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公开(公告)号：CN110146972B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910390024.5
申请日：2019-05-10
Applicant: 江苏锐精光电研究院有限公司 , 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司
IPC: G02B19/00
Abstract: 本发明公开了一种集光器，包括：透镜阵列板、集光孔阵列板、导光槽和侧向集光系统；所述导光槽内设置有集光孔阵列板，所述集光孔阵列板的底部设有一级反射体，所述侧向集光系统设置于所述导光槽一侧，所述透镜阵列板安装于所述导光槽的上方，与所述导光槽形成一体式封闭结构。在本发明中，光线通过透镜阵列板照射入集光孔阵列板，通过所述集光孔阵列板上的反射体对光线逐一反射进行传递，并传递至侧向集光系统，最终本发明可以将所有从透镜阵列板射入的光集成一束，产生了极强的集光效果，且本发明结构简单，降低了制作成本，且减小了集光器的体积，安装也更加方便。
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公开(公告)号：CN109470144B
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN201811496664.6
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 线扫描高分辨力立体视觉测量系统与方法光学非接触三维测量领域，具体涉及一种利用立体视觉与线扫描放大测量系统联用测量大尺度三维物体形貌、形变、位移等的装置和方法；该装置两个及以上线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置组成，每一个线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置包括激光照明模块、视觉摄像模块、线扫描放大测量模块；该方法首先将待测物体放置在本装置视场范围及清晰成像范围内；其次，利用线扫描放大测量模块通过摄像模块逐线扫描整个物体；利用视觉三维成像原理对采集到的图片进行处理得到高分辨力的物体三维形貌；本发明可以显著提高大尺度视觉系统的测量分辨力。
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公开(公告)号：CN109579700B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201811497908.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了盘扫描的高分辨力立体视觉测量装置与方法，具体涉及一种利用立体视觉与盘扫描放大测量系统联用快速测量大尺度三维物体形貌、形变、位移等的装置和方法；该装置两个及以上盘扫描高分辨力立体视觉单目测量装置组成，每一个盘扫描高分辨力立体视觉单目测量装置包括激光照明模块、视觉摄像模块、盘扫描放大测量模块；该方法首先将待测物体放置在本装置视场范围及清晰成像范围内；其次，利用扫描放大测量模块通过摄像模块点扫描整个物体；利用视觉三维成像原理对采集到的图片进行处理得到高分辨力的物体三维形貌；本发明可以显著提高大尺度视觉系统的测量分辨力。
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公开(公告)号：CN109470146B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201811496736.7
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 高分辨力立体视觉系统与测量方法属于光学非接触三维测量领域，具体涉及一种利用立体视觉与扫描放大测量模块联用测量大尺度三维物体形貌、形变、位移等的装置和方法；该系统两个及以上高分辨力立体视觉单目测量装置组成，每一个高分辨力立体视觉单目测量装置包括激光照明模块、视觉摄像模块、扫描放大测量模块；该方法首先将待测物体放置在本装置视场范围及清晰成像范围内；其次，利用扫描放大测量模块通过摄像模块逐点扫描整个物体；利用视觉三维成像原理对采集到的图片进行处理得到高分辨力的物体三维形貌；本发明可以显著提高大尺度视觉系统的测量分辨力。
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公开(公告)号：CN110941100A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911198182.7
申请日：2019-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种结合多光子激发的多模式阵列型扫描成像装置属于光学显微测量领域，针对透明薄样品和厚散射样品的不同成像需求，通过不同光源的选取，设计多光子激发成像与普通宽场荧光成像相结合的多模式成像装置，两光源经分束镜的组合可实现多种模式的切换。使用一个固定的微透镜阵列精确控制照明模式和激发点的位置，以生成稀疏的焦点照明，完成对样品的快速扫描，实现透明样品和厚样品的快速双倍分辨率成像，同时提高厚散射样品的图像对比度。此外，在成像系统中引入自适应像差校正单元，减小或消除系统像差，提升多光子成像模式下的成像深度和成像质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110623641A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201910886396.7
