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公开(公告)号：CN116483639A
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202310465219.8
申请日：2023-04-26
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22 , G06F3/0481
摘要： 本发明公开了一种eMMC信息获取方法和系统、电子设备和存储介质，涉及eMMC技术领域。eMMC信息获取方法包括：第一终端通过APK应用获取第二终端上的eMMC的内部信息，且第一终端显示第一界面；第一界面包括第一模块、第二模块和第三模块；响应于对第一模块的第一操作，第一终端显示第二界面；或者，响应于对第二模块的第二操作，第一终端显示第三界面；或者，响应于对第三模块的第三操作，第一终端显示第四界面。根据本发明实施例的eMMC信息获取方法，第一终端能够通过APK应用直接获取eMMC的内部信息，而不用将eMMC从第二终端上拆卸下来，从而避免在拆卸的过程中，破坏eMMC的数据。
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公开(公告)号：CN116705136B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202310446673.9
申请日：2023-04-23
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明公开了一种eMMC内部信息分析方法和系统，涉及存储产品技术领域。eMMC内部信息分析方法包括：通过飞线抓取host与eMMC之间的交互协议，并生成待解析文件；对待解析文件进行解析，获得host对eMMC的访问信息；访问信息包括但不限于读命令、写命令、每个读命令的访问地址、每个写命令的访问地址、每个读命令的访问长度以及每个写命令的访问长度；分析访问信息，根据分析结果生成图表并显示；图表用于显示读命令的访问地址分布情况、写命令的访问地址分布情况、读命令的访问长度分布情况以及写命令的访问长度分布情况。根据本发明实施例的eMMC内部信息分析方法，能够模拟用户的实际使用行为，对eMMC进行验证。
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公开(公告)号：CN116168752A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310168447.9
申请日：2023-02-24
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G11C29/08
摘要： 本发明公开了一种读、写、擦除操作超时时间获取方法，涉及硬件测试技术领域。读操作超时时间获取方法包括以下步骤：在待测产品的eMMC的读通路中设置读延时模块；将待测产品的host和eMMC的串口链接到PC端；对eMMC进行上电初始化，当eMMC被host执行读操作的次数达到第一预设值时，打开读延时开关以开启读延时模块；eMMC按照读延时模块内的读延时时间进行延时后，再响应host的读操作，直至host出现超时出错的情况；通过比对eMMC和host的打印日志，获得host的读超时时间。根据本发明实施例的读操作超时时间获取方法，能够快速准确地获取读操作超时时间。
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公开(公告)号：CN115145777B
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211068386.0
申请日：2022-09-02
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种测试方法、系统、装置及存储介质，可广泛应用于测试技术领域，如应用于eMMC的测试。测试方法通过对第一界面中的至少一个第一模块进行第一操作，得到包括第一序列的第二界面，并对模块化第二界面得到的第二模块进行第二操作，得到包括第二序列的第三界面，进而通过执行第三界面中的第二序列生成对应的运行脚本，实现了测试用例的快速开发，提高了测试效率，并降低了测试人员在进行测试时的学习成本；通过模块化的测试用例开发以及根据运行脚本的测试流程图生成和显示，提升了测试过程的直观性。
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公开(公告)号：CN115145777A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202211068386.0
申请日：2022-09-02
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种测试方法、系统、装置及存储介质，可广泛应用于测试技术领域，如应用于eMMC的测试。测试方法通过对第一界面中的至少一个第一模块进行第一操作，得到包括第一序列的第二界面，并对模块化第二界面得到的第二模块进行第二操作，得到包括第二序列的第三界面，进而通过执行第三界面中的第二序列生成对应的运行脚本，实现了测试用例的快速开发，提高了测试效率，并降低了测试人员在进行测试时的学习成本；通过模块化的测试用例开发以及根据运行脚本的测试流程图生成和显示，提升了测试过程的直观性。
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公开(公告)号：CN116994626B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202310778353.3
