半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110534561B

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN201910141074.X

    申请日:2019-02-26

    Abstract: 提供了一种半导体器件。所述半导体器件包括:在衬底上沿第一方向延伸的鳍型图案;在鳍型图案上沿与第一方向相交的第二方向延伸的第一栅电极;位于第一栅电极的侧壁上并且位于鳍型图案中的源极/漏极区域;在衬底上沿第一方向延伸的分隔结构,分隔结构包括第一沟槽并与鳍型图案间隔开,并且分割第一栅电极;位于分隔结构的侧壁上并且覆盖源极/漏极区域的层间绝缘层,层间绝缘层包括第二沟槽,第二沟槽的下表面低于第一沟槽的下表面;以及连接到源极/漏极区域并且填充第一沟槽和第二沟槽的接触。

    半导体器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110534561A

    公开(公告)日:2019-12-03

    申请号:CN201910141074.X

    申请日:2019-02-26

    Abstract: 提供了一种半导体器件。所述半导体器件包括:在衬底上沿第一方向延伸的鳍型图案;在鳍型图案上沿与第一方向相交的第二方向延伸的第一栅电极;位于第一栅电极的侧壁上并且位于鳍型图案中的源极/漏极区域;在衬底上沿第一方向延伸的分隔结构,分隔结构包括第一沟槽并与鳍型图案间隔开,并且分割第一栅电极;位于分隔结构的侧壁上并且覆盖源极/漏极区域的层间绝缘层,层间绝缘层包括第二沟槽,第二沟槽的下表面低于第一沟槽的下表面;以及连接到源极/漏极区域并且填充第一沟槽和第二沟槽的接触。

Patent Agency Ranking