用于分析粒子,并且具体是粒子质量的系统

    公开(公告)号:CN114026670B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202080047545.1

    申请日:2020-08-03

    Abstract: 本发明涉及一种用于分析粒子的系统,所述系统包括:NEMS装置,所述NEMS装置包括至少一个NEMS传感器,所述NEMS传感器用于检测撞击所述至少一个NEMS传感器的粒子,每个NEMS传感器包括NEMS传感器区域;粒子透镜组合件,所述粒子透镜组合件包括至少一个粒子透镜,所述粒子透镜用于将粒子聚焦到所述至少一个NEMS传感器中的NEMS传感器上,其中所述粒子透镜组合件与所述至少一个NEMS传感器区域间隔开一定分隔距离,其中所述系统被配置成将限定在所述粒子透镜组合件与所述NEMS装置之间的空间维持在一定压力下,在所述压力下,参考粒子的平均自由路径大于所述分隔距离。本发明还涉及对应的方法。

    利用质谱分析确定同位素比值

    公开(公告)号:CN109473335B

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN201811042750.X

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本发明构思涉及利用质谱分析测量同位素比值。通过以下步骤获得离子的质谱:产生离子,引导所述离子通过具有随离子电流而变化的质量转移函数的装置,将所述离子中的至少一些提供给质量分析器并获得所述离子的质谱,以及确定被提供给所述质量分析器的所述离子的离子电流。针对每个质谱确定所述离子的同位素比值。利用针对每个质谱的确定的同位素比值和确定的离子电流来确定校准关系,所述校准关系表征所述确定的同位素比值和测量的离子电流在所述质谱上的变化。随后,利用所述校准关系调整在确定的离子电流下获得的测量的同位素比值,以将所述测量的同位素比值调整到与所选离子电流相对应的调整后同位素比值。

    同位素比质谱分析
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109470764A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811036281.0

    申请日:2018-09-06

    Abstract: 同位素比质谱分析通过以下实现:将分析用样品注入到气相色谱柱中;将来自所述气相色谱柱的流出物引导到切换布置;以及选择所述切换布置的配置,使得:在第一模式中,将来自所述气相色谱柱的所述流出物作为输入提供到峰展宽器;以及在第二模式中,将来自所述峰展宽器的流出物提供到用于同位素比质谱分析的质谱仪,而没有将来自所述气相色谱柱的流出物作为输入提供到所述峰展宽器。

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