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公开(公告)号：CN105634427A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410592268.9
申请日：2014-10-29
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: H03G3/20
Abstract: 本发明属于工程测量技术领域，具体涉及一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置，目的是解决技术现有连续波信号微光探测技术中，放大电路有限的增益带宽积难以实现高增益的问题。该装置包括光电探测器APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3。本方案将光电探测器APD本身作为混频单元，将本振信号加到光电探测器的基准电压端，通过本振信号调制光电探测器的偏置电压来实现对APD探测器增益的调制。
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公开(公告)号：CN105629431A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410637192.7
申请日：2014-11-05
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 本发明属于测试计量技术领域，具体涉及一种卡塞格林抛物面主镜的光轴确定方法，目的在于解决现有技术定心仪测量卡塞格林抛物面主镜的光轴需要旋转的问题。该方法包括准备阶段、经纬仪调焦和判断十字分划板的十字线中心是否在卡塞格林抛物面主镜光轴上三个步骤。本发明采用十字分划板和经纬仪，通过经纬仪调焦步骤，确定卡塞格林抛物面主镜光轴，实现了无需旋转卡塞格林抛物面主镜即可确定卡塞格林抛物面主镜光轴。
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公开(公告)号：CN105627918A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410635996.3
申请日：2014-11-05
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明属于几何量精密测量技术领域，具体涉及一种用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法，目的提供一种引出工装及方法。该工装包括轴基准引出工装和孔基准引出工装。该方法包括建立工装坐标系、标注定向反射球球心在工装坐标系下的三维坐标值、安装轴孔基准现场快速引出工装、测量和数据处理五个步骤。本发明的引出工装和基于该工装的方法能够有效解决应用视觉精密测量系统测量以轴或孔的轴线与基准平面的交点作为基准点定义工件坐标系的大型机械部件时，测量坐标系与工件坐标系的现场快速建立问题。
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公开(公告)号：CN105573405A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201410636418.1
申请日：2014-11-06
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G05G5/00
Abstract: 本发明属于工程测量技术领域，具体涉及一种实现整周回转的位置限定机构，目的是解决现有技术或应用局限性大、或由于硬限位刚性接触而带来冲击的问题。其特征在于：包括限位滑块(1)、限位环(2)、弹簧和端盖(5)；其中，限位环(2)底部一侧设有固定块，安装在立轴(4)顶部，上端与叉架(3)下端连接，下端与立轴(4)连接；端盖(5)环壁上开有一长圆槽，套装在限位环(2)外侧、固定底座(6)的上部；限位滑块(1)安装在端盖(5)的限位滑块安装槽中；两个弹簧放置在限位滑块安装槽内。本发明采用非固定形式的限位块，在整周旋转过程中，通过与固定块接触在主轴旋转方向沿周向方向进行移动，实现整周旋转功能。
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公开(公告)号：CN104567919A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310474394.X
申请日：2013-10-12
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明属于摄影测量系统动态测量误差标定技术领域，具体涉及一种标定摄影测量系统动态测量误差的装置及使用方法，目的是提供一种能够实现摄影测量系统动态测量误差标定的装置及其使用方法。所属的装置包括转台系统、标定模拟件（4）、同步控制器、坐标转换标志球（3）和立体靶标球。本发明采用由转台系统、标定模拟件4、同步控制器、坐标转换标志球3和立体靶标球组成的标定装置，实现了对待标定摄影测量系统的动态测量误差标定，填补了动态误差标定装置和方法的空白，并具有高的测量精度。实验结果显示，该标定方法准确可靠，实验数据良好，系统不确定度U=5″，k=2。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104459710A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310453237.0
