公开(公告)号：CN105911462A

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201610095251.1

申请日：2016-02-19

Applicant: 得克萨斯测试公司

Inventor： M·R·米迪尔

IPC: G01R31/319 ,  G01R31/3193

CPC classification number: G01R31/31926 ,  G01R31/31908 ,  G01R31/31905 ,  G01R31/3193

Abstract: 一种用于测试多个半导体集成电路器件的数字功能的自动测试设备，所述多个半导体集成电路器件同时连接到该设备，该设备生成适于测试至少一个器件的数据模式。数据模式的激励测试信号被复制并被分布到器件。器件对测试信号的期望响应信息也被复制并被分布到比较器，以将器件的实际响应与期望响应相比较。

公开(公告)号：CN103842835B

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201180073867.4

申请日：2011-09-28

Applicant: 英特尔公司

Inventor： K·A·鲍曼 ,  C·托库纳加 ,  J·W·查汉茨

IPC: G01R31/3193 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G06F1/10

CPC classification number: G01R31/31707 ,  G01R31/2642 ,  G01R31/2882 ,  G01R31/31725 ,  G01R31/31937 ,  G06F1/10

Abstract: 一种老化监控电路，提供对电路和/或电路通道中的老化和/或延迟的更准确的估计。该老化监控电路使用具有驱动和接收触发器（FF）和可调节复制电路（TRC）的单独的老化通道，来实现只通过应力晶体管或其它电路元件来传播的单转变DC应力通道延迟的测量。在老化监控电路中的有限状态机（FSM）被配置成响应于由接收FF输出的误差信号来调整由数字控制振荡器（DCO）输出的时钟信号的频率。误差信号响应于单转变DC应力通道延迟而产生，并因此实现对时钟信号的频率的调整以对应于延迟的量或影响。

公开(公告)号：CN103154755B

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201080068574.2

申请日：2010-08-12

Applicant: 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

Inventor： 马库斯·瑟陵 ,  迈克尔·伯劳恩

IPC: G01R31/3185 ,  G01R31/3193

CPC classification number: G01R31/3177 ,  G01R31/31703 ,  G01R31/31704 ,  G01R31/318547 ,  G01R31/318561 ,  G01R31/318566 ,  G01R31/318569

Abstract: 一种用于生成参考扫描链测试数据的测试装置包括测试图案生成器和输出数据修改器。该测试图案生成器通过将扫描链测试输入比特序列的预定数目个开始比特置换为预定的开始比特序列来修改该扫描链测试输入比特序列。此外，该测试图案生成器向被测设备提供被修改的扫描链测试输入比特序列。该输出数据修改器修改从该被测设备接收的且由该被修改的扫描链测试输入比特序列所引起的扫描链测试输出比特序列。该扫描链测试输出比特序列通过将扫描链测试输出比特序列的预定数目个结束比特置换为预定的结束比特序列来修改，以获得该参考扫描链测试数据。

公开(公告)号：CN101548167B

公开(公告)日：2012-11-07

申请号：CN200780033984.1

申请日：2007-07-13

Applicant: DFT微系统公司

Inventor： M·M·哈菲德

IPC: G01R31/3193

Abstract: 信号完整性测量系统和方法，其利用唯一时基发生技术来控制对一个或多个被测信号的采样。依据本公开内容所制造的时基发生器包括相位滤波器和调制电路，所述调制电路根据sigma-delta调制器的输出来生成快速变化的相位信号。所述相位滤波器从所述快速变化的相位信号中滤除不想要的高频相位分量。经滤波的信号被用来对一个或多个采样器进行时钟控制以便产生被测信号(一个或多个)的采样实例。所述采样实例接着使用适于被测信号类型(一个或多个)的任意一种或多种技术来进行分析。

公开(公告)号：CN1985182B

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN200480043541.7

申请日：2004-07-07

Applicant: 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司

Inventor： 约亨·里瓦尔

IPC: G01R31/3193

CPC classification number: G01R31/31703 ,  G01R31/31932

Abstract: 本发明涉及用于评估被测设备(DUT)的输出信号(1)的方法，其中所述被测设备(DUT)响应于自动测试装置(ATE)提供的输入信号而输出所述输出信号(1)，所述方法包括以下步骤：生成差值信号(4)，其代表所述被测设备(DUT)的所述输出信号(1)和参考信号(3)之差；分别在时钟周期(11a、11b)期间对所述差值信号(4)积分，从而生成积分差值信号(6)；以及针对各个时钟周期(11a、11b)期间要分配给所述被测设备(DUT)的所述输出信号(1)的位电平来评估所述积分差值信号(6)。

