恒定高压可调温度的密封测试系统及密封测试方法

    公开(公告)号:CN117824950A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410005049.X

    申请日:2024-01-02

    Abstract: 本发明提供了一种恒定高压可调温度的密封测试系统及密封测试方法,涉及核电技术领域,所述恒定高压可调温度的密封测试系统包括容器、加压系统、加热组件和冷却组件,所述容器包括本体和盖体,所述本体设有上端开口的容腔,所述本体的上端面设有用于供密封圈容放的凹槽,所述盖体盖设于所述本体的上端,所述加压系统用于向所述容腔内注入水介质并加压,所述加热组件用于对所述容腔的所述水介质进行加热,所述冷却组件用于对所述容腔的所述水介质进行冷却。本密封测试系统能同时提供高压和大温差变化,符合密封圈的实际工况,利于提高对密封圈密封检测的准确性。

Patent Agency Ranking