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公开(公告)号：CN112557344A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011371090.7
申请日：2020-11-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开一种双折射率的测定装置，属于光学与晶体学领域，其包括测量光源、扩束镜、汇聚物镜、棱镜、波片、载物台组件、物镜、镜筒、滤波片、偏振片、针孔光阑，扩束镜设置在测量光源的出射方向上，汇聚物镜设置在扩束镜出射光方向上，棱镜设置在汇聚物镜出射光方向上，棱镜的底面设置待测样品，待测样品设置在载物台组件上，物镜末端设置有镜筒，在镜筒和物镜之间设置有滤波片，镜筒内依次设置有偏振片和针孔光阑，载物台组件能升降、旋转、X方向和Y方向的移动，采集从针孔光阑出射的携带有待测样品折射率信息的出射光，从而能获得折射率。本发明装置能精确、方便地测量获得物体的双折射率信息。
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公开(公告)号：CN110763305B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201810850019.3
申请日：2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量方法，属于光电检测技术领域，其采用导光板与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置，导光板上用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置的面为导光板液位面，待测液体液位线落于导光板液位面内，通过待测液体液位改变导光板内光束的传输，使导光板内一部分的光束不发生全反射，从而改变导光板采光面出射光的光场，通过检测该出射光光场的变化，进而检测获得待测液体的液位，导光板上与导光板液位面相对且平行的面为导光板采光面。该方法基于已有的光学原理，利用导光板设计一种新型的光电式液位测量方法，该方法测量精确可靠，操作便利，能较好地在工程实践中运用。
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公开(公告)号：CN109142272B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201810850002.8
申请日：2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种提高光电传感阵列测量折射率过程中数据处理精度的方法，属于测量与光学领域，其包括如下步骤，S1光电传感阵列器件探测得到光强数据，根据光强数据计算获得临界角对应的像素，S2取临界角对应的像素位置前后m个像素，一共为(2m+1)个像素，采集该(2m+1)个像素对应的反射率，以作为拟合数据，S3采用高斯拟合公式，对步骤S2获取的拟合数据进行高斯拟合，得到高斯拟合函数，S4：对步骤S3获得的高斯拟合函数求导，导函数为0即为高斯拟合峰值处，该峰值处对应为亚像素位置处。本发明方法在光电阵列器件测量折射率的自动化、快速的特点基础上，进一步地提高了折射率测量的精度。
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公开(公告)号：CN108572160B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201710148080.9
申请日：2017-03-14
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种折射率分布测量的折光计，属于测量与光学领域，其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元，其中，光源单元用于产生平行光，光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小，还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元，探测单元包括棱镜和透镜阵列，透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上，其用于接受来自光路调节单元的平行光束，棱镜的底面贴合于待测对象的界面上，图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑，还用于对光斑进行图像处理，进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑，能对折射率分布进行测量，测量精度较高。
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公开(公告)号：CN110763305A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201810850019.3
申请日：2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量方法，属于光电检测技术领域，其采用导光板与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置，导光板上用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置的面为导光板液位面，待测液体液位线落于导光板液位面内，通过待测液体液位改变导光板内光束的传输，使导光板内一部分的光束不发生全反射，从而改变导光板采光面出射光的光场，通过检测该出射光光场的变化，进而检测获得待测液体的液位，导光板上与导光板液位面相对且平行的面为导光板采光面。该方法基于已有的光学原理，利用导光板设计一种新型的光电式液位测量方法，该方法测量精确可靠，操作便利，能较好地在工程实践中运用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106815832B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201611187643.7
申请日：2016-12-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种表面贴装技术的钢网图像自动配准方法，属于图像处理与光学测量领域。该发明方法利用图像外接矩形和配准点间的距离不受钢网任意摆放位置和角度的影响的特型，利用设计配准点和设计点阵图和钢网成品图像进行配准，配准时将钢网与设计图像进行仿射变换配准所需要计算的平移、旋转、缩放3个参量的计算转换成了传输特征矩阵的计算，配准后进行配准自动测试，配准失败后进行二次配准。同时本发明还实现了一种表面贴装技术的钢网图像自动配准系统。本发明技术方案不受配准产品的摆放位置和摆放角度的影响，具有配准精确、快速和简单高效的特点，同时有效的提高了配准成功率。
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公开(公告)号：CN106969833B
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201710177442.7
申请日：2017-03-23
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种大视场的紫外光探测系统，属于紫外光探测领域，其包括光学接收单元、光电传感器、电源模块、信号处理模块以及信号分析显示单元，其中，光学接收单元用于接收紫外光，光电传感器用于将光学接收单元接收的紫外光信号转换为电信号，电源模块与光电传感器相连接，以用于产生设定的电压供光电传感器工作，信号处理模块用于将来自光电传感器的电信号进行滤波或/和放大处理，信号分析显示单元用于分析经信号处理模块处理后的电信号，以获得表征紫外光的参数，信号分析显示单元还用显示出紫外光的参数。本发明装置能较好的探测GIS电晕放电。
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公开(公告)号：CN107782642A
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201710889301.8
申请日：2017-09-27
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 本发明公开了一种多峰值颗粒群粒径分布检测装置，属于光学测量领域，其包括微流控芯片、微流泵、激光器、第一聚焦透镜组、第二聚焦透镜组、圆盘调整架、光电探测器、数字相关器以及计算机，微流控芯片设置在圆盘调整架上，微流控芯片上设置有与微流泵连通的微流道，光电探测器设置在圆盘调整架上或者周边，第一聚焦透镜组用于将激光器的出射光进行准直和聚焦，第二聚焦透镜组用于将从样品池出射的散射光汇聚至光电探测器，数字相关器用于根据离散光子数获得所测角度处的光强自相关函数，计算机用于依据光强自相关函数反演获得样品的粒径。本发明装置易于实现、耗样量低、可实现原位测量以及同时对多个角度的动态散射光进行测量。
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公开(公告)号：CN107677573A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201710888708.9
申请日：2017-09-27
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0211
Abstract: 本发明公开了一种多峰值颗粒群粒径分布检测方法，属于光学测量领域，其包括如下步骤：S1采用微流泵产生包含待测颗粒群的流量稳定的流动液体，送入微流控芯片，微流通道作为待测颗粒群的样品池；S2激光器发出的光经第一组聚焦透镜后传输到微流控芯片的样品池，待测颗粒群液体发出散射光；S3散射光经过第二组聚焦透镜聚焦到光电探测器靶面上，光电探测器产生光电流；S4光电流进入数字相关器，获得多个散射角度处的光强自相关函数；S5光强自相关函数被执行数据处理，计算获得待测颗粒群的平均粒径分布函数。本发明方法可实现原位测量以及同时对多个角度的动态散射光进行测量，可获得更准确的多峰值颗粒群粒径分布。
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