申请日：2019-09-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B5/00
Abstract: 本发明涉及一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置，属于光学显微成像技术领域；本发明在传统谐波显微装置的探测路径上同时设置二次、三次谐波信号探测模块，利用二向色镜和滤光片实现二次谐波信号和三次谐波信号的分离和滤波，采用独立的光电探测器分别对二次谐波、三次谐波信号进行探测；在系统中引入自适应像差校正装置，用于校正对样品进行大深度探测时存在的像差。本发明装置包括激光扫描系统、自适应像差校正系统、谐波信号激发系统、谐波信号探测系统、宽场成像系统、以及图像重建与数据处理系统。本发明实现了二次、三次谐波信号的联合探测以及样品结构信息的互补，且在大深度探测时保持了成像质量。
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公开(公告)号：CN109884052A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910045336.2
申请日：2019-01-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 基于CCD探测的减法式谐波显微成像方法属于非线性光学显微成像领域；用CCD相机代替传统谐波显微成像中的光电倍增管，作为谐波信号探测器。飞秒激光器发出的脉冲经过整形扩束后由显微物镜会聚在样品内部形成谐波信号发生所需的激发光斑。样品激发出的谐波信号，被同一物镜收集后经过管镜、滤光片后被CCD相机探测。计算机控制CCD有效像素个数来形成不同大小的等效共焦针孔。用小针孔获得的谐波信号减去乘上系数后的大针孔下形成的谐波信号，由计算机将减法处理后的谐波信号整合成最终的谐波图像。白光光源搭配CCD可在获得亮场图像的同时，定位样品中感兴趣的成像区域。该方法可有效提升谐波显微成像的分辨率，且系统结构简单，调试方便，操作简单。
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公开(公告)号：CN109884050A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910044623.1
申请日：2019-01-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 基于远距离调焦的消像差谐波显微测量方法属于非线性光学显微成像领域；在谐波信号探测模块中，引入参考反射镜，使光路反转，重复利用聚焦物镜，可补偿成像过程中的系统像差。通过轴向移动参考反射镜，实现对谐波信号的重聚焦。飞秒激光器发出的脉冲经整形后由扫描振镜反射，经过转接光学系统后由显微物镜会聚在样品内部形成谐波信号发生所需的激发光斑。样品激发出的谐波信号，被探测物镜收集后经过转接系统并由中转物镜聚焦于参考反射镜镜面。反射光对称返回，再次经过中转物镜，由分束器反射后经过窄带滤光片，最后被光电倍增管探测。该方法有效补偿了系统像差，可实现谐波显微成像的大范围、快速轴向扫描，并且样品保持静止，不受调焦干扰。
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公开(公告)号：CN109470148A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811497954.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 旋转柱面镜旋转柱面镜高分辨力立体视觉系统与测量方法光学非接触三维测量领域，具体涉及一种利用立体视觉与旋转扫描测量模块联用测量大尺度三维物体形貌、形变、位移等的装置和方法；该系统的两个及以上旋转柱面镜高分辨力立体视觉单目测量装置组成，每一个旋转柱面镜高分辨力立体视觉单目测量装置包括激光照明模块、视觉摄像模块、旋转扫描测量模块；该方法首先将待测物体放置在本装置视场范围及清晰成像范围内；其次，利用旋转扫描测量模块通过摄像模块扫描整个物体；利用视觉三维成像原理对采集到的图片进行处理得到高分辨力的物体三维形貌；本发明可以显著提高大尺度视觉系统的测量分辨力。
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公开(公告)号：CN109470144A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811496664.6
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 线扫描高分辨力立体视觉测量系统与方法光学非接触三维测量领域，具体涉及一种利用立体视觉与线扫描放大测量系统联用测量大尺度三维物体形貌、形变、位移等的装置和方法；该装置两个及以上线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置组成，每一个线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置包括激光照明模块、视觉摄像模块、线扫描放大测量模块；该方法首先将待测物体放置在本装置视场范围及清晰成像范围内；其次，利用线扫描放大测量模块通过摄像模块逐线扫描整个物体；利用视觉三维成像原理对采集到的图片进行处理得到高分辨力的物体三维形貌；本发明可以显著提高大尺度视觉系统的测量分辨力。
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