申请日：2023-06-28
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供了一种基于device设备真实温度的老化测试方法、控制器和介质，该老化测试方法，应用于老化测试系统，该老化测试系统包括温箱、控制模块、device设备，device设备放置在温箱中，device设备中设置有至少一个内存芯片，控制模块与温箱连接，控制模块通过通信协议与device设备中的内存芯片通信连接，该老化测试方法先通过控制模块控制温箱达到第一预设温度，然后获取device设备中的内存芯片的真实温度，并根据真实温度对温箱的温度进行细调，直至调到device设备中的内存芯片的温度符合目标第一目标温度信息之后，再启动测试流程，对内存芯片进行第一测试用例测试，使得测试结果与测试要求的内存芯片的温度相对应，提高测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN116705136A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310446673.9
申请日：2023-04-23
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明公开了一种eMMC内部信息分析方法和系统，涉及存储产品技术领域。eMMC内部信息分析方法包括：通过飞线抓取host与eMMC之间的交互协议，并生成待解析文件；对待解析文件进行解析，获得host对eMMC的访问信息；访问信息包括但不限于读命令、写命令、每个读命令的访问地址、每个写命令的访问地址、每个读命令的访问长度以及每个写命令的访问长度；分析访问信息，根据分析结果生成图表并显示；图表用于显示读命令的访问地址分布情况、写命令的访问地址分布情况、读命令的访问长度分布情况以及写命令的访问长度分布情况。根据本发明实施例的eMMC内部信息分析方法，能够模拟用户的实际使用行为，对eMMC进行验证。
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公开(公告)号：CN116483639B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202310465219.8
申请日：2023-04-26
申请人： 珠海妙存科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22 , G06F3/0481
摘要： 本发明公开了一种eMMC信息获取方法和系统、电子设备和存储介质，涉及eMMC技术领域。eMMC信息获取方法包括：第一终端通过APK应用获取第二终端上的eMMC的内部信息，且第一终端显示第一界面；第一界面包括第一模块、第二模块和第三模块；响应于对第一模块的第一操作，第一终端显示第二界面；或者，响应于对第二模块的第二操作，第一终端显示第三界面；或者，响应于对第三模块的第三操作，第一终端显示第四界面。根据本发明实施例的eMMC信息获取方法，第一终端能够通过APK应用直接获取eMMC的内部信息，而不用将eMMC从第二终端上拆卸下来，从而避免在拆卸的过程中，破坏eMMC的数据。
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公开(公告)号：CN116994626A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202310778353.3
申请日：2023-06-28
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供了一种基于device设备真实温度的老化测试方法、控制器和介质，该老化测试方法，应用于老化测试系统，该老化测试系统包括温箱、控制模块、device设备，device设备放置在温箱中，device设备中设置有至少一个内存芯片，控制模块与温箱连接，控制模块通过通信协议与device设备中的内存芯片通信连接，该老化测试方法先通过控制模块控制温箱达到第一预设温度，然后获取device设备中的内存芯片的真实温度，并根据真实温度对温箱的温度进行细调，直至调到device设备中的内存芯片的温度符合目标第一目标温度信息之后，再启动测试流程，对内存芯片进行第一测试用例测试，使得测试结果与测试要求的内存芯片的温度相对应，提高测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN219831304U
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202320940950.7
申请日：2023-04-23
申请人： 珠海妙存科技有限公司
摘要： 本实用新型公开了一种高效率便携式eMMC验证测试装置，涉及芯片测试技术领域。高效率便携式eMMC验证测试装置包括壳体和安装板；壳体设有内腔，壳体的第一侧壁开设有窗口，壳体的第二侧壁开设有穿线孔，第一侧壁与第二侧壁相对设置；安装板设置于壳体的内腔，安装板上设置有多组定位件，每组定位件分别用于安装对应的测试电路板，且测试电路板上用于连接待测eMMC的接口位于窗口处。根据本实用新型的高效率便携式eMMC验证测试装置，能够同时对多块eMMC进行验证，从而提升验证效率；而且，该装置的整体结构简单，便于携带，技术人员可携带该装置到现场对eMMC进行验证，而无需将eMMC返回生产厂家处进行验证，从而节省时间。
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