申请日：2013-09-25
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01S17/10
CPC classification number: G01S17/08
Abstract: 本发明属于激光测距技术领域，具体涉及一种脉冲/相位一体式激光测距仪。窄脉冲发生电路、正弦波发生电路通过模拟开关A与半导体激光器连接；半导体激光器发射的激光一路经过发射镜、测量目标、接收镜接收后输入APD探测器，经运算放大器B放大后输出回波信号；半导体激光器发射的激光另一路输入PIN探测器，经运算放大器A放大后输出参考信号；模拟开关B接收激光发射脉冲/连续波双模式调制电路产生的参考信号和回波信号，模拟开关B可以切换至与模拟开关C连接，也可以经过混频滤波电路后与模拟开关C连接；模拟开关C与双路高速比较器连接，双路高速比较器与时间间隔测量电路连接。本发明解决单台激光测距仪不能具备脉冲、相位两种测量模式问题。
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公开(公告)号：CN104345519A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310322437.2
申请日：2013-07-29
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G03B7/00
Abstract: 本发明属于测控技术领域，具体公开了一种同轴驱动相机光强调节机构，包括相机、镜头和电机。镜头位于电机的转子内，镜头前端设有偏振片套，该偏振片套与电机弹性连接，偏振片套内设有前偏振片和偏振片压圈，相机颈部设有后偏振片和开口锁紧环，所述的偏振片套、前偏振片、后偏振片、相机、镜头的光轴和电机的回转轴同轴。由于采用双偏振片对进入相机的光强进行调节，两个偏振片进行叠加得到最终进入相机的光强信号，从而得到光强分布均匀，图像灰度值稳定的恒光强图像。
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公开(公告)号：CN207096588U
公开(公告)日：2018-03-13
申请号：CN201720895603.1
申请日：2017-07-21
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 一种可见光近红外双波长激光发射光学系统，由第一单透镜（2）和第二双胶合透镜（3）组成，1550nm波长测量光和660nm波长指示光均由光源（1）发出，其数值孔径为0.14。第一单透镜（2）左右两个面均为球面，左侧为凹球面，球面曲率半径为153.877mm，右侧为凸球面，球面曲率半径为24.71mm，左右两球面顶点间轴向间隔3mm，材料为H-ZK10光学玻璃。第一单透镜2口径为16mm。第二双胶合透镜（3）由一个正透镜（5）和一个负透镜（4）胶合而成，其中负透镜（4）位于靠近光源的一侧。双胶合透镜中负透镜（4）的左右两个面均为球面，左侧为凸球面，球面曲率半径为59.88mm，右侧为凹球面，球面曲率半径为19.54mm，左右两球面顶点间轴向间隔1.7mm。负透镜（4）口径为16mm。
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公开(公告)号：CN204585116U
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201520118628.1
申请日：2015-02-28
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: B25B27/02
Abstract: 本实用新型属于机械工程技术领域，具体涉及一种实现在盲孔上固定工件的安装机构，目的是解决光壁盲孔固定连接方式不便拆装的问题。其特征在于：包括连接杆、锁紧装置和盲孔套环；其中，盲孔套环为开有豁口的环形结构，盲孔套环安装在盲孔内；连接杆的下端与盲孔套环的内表面配合，其中部为缩进装置固定连接结构，上部为待安装工件连接结构，连接杆的下部安装在盲孔套环内，连接杆的中部与锁紧装置固定连接，连接杆的上部与待安装的工件连接；锁紧装置与连接杆的中部连接，锁紧装置套装在连接杆的外侧，底部安装在开设盲孔的外部端面上。本实用新型利用盲孔套环将轴向牵引力转化为径向压力和侧壁的摩擦力，锁紧安装结构，拆卸方便。
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公开(公告)号：CN204188164U
公开(公告)日：2015-03-04
申请号：CN201420634218.8
申请日：2014-10-29
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01C15/00
Abstract: 本实用新型属于光学定位技术领域，具体涉及一种吸附式激光找像器，目的在于解决现有激光找像器与光学测角仪器结构配合导致测量存在偏差的问题其特征在于：它包括壳体(1)、盖板(2)、磁铁(3)、激光器(5)和调节机构(6)；其中，盖板(2)安装在壳体(1)外侧，磁铁(3)安装在壳体(1)一侧，激光器(5)安装在壳体(1)圆弧所在圆的圆心处；调节机构(6)安装在激光器(5)上。本实用新型采用带有磁铁的圆弧形结构，使用更简单、方便，使用时直接吸附在光学测角器出射筒上即可，中间无配合间隙误差，使测量精度更高，并可以极大地提高测量效率。
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