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公开(公告)号:CN109425409B
公开(公告)日:2019-08-30
申请号:CN201810849689.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种高区分度的光电式液位测量装置,属于光电检测技术领域,其包括导光板、光源和斜耦合透镜,光源为激光,导光板用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板为实心整体,能透光,导光板液位面用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,且待测液体液位线落于导光板液位面内,导光板采光面处设置有导光微结构,导光微结构对光束具有较强散射作用,且能有效破坏光在导光板采光面的全反射,导光板入射面用于供激光光源入射进导光板,导光板出射面处具有吸光性能或者设置有透光结构,斜耦合透镜用于使激光光源以设定的角度入射至导光板内。本发明测量装置结构简单,过程区分明显,元器件价格低廉,测量精确可靠,维护方便。
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公开(公告)号:CN110763305B
公开(公告)日:2021-01-05
申请号:CN201810850019.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量方法,属于光电检测技术领域,其采用导光板与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板上用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置的面为导光板液位面,待测液体液位线落于导光板液位面内,通过待测液体液位改变导光板内光束的传输,使导光板内一部分的光束不发生全反射,从而改变导光板采光面出射光的光场,通过检测该出射光光场的变化,进而检测获得待测液体的液位,导光板上与导光板液位面相对且平行的面为导光板采光面。该方法基于已有的光学原理,利用导光板设计一种新型的光电式液位测量方法,该方法测量精确可靠,操作便利,能较好地在工程实践中运用。
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公开(公告)号:CN110763305A
公开(公告)日:2020-02-07
申请号:CN201810850019.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量方法,属于光电检测技术领域,其采用导光板与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板上用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置的面为导光板液位面,待测液体液位线落于导光板液位面内,通过待测液体液位改变导光板内光束的传输,使导光板内一部分的光束不发生全反射,从而改变导光板采光面出射光的光场,通过检测该出射光光场的变化,进而检测获得待测液体的液位,导光板上与导光板液位面相对且平行的面为导光板采光面。该方法基于已有的光学原理,利用导光板设计一种新型的光电式液位测量方法,该方法测量精确可靠,操作便利,能较好地在工程实践中运用。
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公开(公告)号:CN110361074A
公开(公告)日:2019-10-22
申请号:CN201810253307.0
申请日:2018-03-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位检测装置,属于液位检测技术领域,用于测量透明液体的液位高度,包括透明液体容器、光源、聚光柱透镜、滤光片、阵列光电检测器件以及信号采集处理单元,透明液体容器连通容置待测液体的本体容器,光源为发散光源,其位于透明液体容器的底部,光源发射出的发散光束用于从透明液体容器底部入射进入待测液体中,并从透明液体容器的侧壁出射,聚光柱透镜紧邻透明液体容器的外壁,滤光片设置在聚光柱透镜出射光方向上,阵列光电检测器件设置在滤光片出射光方向上,信号采集处理单元连接阵列光电检测器件,用于处理电信号,从而获得液位高度。本发明装置是一种高精度,结构简单,低成本的光电式液位检测装置。
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公开(公告)号:CN109425410B
公开(公告)日:2019-08-30
申请号:CN201810850033.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量装置,属于光电检测技术领域,导光板用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板为实心整体,能透光,导光板上具有导光板液位面和导光板采光面,导光板液位面用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,且待测液体液位线落于导光板液位面内,导光板采光面处设置有导光微结构,用于将导光板内的传输的光导出至导光板外,在不同于导光板液位面和不同于导光板采光面的地方向导光板入射光束,通过待测液体液位改变导光板内光束的传输,从而改变导光板采光面出射光的光场,通过检测该出射光光场的变化,进而检测获得待测液体的液位。本发明测量装置结构简单,元器件价格低廉,测量精确可靠,维护方便。
