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公开(公告)号：CN118758980A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410785279.2
申请日：2021-07-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
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公开(公告)号：CN118483260A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410911913.2
申请日：2024-07-09
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
Abstract: 本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
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公开(公告)号：CN109142404B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN109283588B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN201811294703.4
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种用于重建宇宙射线粒子的径迹的方法和设备、以及检查方法和检查设备。所述方法包括：利用宇宙射线粒子探测器探测宇宙射线粒子，所述宇宙射线粒子探测器包括至少一个闪烁体和多个漂移管，在所述宇宙射线粒子的作用下，所述多个漂移管中的至少2个漂移管中的带电粒子产生漂移；利用所述至少一个闪烁体，记录宇宙射线粒子入射至所述宇宙射线粒子探测器的时间零点；根据所述时间零点，计算所述至少2个漂移管中带电粒子的漂移时间；基于计算出的漂移时间，确定宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置；和根据确定出的宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置，拟合出宇宙射线粒子的径迹。
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公开(公告)号：CN117761790A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311774575.4
申请日：2023-12-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种定位透射检测设备的接收探测射线的探测器的系统和方法，该系统包括：射线位置检测显示部，被配置成检测和显示透射检测设备的射线源发射的射线束面的位置，射线束面在与射线源的射线发射方向相对的第一平面内的投影为直线；可见光发射部件，被配置成发射在第一平面内的投影为直线的可见光束面；调节装置，与可见光发射部件连接，并被配置成调节可见光发射部件的可见光发射方向或沿垂直于可见光束面的位置，以将可见光束面调整至射线位置检测显示部显示的射线束面的位置，以便于将可见光束面作为基准面布置或调整探测器，以使探测器可接收射线源发射的射线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117607175A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311810500.7
申请日：2023-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开一种辐射检查装置，包括：辐射源，用于发出射线对被检物进行辐射扫描检查；探测装置，包括在辐射检查工作时由承载物承载的第一探测器臂架和设于所述第一探测器臂架上的探测器，所述探测器用于接收所述辐射源发出的对被检物进行扫描后的射线，所述第一探测器臂架在辐射检查工作时柔性地承载于所述承载物的承载表面上。本发明的辐射检查装置能够更好地适应不平整承载表面。
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公开(公告)号：CN116978598A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310914543.3
申请日：2023-07-24
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请公开一种辐射源的屏蔽装置及检测设备。辐射源的屏蔽装置包括外壳及回转体，所述外壳的内部设有回转腔，且所述外壳上开设有取放口，所述取放口与所述回转腔连通；回转体的至少一部分能移动地设于所述回转腔的内部，所述回转体设于所述回转腔内部的部分上设有能承载辐射源的承载部；所述屏蔽装置具有开启状态与关闭状态，在所述开启状态，所述承载部与所述取放口相对应，在所述关闭状态，所述承载部与所述取放口错开。本申请实施例提供的辐射源的屏蔽装置及检测设备，具有便于工作人员快速取放辐射源的优点，能有效减少辐射源取放过程中对工作人员受到的辐射量。
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公开(公告)号：CN114384596B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202011142314.7
申请日：2020-10-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/04 , G01N23/203
Abstract: 提供一种车辆安检系统、车辆安检系统组合和安检方法。车辆安检系统，包括：安装在检查区域中的扫描装置；第一传输机构，适用于将车辆从所述检查区域的入口在纵向方向上穿过所述扫描装置输送到所述检查区域的出口，以使所述扫描装置对所述车辆进行扫描检查；以及安装在所述检查区域的入口的外部的第一切换机构。第一切换机构包括：第一移动机构，设置成在横向方向上往复移动，并可分离地定位在两个驶入位置；以及两个第二传输机构，安装在所述第一移动机构上，在所述第一移动机构位于所述两个驶入位置中的一个时，两个所述第二传输机构中的一个第二传输机构与所述检查区域的入口对齐，以允许将所述一个第二传输机构上的车辆移动到第一传输机构上。
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公开(公告)号：CN116242856A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202211708553.3
申请日：2022-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , G01V5/00
Abstract: 本发明涉及一种CT扫描系统及方法，该扫描系统包括至少一个射线源组，用于向被扫描物体发射射线，每个射线源组包括多个射线源，多个射线源在同一扫描平面内彼此间隔布置并且具有不同的射线张角方向；以及至少一个探测器，与至少一个射线源组一一对应地相对设置，每个探测器接收从对应的射线源组发射的并且透射通过被扫描物体的射线，其中，至少一个射线源组在扫描过程中围绕被扫描物体旋转以在多个旋转角度上对被扫描物体进行扫描，并且在同一旋转角度处，每个射线源组中的多个射线源依次发射射线束。
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公开(公告)号：CN106124539B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN201610797192.2
申请日：2016-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/16 , G01N23/046 , G01V5/00
Abstract: 本发明提供一种探测器以及用于智能划分能区的探测系统和方法，其中所述探测方法可以包括：由探测器采集从探测对象透射的射线，产生探测信号，所述探测器的每一像素列包括一个A类电极和多个B类电极，且沿探测对象的移动方向依次布置所述A类电极和所述B类电极，使得从探测对象透射的射线先进入A类电极，随后进入B类电极；基于与A类电极对应的探测信号，得到探测对象的图像数据，并基于图像数据估计探测对象的物质成分；根据所估计的物质成分，调整用于能区划分的一个或多个阈值；以及根据所调整后的阈值来确定与B类电极对应的探测信号的能区，并计算在每个能区中的信号数目，得到探测器对象的图像数据，从而得到探测对象的准确成分。
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