复合晶圆及其制造方法
    72.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117043910A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202280012407.9

    申请日:2022-02-08

    Inventor: 秋山昌次

    Abstract: 本发明提供一种复合晶圆的制造方法,该复合晶圆的制造方法具备以下阶段:准备支撑衬底,该支撑衬底为钽酸锂及铌酸锂的任一种,且实质上不极化;准备活性衬底,该活性衬底为贴合在支撑衬底的一面侧的钽酸锂及铌酸锂的任一种,且极化;对活性衬底注入离子而产生界面;将支撑衬底与活性衬底贴合;将贴合后的支撑衬底与活性衬底升温;以及在界面剥离活性衬底。另外,本发明还提供该复合晶圆。

    复合基板、表面弹性波器件及复合基板的制造方法

    公开(公告)号:CN109891747B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN201780066532.7

    申请日:2017-10-10

    Abstract: 本发明提供一种不需要发生金属杂质的扩散的高温工艺,散热性优异,并且相对于高频的损耗小的基板的制造方法及高热传导性基板。本发明的复合基板是具有压电单晶基板、支承基板以及设置在所述压电单晶基板与所述支承基板之间的中间层的复合基板。本发明的复合基板的特征在于,中间层为由无机材料构成的膜,其至少一部分为热合成二氧化硅。中间层可以沿着复合基板的接合面分为至少2层,与支承基板相接的第一中间层设为含有热合成二氧化硅的层为宜。

    复合基板及其制造方法
    75.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115315779A

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202180022997.9

    申请日:2021-04-01

    Inventor: 秋山昌次

    Abstract: 本发明提供一种复合基板以及制造该复合基板的方法,所述复合基板的待粘合的晶片具有足够小的表面粗糙度并且能够防止膜剥离的发生。本发明的复合基板(40)具有按列出顺序层叠的硅晶片(10)、夹层(11)和单晶硅薄膜或氧化物单晶薄膜(20a),并且在硅晶片(10)的位于夹层(11)一侧的部分中具有损伤层(12a)。

    复合基板及复合基板的制造方法

    公开(公告)号:CN108702141B

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN201780006333.7

    申请日:2017-01-06

    Abstract: 本发明提供一种在压电材料层和支承基板的贴合中能够得到充分的接合强度的复合基板及复合基板的制造方法。本发明提供一种复合基板,其具备:单晶支承基板,其以第一元素为主成分;氧化物单晶层,其设于单晶支承基板上,以除氧以外的第二元素为主成分;非晶质层,其设于单晶支承基板和氧化物单晶层之间,含有第一元素、第二元素及Ar,所述复合基板的特征在于,非晶质层具有:第一元素的比例比第二元素的比例高的第一非晶质区域和第二元素的比例比第一元素的比例高的第二非晶质区域,第一非晶质区域中所含的Ar的浓度比第二非晶质区域中所含的Ar的浓度高,且为3原子%以上。

    具备氧化物单晶薄膜的复合晶片及其制造方法

    公开(公告)号:CN107636801B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201680031978.1

    申请日:2016-06-01

    Abstract: 本发明提供一种复合晶片及其制造方法,复合晶片在支持晶片和氧化物单晶薄膜的贴合界面无破裂或剥落,且在支持晶片上的整个面转印有作为钽酸锂或铌酸锂的氧化物单晶的薄膜。所述方法包括:从表面注入氢原子离子或氢分子离子,从而在氧化物单晶晶片的内部形成离子注入层的工序;对氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面中的至少一者实施表面活化处理的工序;将氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面贴合而获得接合体的工序;在90℃以上且不会产生破裂的温度下对接合体进行热处理的工序;以及对经热处理的接合体的离子注入层赋予机械冲击的工序,且沿着离子注入层剥离而获得被转印于支持晶片上的氧化物单晶薄膜的工序。

    具备氧化物单晶薄膜的复合晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN107615448B

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN201680032041.6

    申请日:2016-06-01

    Abstract: 本发明提供一种复合晶片及其制造方法,复合晶片在支持晶片和氧化物单晶薄膜的贴合界面不易产生破裂或剥落,且在支持晶片上的整个面转印有作为钽酸锂或铌酸锂的氧化物单晶的薄膜。所述方法包括:从表面注入氢原子离子或氢分子离子,从而在氧化物单晶晶片的内部形成离子注入层的工序;对氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面中的至少一者实施表面活化处理的工序;将氧化物单晶晶片的经离子注入的表面和支持晶片的表面贴合而获得接合体的工序;在90℃以上且不会产生破裂的温度下对接合体进行热处理的工序;以及对经热处理的接合体赋予超声波振动,沿着离子注入层剥离而获得被转印于支持晶片上的氧化物单晶薄膜的工序。

    声表面波器件用复合基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN110957986A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201910846552.7

    申请日:2019-09-09

    Abstract: 本发明提供一种不易在电材料层的外周端产生瑕疵,并且不易产生从外周端的剥离的声表面波器件用的复合基板及其制造方法。声表面波器件用复合基板是压电材料单晶薄膜和支承基板在接合面处接合在一起的复合基板,其特征在于,支承基板具备闭合的第一轮廓线,接合面具备闭合的第二轮廓线,压电材料单晶薄膜具备闭合的第三轮廓线,在将第一轮廓线及第三轮廓线垂直地投影到包含接合面的平面时,第一轮廓线的投影映射像位于比第二轮廓线靠外侧,第三轮廓线的投影映射像位于比第二轮廓线靠内侧。

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