半导体封装件及其制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116031242A

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202210867603.6

    申请日:2022-07-22

    Abstract: 提供了半导体封装件及其制造方法,所述半导体封装件包括:下基板;下半导体芯片,安装在所述下基板上;下模制层,位于所述下基板上并且包围所述下半导体芯片;再分布层,位于所述下模制层上;以及垂直连接端子,围绕所述下半导体芯片并且将所述下基板连接到所述再分布层。所述下半导体芯片可以包括位于其顶表面处的识别标记。所述识别标记可以包括:具有凹雕形状的标记图案,位于所述下半导体芯片的所述顶表面处;以及模制图案,填充所述标记图案的内部空间。构成所述模制图案的第一材料可以与构成所述下模制层的第二材料相同。

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