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公开(公告)号:CN109425410A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201810850033.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量装置,属于光电检测技术领域,导光板用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板为实心整体,能透光,导光板上具有导光板液位面和导光板采光面,导光板液位面用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,且待测液体液位线落于导光板液位面内,导光板采光面处设置有导光微结构,用于将导光板内的传输的光导出至导光板外,在不同于导光板液位面和不同于导光板采光面的地方向导光板入射光束,通过待测液体液位改变导光板内光束的传输,从而改变导光板采光面出射光的光场,通过检测该出射光光场的变化,进而检测获得待测液体的液位。本发明测量装置结构简单,元器件价格低廉,测量精确可靠,维护方便。
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公开(公告)号:CN110361074B
公开(公告)日:2020-09-08
申请号:CN201810253307.0
申请日:2018-03-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位检测装置,属于液位检测技术领域,用于测量透明液体的液位高度,包括透明液体容器、光源、聚光柱透镜、滤光片、阵列光电检测器件以及信号采集处理单元,透明液体容器连通容置待测液体的本体容器,光源为发散光源,其位于透明液体容器的底部,光源发射出的发散光束用于从透明液体容器底部入射进入待测液体中,并从透明液体容器的侧壁出射,聚光柱透镜紧邻透明液体容器的外壁,滤光片设置在聚光柱透镜出射光方向上,阵列光电检测器件设置在滤光片出射光方向上,信号采集处理单元连接阵列光电检测器件,用于处理电信号,从而获得液位高度。本发明装置是一种高精度,结构简单,低成本的光电式液位检测装置。
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公开(公告)号:CN110361073B
公开(公告)日:2020-07-10
申请号:CN201810253306.6
申请日:2018-03-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种基于液体波导的液位检测方法,涉及液位检测技术领域,用于测量透明液体的液位高度,其采用光电式液位检测装置进行检测,包括如下步骤:S1在无光条件下,测量阵列光电检测器件的光强曲线并保存,将其作为系统的暗电流噪声,S2开启光源,多次读取同一液位条件下阵列光电检测器件的光强曲线,对多次读取的光强曲线进行信号平均处理,以平滑光强曲线从而降低阵列光电检测器件带来的散粒噪声,S3处理获得待测液体的光强曲线,采用信号采集处理单元对待测液体光强曲线进行分析计算,分析计算过程中,减小所述暗电流噪声和散粒噪声,获得液位高度计算值。本发明检测方法操作方便、简单实用、成本低廉。
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公开(公告)号:CN110361073A
公开(公告)日:2019-10-22
申请号:CN201810253306.6
申请日:2018-03-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种基于液体波导的液位检测方法,涉及液位检测技术领域,用于测量透明液体的液位高度,其采用光电式液位检测装置进行检测,包括如下步骤:S1在无光条件下,测量阵列光电检测器件的光强曲线并保存,将其作为系统的暗电流噪声,S2开启光源,多次读取同一液位条件下阵列光电检测器件的光强曲线,对多次读取的光强曲线进行信号平均处理,以平滑光强曲线从而降低阵列光电检测器件带来的散粒噪声,S3处理获得待测液体的光强曲线,采用信号采集处理单元对待测液体光强曲线进行分析计算,分析计算过程中,减小所述暗电流噪声和散粒噪声,获得液位高度计算值。本发明检测方法操作方便、简单实用、成本低廉。
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公开(公告)号:CN109425409A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201810849689.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种高区分度的光电式液位测量装置,属于光电检测技术领域,其包括导光板、光源和斜耦合透镜,光源为激光,导光板用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板为实心整体,能透光,导光板液位面用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,且待测液体液位线落于导光板液位面内,导光板采光面处设置有导光微结构,导光微结构对光束具有较强散射作用,且能有效破坏光在导光板采光面的全反射,导光板入射面用于供激光光源入射进导光板,导光板出射面处具有吸光性能或者设置有透光结构,斜耦合透镜用于使激光光源以设定的角度入射至导光板内。本发明测量装置结构简单,过程区分明显,元器件价格低廉,测量精确可靠,维护方便。
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