-
公开(公告)号：CN101210950A
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200610157994.3
申请日：2006-12-27
Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
CPC classification number: G01R31/3004 , G01R31/2839
Abstract: 一种电子元件耐压测试设备包括波形发生单元、功率放大单元、变压单元、信号调节单元及检测模块。其中，波形发生单元用于产生振荡信号；功率放大单元用于将所述振荡信号功率放大，以得到功率放大信号；变压单元用于改变所述功率放大信号电压，以得到变压信号；信号调节单元用于隔离所述变压信号中的反向电压信号以得到测试信号；检测模块用于根据所述测试信号检测待测元件，以得到检测数据。此外，还提供了一种电子元件耐压测试方法。
-
公开(公告)号：CN101176009A
公开(公告)日：2008-05-07
申请号：CN200680016188.2
申请日：2006-05-11
Applicant: 国际商业机器公司
Inventor： 瓦格迪·W·阿巴迪尔 , 乔治·M·布雷塞拉斯 , 安东尼·R·博纳西奥 , 凯文·W·戈尔曼
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/3004
Abstract: 用于根据性能/功率要求确定最小操作电压的解决方案将对于广阔范围内的实际使用都有效。该解决方案包括用于通过BIST电路(50)动态降低在应用条件下的功率消耗而保持应用性能的测试流程方法。另外提供了用于在应用条件下动态降低功率消耗到仍将足够维持数据/状态信息的最低的可能待机/很低的功率级的测试流程方法。一种可能的应用被用来控制对ASIC(特定用途集成电路)上的一组特殊电路的电压供应(25)。在电压岛(20)中这些电路被集合成组，接收可能与相同芯片上的其他电路正在接收的电压供应不同的电压供应(25)。能够将相同的解决方案应用于微处理器(例如，高速缓存逻辑电路组)的部分。
-
公开(公告)号：CN100370433C
公开(公告)日：2008-02-20
申请号：CN200510035553.1
申请日：2005-06-24
Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
Inventor： 项嵩仁
IPC: G06F11/36
CPC classification number: G01R31/31721 , G01R31/3004 , G06F11/261
Abstract: 本发明提供一种中央处理器的功率估算方法，该方法包括如下步骤：接通电源，其通过一电源连接器为主板提供电源；开启功率估算表；安装中央处理器治具至主板中，该中央处理器治具与一电子负载机相连；调整电子负载机的输出电流并多次测量各参数，包括电源连接器处的输入电压、输入电流及中央处理器治具中的输出电压；换算功率转换效率，该功率转换效率为输出功率与输入功率的比值；安装中央处理器至主板；执行一测试程序并测量各参数，包括电源连接器处的输入电压、输入电流及中央处理器中的内核电压；分析换算出中央处理器的功率转换效率；估算出中央处理器的消耗功率及消耗电流。利用本发明，可快速估算出不同中央处理器的功率消耗。
-
公开(公告)号：CN1869724A
公开(公告)日：2006-11-29
申请号：CN200610089918.3
申请日：2006-05-26
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/30 , G01R31/3004
Abstract: 一种用于检查电子电路的方法，所述电子电路包括在电路板(10)上形成的第一集成电路(11)和第二集成电路(12)。第一集成电路(11)具有第一电源(13)、一个输入电路(14)和信号输出部件(24)，而第二集成电路具有第二电源(18)、一个输出电路(15)和信号输入部件(32)。所述方法包括如下步骤：改变第一电源(13)的电压电平；把测试信号施加到所述信号输入部件(32)；检测所述信号输出部件(24)的输出信号；通过比较所述测试信号和所述输出信号来审查在电子电路中是否存在足够的余量。
-
公开(公告)号：CN1839545A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200480023789.7
申请日：2004-06-07
Applicant: 爱特梅尔股份有限公司
CPC classification number: G11C29/021 , G01R31/3004 , G11C5/147 , G11C8/08 , G11C29/02 , G11C29/028 , G11C2029/5004 , H03K3/0375 , H03K3/356008
