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公开(公告)号：CN118737256A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410996155.9
申请日：2024-07-24
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本申请公开了一种存储芯片测试平台及其测试控制方法，涉及存储芯片测试技术领域。存储芯片测试平台包括：上位机、与上位机通信连接的测试治具；测试治具包括：测试座、接口选通模块、测试控制模块、包括DRAM测试接口、EMMC测试接口和UFS测试接口的测试接口模块；方法包括：测试控制模块响应于测试启动指令，确定接入测试座的待测芯片的芯片类型；根据芯片类型从DRAM测试接口、EMMC测试接口、UFS测试接口中确定目标测试接口，并控制接口选通模块工作令目标测试接口与待测芯片连接，通过目标测试接口执行对应的目标测试任务对待测芯片完成测试；返回芯片测试结果。能降低测试成本，简化测试流程，提高芯片量产测试效率。
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公开(公告)号：CN116880746B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202310659113.1
申请日：2023-06-05
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F3/06
摘要： 本申请公开了一种数据处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及数据处理技术领域，数据处理方法根据第一数据操作请求，检测随机存取存储器的数据存储区的剩余容量能否存储目标映射表；在检测到数据存储区的剩余容量能够存储目标映射表的情况下，将目标映射表存储于数据存储区。本申请实施例的数据处理方法将目标映射表存储于随机存取存储器的数据存储区，以使随机存取存储器能够存储更多映射表，当数据操作对应的目标映射表存储于随机存取存储器时，在进行数据操作时无需访问闪存存储器，因此，随机存取存储器存储更多映射表能够降低访问闪存存储器的次数，从而提高数据操作的效率。
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公开(公告)号：CN118689786A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202411160040.2
申请日：2024-08-22
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F12/02
摘要： 本申请实施例提供了一种存储芯片的映射表管理方法、电子设备及存储介质，属于存储器技术领域；存储芯片包括多个数据块；方法包括：从多个数据块中确定出目标数据块及临时数据块，以及在第一缓存区中初始化P2L子映射表，P2L子映射表用于记录预设数量个数据页中存储数据的地址映射信息；在目标数据块进行数据存储过程中，执行映射表维护操作；映射表维护操作包括：在P2L子映射表已达到存储上限的情况下，将P2L子映射表中的地址映射信息存入临时数据块并在第一缓存区初始化P2L子映射表；根据目标数据块中剩余的空白数据页，将临时数据块中的地址映射信息存储到剩余的空白数据页中，进而通过上述方法提升存储芯片的性能和延长寿命。
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公开(公告)号：CN118656032A
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202411133024.4
申请日：2024-08-19
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F3/06
摘要： 本申请公开了一种存储器读任务的处理方法、装置、电子设备及存储介质，涉及数据处理技术领域，其中处理方法包括：从预设的任务池获取读任务信息；根据所述读任务信息，确定对应的平面单元；根据所述平面单元的预读状态和预设的优先级链表，将所述读任务信息添加至所述平面单元对应的任务队列中，或根据所述读任务信息控制所述平面单元进入预读并改变对应的所述预读状态，并更新所述优先级链表；持续根据所述优先级链表的优先级顺序，对优先级最高的平面单元进行数据处理并更新所述优先级链表，直至所述读任务信息对应的平面单元完成基于所述读任务信息的数据输出。本申请能够减少平面单元在处理时的等待时间，提高存储器处理读任务的效率。
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公开(公告)号：CN116991310B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202310768976.2
申请日：2023-06-27
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种闪存状态查询方法及闪存控制器，涉及存储技术领域，包括：通过操作状态查询模块判断是否满足闪存操作状态查询请求的条件；当满足闪存操作状态查询请求的条件，操作状态查询模块通过中断方式向第一处理器发送判断结果；根据判断结果，通过第一处理器执行缓存中的程序，以通过总线与寄存器模块设置闪存操作状态查询请求，并通过总线时序模块发送闪存操作状态查询请求至对应的闪存；根据总线时序模块接收闪存发送的状态值；根据停止策略，当操作状态查询模块判断状态值满足第一停止条件，且当闪存完成预设的操作命令，通过中断方式向第一处理器发送操作成功的结果。本申请能够降低CPU的开销。