公开(公告)号：CN101500175B

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：CN200810057355.9

申请日：2008-01-31

Applicant: 联想(北京)有限公司

Inventor： 穆佳昆 ,  叶长春

IPC: H04N17/00 ,  G01R31/3193

Abstract: 本发明提供了一种数字显示接口的测试方法及装置，该方法包括：接收从数字显示接口输出的数字显示接口信号，该数字显示接口信号与一预设视频信号相对应；将数字显示接口信号解码为数字信号；存储数字信号；读取存储的数字信号，并比较数字信号与预设视频信号是否一致；如是，则确定数字显示接口正常；否则，确定数字显示接口异常。该装置包括：解码单元、存储单元及比较单元。本发明实施例的上述技术方案在测试过程中无需操作人员作出主观上的判断，实现了对数字显示接口的客观测试，提高了测试的效率和可靠性，减少了人力的耗费，且实现起来简单，无需再购买昂贵的显示器，由此大大降低了测试成本。

公开(公告)号：CN101057154B

公开(公告)日：2010-09-29

申请号：CN200580038643.4

申请日：2005-11-14

Applicant: NXP股份有限公司

Inventor： 罗杰·弗兰克斯·舒德尔特

IPC: G01R31/3193 ,  G01R31/319

CPC classification number: G01R31/31709 ,  G01R31/31922 ,  G01R31/31937

Abstract: 诸如DVI、S-ATA或PCI-Express之类的高速I/O接口(600)要求昂贵的测试设备。作为一种替代方案，广泛地使用环回测试，但是其缺少时间相关缺陷的覆盖范围。提出了一种使用具有可控幅度(501)和高精确性的可变延迟(203)用于芯片内抖动注入的系统和方法，改善了环回测试的覆盖范围。

公开(公告)号：CN101500175A

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200810057355.9

申请日：2008-01-31

Applicant: 联想(北京)有限公司

Inventor： 穆佳昆 ,  叶长春

IPC: H04N17/00 ,  G01R31/3193

Abstract: 本发明提供了一种数字显示接口的测试方法及装置，该方法包括：接收从数字显示接口输出的数字显示接口信号，该数字显示接口信号与一预设视频信号相对应；将数字显示接口信号解码为数字信号；存储数字信号；读取存储的数字信号，并比较数字信号与预设视频信号是否一致；如是，则确定数字显示接口正常；否则，确定数字显示接口异常。该装置包括：解码单元、存储单元及比较单元。本发明实施例的上述技术方案在测试过程中无需操作人员作出主观上的判断，实现了对数字显示接口的客观测试，提高了测试的效率和可靠性，减少了人力的耗费，且实现起来简单，无需再购买昂贵的显示器，由此大大降低了测试成本。

公开(公告)号：CN101410720A

公开(公告)日：2009-04-15

申请号：CN200780011314.X

申请日：2007-03-27

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： H·C·小克兰福特 ,  F·H·格巴拉 ,  J·D·肖布

IPC: G01R31/319 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3193

CPC classification number: G01R31/31709 ,  G01R31/31725

Abstract: 一种用于由时钟信号比较确定抖动与脉冲宽度的设备与方法提供了用于用基准时钟测量时钟信号-其均具有未知频率-的低成本且可产品集成的机构。在基准时钟转换时对测量得到的时钟信号进行采样，根据采样在时基周围的折叠，采样值被收集在直方图中，其中，时基被扫描以检测对于折叠数据的最小抖动，或由采样集的直接频率分析得到。对正确推定周期的直方图进行统计分析，以便得到脉冲宽度——其为概率密度函数的峰之间的差——以及抖动——其对应于密度函数峰的宽度。频率漂移通过调节用于在采样集中折叠数据的时基得到校正。

公开(公告)号：CN100422757C

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN02828015.6

申请日：2002-12-11

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 罗纳德·A·萨尔特谢维 ,  徐军

IPC: G01R31/3193 ,  G01R31/319 ,  G11C29/00

CPC classification number: G11C29/56012 ,  G01R31/3193 ,  G01R31/31937 ,  G11C29/56

Abstract: 一种精确的时间测量电路(100)。本设计目的在于作为CMOS集成电路实现，使该电路适用于高度集成的系统，诸如需要多个时间测量电路的自动测试设备。本电路使用延时锁定回路(210)产生多个信号，这些信号按时距D延时。该信号提供给一排延迟元件(230)，每一个延迟元件具有稍微不同的延时，第一个和最后一个延迟元件之间的延时的差大于D。通过寻找TAP信号中的一个与延时信号中的一个的重合获得了精确的时间测量结果。该电路相比于具有相同分支数目的基于传统延迟线的时间测量电路具有更高的精度。因此本电路提供了准确性和快的复用时间，并且更不易受噪声的影响。