测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118535397A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202410484618.3

    申请日:2024-04-22

    Abstract: 本公开涉及核心板检测领域,具体涉及一种测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质。根据本公开实施例提供的技术方案,通过在配置文件中定义针对不同类型核心板配置的多种测试方案,并在测试程序启动时将该配置文件定义的测试方案导入到测试系统中,在对待测核心板进行测试时,根据与待测核心板绑定的测试方案ID找到对应的测试方案,并使用该测试方案对待测核心板进行测试,测试流程按照测试方案内容自动进行,一方面,由于避免了测试过程中的人工操作,从而提高了测试的准确性,另一方面,实现了不用对测试程序进行修改只需通过一份测试程序执行多个测试方案的策略即可对不同类型或同种类型的待测核心板使用不同方案进行测试的技术目的,提高了测试程序的复用性。另外,用户可以根据需要增加、删除、修改描述文件中的测试方案的相关内容,从而提高了测试软件的灵活性和扩展性。

    单芯片集成式电流传感器及制造方法

    公开(公告)号:CN118362774A

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202410526979.X

    申请日:2024-04-29

    Abstract: 本发明涉及电子传感器领域,提供一种单芯片集成式电流传感器及制造方法。所述单芯片集成式电流传感器包括:电流测量单元、电磁感应取能单元以及无线通信单元,电流测量单元基于磁通门技术探测待测电流,电磁感应取能单元基于电磁感应原理产生感应电流,无线通信单元采用偶极子天线技术发送和接收信号;电流测量单元、电磁感应取能单元以及无线通信单元一体化集成于单芯片上。本发明的集成式电流传感器,可以利用微机电系统加工工艺将电流检测、取能、通信等功能结构一体化集成在单芯片上,可批量化生产,生产成本较低,且体积小、重量轻,有利于在长距离输电线路上进行大量布置。

    电磁式振动能量收集器、线圈切换控制电路及系统

    公开(公告)号:CN117713485A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311402927.3

    申请日:2023-10-26

    Abstract: 本发明实施例提供一种电磁式振动能量收集器、线圈切换控制电路及系统,属于电子技术领域。电磁式振动能量收集器包括:振动能量收集器本体以及线圈切换电路,振动能量收集器本体包括多组线圈;线圈切换电路包括模拟开关,线圈切换电路用模拟开关对多组线圈之间的连接方式进行切换,以改变振动能量收集器本体的输出电压。本发明通过基于模拟开关的线圈切换电路对振动能量收集器本体的多组线圈之间的连接方式进行切换,从而改变振动能量收集器本体的输出电压,解决现有的电磁式振动能量收集器无法灵活调节自身的输出电压的缺陷。

    电流互感器、回路状态巡检仪以及能源控制器

    公开(公告)号:CN116864280A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310815705.8

    申请日:2023-07-04

    Abstract: 本发明提供一种电流互感器、回路状态巡检仪以及能源控制器,属于电子技术领域。电流互感器包括:磁芯;一次绕组,一次绕组绕设于磁芯上;直流电流传感器,与一次绕组的异名端电连接,用于检测出流经一次绕组的电流中的直流分量;以及补偿绕组,与直流电流传感器的输出端电连接,用于基于直流分量产生的补偿直流磁场,抵消电流流经一次绕组产生的直流分量磁场。通过使用直流电流传感器检测一次侧输入电流中的直流分量,并将直流分量输出到补偿绕组,一次侧的补偿绕组所产生的补偿直流磁场与一次绕组中产生的直流分量磁场相抵消,使磁芯中的磁场只留有交流磁场,本发明可以不受一次侧的电流直流分量的影响,从而降低电流互感器的测量误差。

    测试方法、测试系统和计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115048256B

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202210978784.X

    申请日:2022-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括:创建预设对象以占用目标空间,目标空间为Java卡的存储空间的至少部分;获取第一空间参数,第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量;在完成对目标空间的占用后,执行测试流程以回收预设对象;获取第二空间参数,第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量;根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法,通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境,并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果,从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力,进而可评估Java卡的技术竞争力。

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