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公开(公告)号:CN112262114B
公开(公告)日:2022-06-28
申请号:CN201980039424.X
申请日:2019-05-13
Applicant: 三井金属矿业株式会社
Inventor: 白仁田亮
IPC: C04B35/01 , C23C14/34 , H01L21/363 , H01L29/786
Abstract: 实施方式的一个方案的氧化物烧结体是含有铟、镓和锌的氧化物烧结体,其含有由InGaZnO4或InGaZn2O5表示的同系结构化合物和由ZnGa2O4表示的尖晶石结构化合物,并且抗弯强度为180MPa以上。
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公开(公告)号:CN118140007A
公开(公告)日:2024-06-04
申请号:CN202380014138.4
申请日:2023-01-16
Applicant: 三井金属矿业株式会社
IPC: C23C14/34 , C01G15/00 , C01G35/00 , C04B35/453 , C23C14/08 , H01L21/336 , H01L21/363 , H01L29/786
Abstract: 本发明的溅射靶材由包含铟(In)元素、锌(Zn)元素及钽(Ta)元素的氧化物制成,各元素的原子比满足式(1)至(3)的全部式子,0.1≤(In+Ta)/(In+Zn+Ta)<0.4(1),0.6<Zn/(In+Zn+Ta)≤0.9(2),0.001≤Ta/(In+Zn+Ta)<0.014(3),所述溅射靶材的相对密度为95%以上,使用该溅射靶材制造上述相同组成的氧化物半导体。
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公开(公告)号:CN118056282A
公开(公告)日:2024-05-17
申请号:CN202380013886.0
申请日:2023-01-16
Applicant: 三井金属矿业株式会社
IPC: H01L29/786 , C23C14/08 , C23C14/34 , H01L21/203 , H01L21/336
Abstract: 本发明涉及场效应晶体管,其包括:具有250℃以下的玻璃化转变温度的基材;和在该基材上设置的氧化物半导体层。上述氧化物半导体层由包含铟(In)元素、锌(Zn)元素和添加元素(X)的氧化物来形成。添加元素(X)为选自钽即(Ta)元素、锶(Sr)元素和铌(Nb)元素中的至少一种的元素。各元素的原子比满足式(1)至(3)的全部。0.4≤(In+X)/(In+Zn+X)≤0.8(1);0.2≤Zn/(In+Zn+X)≤0.6(2);0.001≤X/(In+Zn+X)≤0.015(3)。
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公开(公告)号:CN116194612A
公开(公告)日:2023-05-30
申请号:CN202180059883.1
申请日:2021-08-02
Applicant: 三井金属矿业株式会社
IPC: C23C14/34
Abstract: 溅射靶材由包含铟(In)元素、锌(Zn)元素和添加元素(X)的氧化物构成。添加元素(X)由选自钽(Ta)、锶(Sr)、铌(Nb)中的至少1种元素构成。溅射靶材的各元素的原子比满足式(1)至(3)。溅射靶材的相对密度为95%以上。0.4≤(In+X)/(In+Zn+X)≤0.8(1)、0.2≤Zn/(In+Zn+X)≤0.6(2)、0.001≤X/(In+Zn+X)≤0.015(3)。
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公开(公告)号:CN112262114A
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:CN201980039424.X
申请日:2019-05-13
Applicant: 三井金属矿业株式会社
Inventor: 白仁田亮
IPC: C04B35/01 , C23C14/34 , H01L21/363 , H01L29/786
Abstract: 实施方式的一个方案的氧化物烧结体是含有铟、镓和锌的氧化物烧结体,其含有由InGaZnO4或InGaZn2O5表示的同系结构化合物和由ZnGa2O4表示的尖晶石结构化合物,并且抗弯强度为180MPa以上。
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