Abstract: 一种用于集成电路的测试和微调节的开关控制电路，它包括一系列以串联方式链接在一起的触发器(30，32，...，34)。触发器的内容可以从链中的第一个触发器(30)的输入(38)移进。各个触发器的输出分别连接到单独的晶体管开关(F1，F2，...，Fn)，使得触发器的状态可以控制开关的状态。可提供用于建立开关的预置状态的电路(50，52，...，54)。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1813196A
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN200480017699.7
申请日：2004-06-14
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： M·卡德纳
IPC: G01R19/165
CPC classification number: G01R31/3004 , G01R19/16547 , G01R31/3167
Abstract: 为了提供用于电子元件中基准电压的自测试的方法，利用该方法，对于可以实施为单片测试形式的基准电压自测试，定义电路装置，即，对此，不需要外部基准电压源，规定基准电压(Uref)为函数f(Uref)的变量，其在基准电压(Uref)的选择标称值(Uref.test)所在的点上具有极值，并且在自测试中，对于基准电压(Uref)和对于两个另外的分别与基准电压(Uref)只相差小的正与负值(+ΔUref；－ΔUref)的测试电压(Uref+ΔUref；Uref－ΔUref)，连续地确定该函数的值，以及对于这些值，相互进行比较，如果测试电压(Uref+ΔUref；Uref－ΔUref)的函数值在同一方向与基准电压(Uref)的函数值是不同的话，则将生成通过信号，或者如果否的话，将生成失败信号。
-
公开(公告)号：CN1758064A
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN200510097849.6
申请日：2005-08-30
Applicant: 国际商业机器公司
CPC classification number: G01R31/3004
Abstract: 一种测量多个半导体器件的交流(AC)和直流(DC)特性的方法和设备。环形振荡器产生脉冲以驱动多个待测半导体器件。仅使用DC输入/输出就能够测量多个半导体器件的电流/电压(IV)和传输特性。
-
公开(公告)号：CN1195325C
公开(公告)日：2005-03-30
申请号：CN02149597.1
申请日：2002-11-15
Applicant: 富士通株式会社
IPC: H01L27/04
CPC classification number: G01R31/3004 , G01R31/31721
Abstract: 通过在正常操作模式与测试模式之间切换电源电路，而可靠地以低功率测试半导体集成电路的操作容限，其中在正常操作模式中，第一升压电源对存储芯和降压电源供电，以及在测试模式中，该存储芯由提供用于测试的波动电压的外部测试电源所供电，并且该降压电源由第二升压电源所供电。
-
公开(公告)号：CN1141593C
公开(公告)日：2004-03-10
申请号：CN97181433.3
申请日：1997-11-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R31/3004
Abstract: 在实行功能测试和直流测试的IC测试装置中，在直流测试装置的输出端连接高电阻的电阻器，通过该电阻器的连接，即使在将直流测试装置连接到功能测试装置的状态下，也能正常操作功能测试装置，从而在功能测试的实行过程中插入直流测试，并行实行功能测试和直流测试，将直流测试装置中开关切换这样花费时间的控制在功能测试中实行，使开关切换时间不添加到测试所需的时间上，从而缩短测试时间。
-
公开(公告)号：CN1421931A
公开(公告)日：2003-06-04
申请号：CN02149597.1
申请日：2002-11-15
Applicant: 富士通株式会社
IPC: H01L27/04
CPC classification number: G01R31/3004 , G01R31/31721
Abstract: 通过在正常操作模式与测试模式之间切换电源电路，而可靠地以低功率测试半导体集成电路的操作容限，其中在正常操作模式中，第一升压电源对存储芯和降压电源供电，以及在测试模式中，该存储芯由提供用于测试的波动电压的外部测试电源所供电，并且该降压电源由第二升压电源所供电。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
107
records
(took 0.018 seconds)
