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公开(公告)号:CN109884342B
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN201811311158.5
申请日:2018-11-06
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 吴德满 , 柳成润 , 孙荣薰 , 全忠森 , 池仑庭
IPC: G01Q30/00
Abstract: 提供一种扫描探针检查器,所述扫描探针检查器包括:探针,包括悬臂和尖部,尖部的长度对应于在晶圆中形成的沟槽的深度;沟槽检测器,使用探针获取沟槽的位置信息,其中,位置信息包括沟槽的深度信息;控制器,基于沟槽的位置信息将尖部插入存在沟槽的第一点中,并使用沟槽的位置信息使尖部移动穿过沟槽;以及缺陷检测器,当尖部移动穿过沟槽时,检测沟槽的侧壁中的缺陷的存在。
公开(公告)号:CN109884342A
公开(公告)日:2019-06-14