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公开(公告)号：CN116994635B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202310778481.8
申请日：2023-06-28
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质，涉及存储产品技术领域。闪存掉电测试方法包括以下步骤：控制模块通过状态引脚检测待测闪存的工作状态；工作状态包括繁忙状态和空闲状态；当检测到待测闪存处于繁忙状态时，控制模块控制可控电源对待测闪存进行延时断电；通过获取模块获取待测闪存断电后的阈值电压分布图。根据本发明实施例的闪存掉电测试方法，可以准确控制待测闪存在不同的时间点或位置进行断电，从而能够得到待测闪存在不同的时间点或位置进行断电的不同表现，进而能够更全面地分析待测闪存的掉电表现。
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公开(公告)号：CN116483639B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202310465219.8
申请日：2023-04-26
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22 , G06F3/0481
摘要： 本发明公开了一种eMMC信息获取方法和系统、电子设备和存储介质，涉及eMMC技术领域。eMMC信息获取方法包括：第一终端通过APK应用获取第二终端上的eMMC的内部信息，且第一终端显示第一界面；第一界面包括第一模块、第二模块和第三模块；响应于对第一模块的第一操作，第一终端显示第二界面；或者，响应于对第二模块的第二操作，第一终端显示第三界面；或者，响应于对第三模块的第三操作，第一终端显示第四界面。根据本发明实施例的eMMC信息获取方法，第一终端能够通过APK应用直接获取eMMC的内部信息，而不用将eMMC从第二终端上拆卸下来，从而避免在拆卸的过程中，破坏eMMC的数据。
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公开(公告)号：CN116955030B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202310781431.5
申请日：2023-06-28
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种测试计划分配方法及其系统、电子设备、存储介质，eMMC测试系统包括上位机和测试板，测试板搭载多个eMMC装置；该方法包括：从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息；根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试；检测并记录测试任务的执行情况；在测试任务执行失败的情况下，获取并解析测试过程中所记录的日志信息，得到任务失败类型标志；在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下，更新第一测试计划列表，得到第二测试计划列表；根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试；能够有效地提高测试效率。
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公开(公告)号：CN116682482B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202310596797.5
申请日：2023-05-24
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本申请提出了一种NAND闪存质量分级方法、NAND闪存质量分级装置和存储介质，包括：获取多个纠错级别和多个电压偏移量，并提取NAND闪存的所有page的最大码字max_cw；对于每个纠错级别，确定与纠错级别对应的page总数，统计每个电压偏移量在page总数下的最大纠错能力max_ecc和平均纠错能力mean_ecc，根据最大码字max_cw、最大纠错能力max_ecc和平均纠错能力mean_ecc从多个电压偏移量中筛选出最佳电压偏移量；提取NAND闪存在每个纠错级别和最佳电压偏移量下的chip纠回参数；根据chip纠回参数对NAND闪存进行质量分级。由于本申请能够基于NAND闪存在每个纠错级别和最佳电压偏移量下的chip纠回参数进行质量分级，因此，本申请明确了NAND闪存的质量分级标准，从而能够对NAND闪存进行更精细的质量评估。
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公开(公告)号：CN116662233B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202310596567.9
申请日：2023-05-24
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供了一种AHB接口设备写传输方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：基于AHB接口主设备通过AHB转AXI协议桥的写命令通道向监控模块发送写操作命令；基于监控模块将写操作命令向下游响应模块进行发送并且通过监控模块对写操作命令进行分析处理得到第一关键信息；基于监控模块将第一关键信息写入预设的写命令信息记录队列中；在下游响应模块接收写操作命令和相应的写操作数据的情况下，基于监控模块通过AHB转AXI协议桥的写响应通道向AHB接口主设备反馈写操作完成信息。根据本发明实施例的方案，能够提升数据写传输性能，减小延迟。
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