土壤分析装置以及土壤分析方法

    公开(公告)号:CN109416344B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN201780036624.0

    申请日:2017-06-19

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种精度好地求出作为用于评价土壤肥力的指标的CEC的土壤分析装置以及土壤分析方法。本发明的解決手段在于,土壤分析装置包括:传感器(10),具有励磁线圈(11)和检测线圈(12);计测部(20),为了向成为分析对象的土壤施加交替磁场,按照每个频率生成输入到励磁线圈(11)的激励信号,并通过向成为分析对象的土壤施加交替磁场来对从检测线圈(12)输出的检测信号进行处理;存储部(33),与不同成分的多份土壤相关地存储与定量值和估计值的相关性相关的数据,该定量值是包含CEC的土壤肥力特征的定量值,该估计值是根据使用传感器(10)和计测部(20)计测的处理后的检测信号求出的包含CEC的土壤肥力特征的估计值;以及估计部(34),基于对成为分析对象的土壤通过传感器(10)施加交替磁场并使用计测部(20)处理的检测信号,并使用存储于存储部(33)的数据,估计成为分析对象的土壤的包含CEC的土壤肥力特征。

    无定形合金箔的剪切加工法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118891115A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202280090063.3

    申请日:2022-11-28

    Abstract: 在无定形合金箔的剪切加工中,通过对冲头刀尖部赋予功能性的形状,从而实现工具寿命和品质维持的兼顾。无定形合金箔的剪切加工法,是使用具有冲头12和冲模14的剪切工具将多张层叠的无定形合金箔28通过冲头12的一次的下降而冲切的剪切加工法。冲头12包括在冲头顶端面12a形成的第一边缘E1、和在冲头侧周面12b形成的第二边缘E2,将从第一边缘E1到冲头侧周面12b的水平方向的距离l和从第二边缘E2到冲头顶端面12a的垂直方向的距离h分别设定为0.010mm~0.050mm的范围。另外,将垂直方向的距离h设定为各无定形合金箔28的板厚的52%以下。

    检查装置、检查方法以及非接触式传感器

    公开(公告)号:CN109952506B

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN201680083325.8

    申请日:2016-10-13

    Abstract: 提供非接触式传感器(10)以及使用其的检查方法,通过激励线圈(13)、第一检测线圈(11)以及第二检测线圈(12)构成磁回路,并且将第一检测线圈(11)和第二检测线圈(12)在磁回路上对称地构成。检查装置(20)包括:第一输入部(21),被输入来自第一检测线圈(11)的信号;第二输入部(22),被输入来自第二检测线圈(12)的信号;差计算部(23),计算来自第一输入部(21)的第一信号与来自第二输入部(22)的第二信号的差;信号处理部(24),对通过差计算部(23)计算出的差信号进行处理;以及振荡部(25),生成对激励线圈(13)的激励信号以及对信号处理部(24)的参照信号,能够高灵敏度且简便地判断有无检查对象物、与成为基准的标准的物体的异同等。

    土壤分析装置以及土壤分析方法

    公开(公告)号:CN109416344A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201780036624.0

    申请日:2017-06-19

    CPC classification number: G01N21/64 G01N27/72 G01N33/24

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种精度好地求出作为用于评价土壤肥力的指标的CEC的土壤分析装置以及土壤分析方法。本发明的解決手段在于,土壤分析装置包括:传感器(10),具有励磁线圈(11)和检测线圈(12);计测部(20),为了向成为分析对象的土壤施加交替磁场,按照每个频率生成输入到励磁线圈(11)的激励信号,并通过向成为分析对象的土壤施加交替磁场来对从检测线圈(12)输出的检测信号进行处理;存储部(33),与不同成分的多份土壤相关地存储与定量值和估计值的相关性相关的数据,该定量值是包含CEC的土壤肥力特征的定量值,该估计值是根据使用传感器(10)和计测部(20)计测的处理后的检测信号求出的包含CEC的土壤肥力特征的估计值;以及估计部(34),基于对成为分析对象的土壤通过传感器(10)施加交替磁场并使用计测部(20)处理的检测信号,并使用存储于存储部(33)的数据,估计成为分析对象的土壤的包含CEC的土壤肥力特征。

    检查装置、检查方法以及非接触式传感器

    公开(公告)号:CN109952506A

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201680083325.8

    申请日:2016-10-13

    Abstract: 提供非接触式传感器(10)以及使用其的检查方法,通过激励线圈(13)、第一检测线圈(11)以及第二检测线圈(12)构成磁回路,并且将第一检测线圈(11)和第二检测线圈(12)在磁回路上对称地构成。检查装置(20)包括:第一输入部(21),被输入来自第一检测线圈(11)的信号;第二输入部(22),被输入来自第二检测线圈(12)的信号;差计算部(23),计算来自第一输入部(21)的第一信号与来自第二输入部(22)的第二信号的差;信号处理部(24),对通过差计算部(23)计算出的差信号进行处理;以及振荡部(25),生成对激励线圈(13)的激励信号以及对信号处理部(24)的参照信号,能够高灵敏度且简便地判断有无检查对象物、与成为基准的标准的物体的异同等。

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