工业检测中的雨线去除装置

    公开(公告)号:CN113920029B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202111219319.X

    申请日:2021-10-20

    摘要: 本发明提供一种工业检测中的雨线去除装置,涉及工业检测技术领域,装置包括:串联的第一至第三通道;其中,第一至第三通道包括:语义信息提取模块和特征筛选模块,第一和第二通道的特征筛选模块包括:通道注意力模块和卷积模块,第三通道的特征筛选模块包括:残差通道注意力模块和卷积模块。本发明采用渐进式去雨结构,每次都是基于上一次提取结果进一步进行特征提取,解决了单阶段去雨效果较差的问题,前两阶段主要使用通道注意力模块进行语音信息进行进一步筛选,最后一个阶段主要使用残差通道注意力模块,可以针对前两个阶段通道注意力模块提取的语义信息进行残差学习,进一步提升特征提取效果,从而能够准确提取出需要去除的雨线信息。

    基于K均值聚类与点位规划算法的工部件轮廓检测方法

    公开(公告)号:CN118799589A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410988845.X

    申请日:2024-07-23

    摘要: 本发明的基于K均值聚类与点位规划算法的工部件轮廓检测方法,设置ROI,在ROI内生成搜索路径;对搜索路径上的点集进行遍历,以每个点为中心生成矩形单元;对矩形单元进行Kmeans聚类,对聚类结果计算类中心距离d、亮暗比例rate、亮暗分布类型type;判断类中心距离d、亮暗比例rate以及亮暗分布类型type是否同时满足三个条件;在搜索路径S中取下一个路径点,直至搜索完整个路径S,将搜索框的中心点作为轮廓点存入点集合ps中;判断是否遍历完搜索路径上所有的点。该方法可以检测处在过渡带上的轮廓,并且能够过滤相对明显的噪声,从而提高设备模型的稳定性、通用性,降低现场工作难度的目的。

    易混淆缺陷的有效检测方法

    公开(公告)号:CN113808129B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202111253353.9

    申请日:2021-10-27

    摘要: 本发明公开了一种易混淆缺陷的有效检测方法,获取工业相机扫描识别后经过缺陷检测装置检测到的异色与喷砂不均缺陷数据,将异色与喷砂不均缺陷数据作为样本数据;将样本数据进行中心标准化处理,去除样本数据中特征物理量之间的单位限制,转化为无量纲的纯数值数据;使用模糊C均值聚类法对样本数据进行聚类;使用轮廓系数来评价聚类结果;以不同的聚类中心数C值作为模糊C均值聚类数,聚类结束后,将C类中样本量为1的类别判断为异色缺陷,将C类中样本量大于1的类别判断为喷砂不均缺陷。该方法在不更改现有工业相机扫描方式的前提下,提高设备检测异色与喷砂不均的准确率,具有省时省力、降低项目成本以及提高缺陷检测效率的优点。

    一种三维成像控制方法及系统
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118381892A

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202410824459.7

    申请日:2024-06-25

    摘要: 本发明公开了一种三维成像控制方法及系统,所述方法具体包括以下步骤:步骤一,配置投影所需的图形格式参数;步骤二,发送启动命令;步骤三,生成图形数据并通过底层硬件将图形数据输出到显示设备;步骤四,在预设延迟时间后,输出触发脉冲并采集图形;步骤五,完成图形曝光,并输出所述图形。采用本发明的三维成像控制方法及系统,通过创新的设置显示底层高速接口,实现了硬件底层高速接口传输图形数据的方式,以及通过相机硬触发脉冲的精确控制,显著提升了三维成像的效率和准确性。

    缺陷检测方法和系统
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117786415B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410211054.6

    申请日:2024-02-27

    IPC分类号: G06F18/214

    摘要: 本发明提出了一种缺陷检测方法和系统,其中,该方法包括:获取第一训练样本集,并统计相应的缺陷类别集合;从第一训练样本集中选取第一目标训练样本集,并统计第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数;判断第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数是否等于目标预设数;如果第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数小于目标预设数,从第二训练样本集中随机选取出K个除第一目标训练样本集中所有缺陷类别之外的缺陷类别对应的训练样本添加到第一目标训练样本集中以获取第二目标训练样本集;对缺陷检测网络进行训练,以获取相应的缺陷检测模型;对当前训练完的缺陷检测模型进行多次迭代训练,直至缺陷检测模型满足预设条件以目标缺陷检测模型。

