吴赫祥 ,  李政佑 ,  朴大根

IPC: H01L21/768

CPC classification number: H01L21/76808 ,  H01L21/76804 ,  H01L21/76807 ,  H01L21/76834 ,  H01L21/76835

Abstract: 制造在互连孔的下部侧壁处具有斜面的半导体器件的方法，包括在具有下部导电层的半导体衬底上顺序形成蚀刻终止层和层间电介质层。通过选择性蚀刻层间电介质层露出部分蚀刻终止层。通过除去部分露出的蚀刻终止层在蚀刻终止层内形成台阶。并且，台阶形成在露出的蚀刻终止层的凹陷部分和用层间电介质层覆盖的蚀刻终止层的高出部分之间的边界处。除去部分层间电介质层以露出部分蚀刻终止层的高出部分。并且，各向异性蚀刻露出的凹陷和高出部分，以露出下部导电层并形成具有斜面的互连孔，其中斜面由在互连孔的下部侧壁处的剩余蚀刻终止层构成。

公开(公告)号：CN101094409B

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN200710137955.1

申请日：2007-03-26

Applicant: 首尔大学校产学协力财团 ,  三星电子株式会社

Inventor： 李政佑

IPC: H04N7/26

CPC classification number: H04N19/154 ,  H04N19/124 ,  H04N19/146

Abstract: 一种比特率控制方法，可以包括计算当前帧的质量度量和两个或更多先前帧的质量度量的平均值，以便计算所述当前帧的质量度量与所述两个或更多先前帧的质量度量的平均值之间的偏差；比较所述偏差与临界值度量；以及，响应于所述比较结果控制量化参数。一种比特率控制装置，可以包括：质量度量计算器，其计算所述当前帧的质量度量和所述两个或更多先前帧的质量度量的平均值，以便计算所述偏差；比较器，其比较所述偏差与所述临界值度量；以及，量化参数设置单元，其响应于所述比较结果控制所述量化参数。

公开(公告)号：CN100350592C

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：CN200410100543.7

申请日：2004-09-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜棋皓 ,  吴赫祥 ,  李政佑 ,  朴大根

IPC: H01L21/768

CPC classification number: H01L21/76808 ,  H01L21/76804 ,  H01L21/76807 ,  H01L21/76834 ,  H01L21/76835

Abstract: 制造在互连孔的下部侧壁处具有斜面的半导体器件的方法包括在具有下部导电层的半导体衬底上顺序形成蚀刻终止层和层间电介质层。通过选择性蚀刻层间电介质层露出部分蚀刻终止层。通过除去部分露出的蚀刻终止层在蚀刻终止层内形成台阶。并且，台阶形成在露出的蚀刻终止层的凹陷部分和用层间电介质层覆盖的蚀刻终止层的高出部分之间的边界处。除去部分层间电介质层以露出部分蚀刻终止层的高出部分。并且，各向异性蚀刻露出的凹陷和高出部分，以露出下部导电层并形成具有斜面的互连孔，其中斜面由在互连孔的下部侧壁处的剩余蚀刻终止层构成。

公开(公告)号：CN1303939C

公开(公告)日：2007-03-14

申请号：CN200410103825.2

申请日：2004-11-17

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张佑荣 ,  曹辰镐 ,  申尚勋 ,  李政佑

IPC: A61B5/053 ,  G09B23/28

CPC classification number: A61B5/053

Abstract: 一种活体预定部分的皮肤阻抗模型，该部分是将要测量的对象，其中皮肤阻抗模型通过在预定部分两端之间通入预定电流和测量这两端之间的电压进行估计，该模型包括：第一区域，其具有并联的第一电阻器和第一固定相元件(CPE)；第二区域，其具有并联的第二电阻器和第二CPE，以及第三电阻器，其中第三电阻器串联到第二电阻器和第二CPE的并联线路上；和第三区域，其具有并联的第四电阻器和第三CPE；其中第二区域和第三区域并联，并通过第五电阻器与第一区域串联。

公开(公告)号：CN1618397A

公开(公告)日：2005-05-25

申请号：CN200410103825.2

申请日：2004-11-17

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张佑荣 ,  曹辰镐 ,  申尚勋 ,  李政佑

IPC: A61B5/053 ,  G09B23/28

CPC classification number: A61B5/053

Abstract: 一种活体预定部分的皮肤阻抗模型，该部分是将要测量的对象，其中皮肤阻抗模型通过在预定部分两端之间通入预定电流和测量这两端之间的电压进行估计，该模型包括：第一区域，其具有并联的第一电阻器和第一固定相元件(CPE)；第二区域，其具有并联的第二电阻器和第二CPE，以及第三电阻器，其中第三电阻器串联到第二电阻器和第二CPE的并联线路上；和第三区域，其具有并联的第四电阻器和第三CPE；其中第二区域和第三区域并联，并通过第五电阻器与第一区域串联。