    叠料铭牌自动检测机
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112269028B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202011227005.X

    申请日:2020-11-06

    IPC分类号: G01N35/00 G01N35/04

    摘要: 本发明专利涉及一种叠料铭牌自动检测机,具有工作平台;工作平台上设有分度盘,工作平台上沿分度盘的圆周方向依次设有自动上料机构、移栽机构、以及检测机构;自动上料机构包括多个料仓、及顶料板,各个料仓相互连接,顶料板通过第二电机的驱动将铭牌上顶;移栽机构包括移栽支架、滑台、升降架、调节架、以及第一真空吸头,各个第一真空吸头经第一气缸驱动滑台、及第二气缸驱动升降架后对铭牌进行吸附和转移;检测机构包括检测支架、以及检测相机,检测相机经第三气缸的驱动对分度盘上的各个铭牌进行检测;分度盘通过第一电机的驱动将铭牌从移栽机构下方转移至检测机构下方。本发明能够快速高效的进行叠料铭牌的检测,准确且高效。

    缺陷检测方法和系统
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117786415A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202410211054.6

    申请日:2024-02-27

    IPC分类号: G06F18/214

    摘要: 本发明提出了一种缺陷检测方法和系统,其中,该方法包括:获取第一训练样本集,并统计相应的缺陷类别集合;从第一训练样本集中选取第一目标训练样本集,并统计第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数;判断第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数是否等于目标预设数;如果第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数小于目标预设数,从第二训练样本集中随机选取出K个除第一目标训练样本集中所有缺陷类别之外的缺陷类别对应的训练样本添加到第一目标训练样本集中以获取第二目标训练样本集;对缺陷检测网络进行训练,以获取相应的缺陷检测模型;对当前训练完的缺陷检测模型进行多次迭代训练,直至缺陷检测模型满足预设条件以目标缺陷检测模型。

    工业机器人运动轨迹规划方法及设备

    公开(公告)号:CN117733853A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311789587.4

    申请日:2023-12-25

    IPC分类号: B25J9/16

    摘要: 本发明提供了一种工业机器人运动轨迹规划方法及设备,本发明包括生产环境构建、算法模型构建、轨迹规划和轨迹输出本发明通过在虚拟环境中模拟工业生产环境,通过AI算法生成机器人移动轨迹,并实时提供轨迹质量信息实现输出结果的动态调整,优化了轨迹生成和运动所需要的时间,提升了轨迹质量,减少了人工现场调机需求,极大的提升了工业生产效率。本发明通过虚拟环境模拟运动过程,一方面可以使一部分点位(路径测试点)不在需要轨迹规划,减少了轨迹规划所需时间;另一方面,提前进行了运动验证,避免了机器人无法执行某些运动轨迹的问题。

    工件缺陷检测方法及装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112461846B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202011346308.3

    申请日:2020-11-26

    IPC分类号: G01N21/88

    摘要: 本申请揭示了一种工件缺陷检测方法及装置,属于工件缺陷检测技术领域。该方法包括利用视觉检测机台获取从产线上收集的工件的光学面图像;核对光学面图像上缺陷所在的位置及缺陷区域;将光学面图像输入至缺陷预测模型以获取预测数据;将核对的缺陷区域以及预测数据中的缺陷区域进行对比,将相交区域高于预定阈值的缺陷记为检出,将其他缺陷记为过检;将检出和过检分别标记于光学图像中对应缺陷的位置处,以供人工复核。本申请通过以不漏检为目标的缺陷预测模型输出关于缺陷的预测数据,并与核对的该光学面的缺陷数据进行对比,通过将缺陷预测模型输出的预测数据与实物对齐方案作为缺陷预测模型的辅助手段,使得漏检和过杀指标双双得以下降。