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公开(公告)号:CN104778908A
公开(公告)日:2015-07-15
申请号:CN201410010137.5
申请日:2014-01-09
Applicant: 上海和辉光电有限公司
Abstract: 公开了一种薄膜晶体管电气特性测量方法,包括:用激光对显示器面板中邻近待测像素中的薄膜晶体管源极的数据线和邻近待测像素中薄膜晶体管栅极的栅线进行切割;用第一测试元件组探针和第二测试元件组探针分别扎入所述数据线和所述栅线的切开截面,并用第三测试元件组探针扎入所述待测像素中薄膜晶体管的漏极;通过向所述第一测试元件组探针、所述第二测试元件组探针或所述第三测试元件组探针施加所需电压,来测量所述薄膜晶体管的电气特性。采用本申请提供的测量方法,能够准确呈现面板中像素内TFT的电气特性,而且,能够准确定位薄膜晶体管本身的异常。
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公开(公告)号:CN102288892B
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201110162538.9
申请日:2011-06-16
Applicant: 美国博通公司
Inventor: 阿里亚·雷扎·贝扎特 , 阿玛德雷兹·罗弗戈兰 , 萨姆·齐昆·赵 , 吉泽斯·阿方索·卡斯塔涅达 , 迈克尔·伯尔斯
IPC: G01R31/27
CPC classification number: G01R31/2834 , G01R31/3025 , G01R31/311
Abstract: 本发明涉及半导体晶圆上形成的半导体元件以及用于同时无线测试半导体晶圆上形成的多个半导体元件的无线自动测试装置。半导体元件经由通用通信信道发送自带测试操作的相应结果给无线自动测试装置。多个接收天线从三维空间中的多个方向观测结果。无线自动测试装置确定一个或多个半导体元件是否按预期进行操作,并选择性地,可使用三维空间的性质来确定一个或多个半导体元件的位置。通过探测自带测试操作之前、过程中和/或之后半导体晶圆发射、发送和/或反射的红外能量,无线测试装置可额外确定半导体元件的性能。
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公开(公告)号:CN103779620A
公开(公告)日:2014-05-07
申请号:CN201310498940.3
申请日:2013-10-22
Applicant: 丰田自动车株式会社
Inventor: 野泽尭志
CPC classification number: G01R31/007 , G01R19/16542 , G01R31/362 , G01R31/3658 , H02J7/0014 , H02J7/0026 , Y02T10/7055 , H01M10/4207 , G01R31/27 , G01R31/36 , H01M10/482 , H02J7/00 , H02J7/0029
Abstract: 一种蓄电系统包括:多个串联连接的蓄电块(11),每个蓄电块包括至少一个蓄电元件;电压检测电路(40),其通过电压检测线路连接到每个所述蓄电块(11);保护电路,其包括通过所述电压检测线路与每个所述蓄电块(11)并联连接的过电压保护元件、以及与所述过电压保护元件串联连接的第一电阻器;放电电路,其通过所述电压检测线路与每个过电压保护元件并联连接,以及与所述第一电阻器串联连接,所述放电电路包括具有与所述第一电阻器相比更大电阻值的第二电阻器;以及控制器(50),其通过在所述蓄电元件未被连接到负荷时将放电的第一蓄电块(11A)的电压与未放电的第二蓄电块(11B)的电压进行比较,检测所述过电压保护元件中的异常。
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公开(公告)号:CN103777128A
公开(公告)日:2014-05-07
申请号:CN201310503834.X
申请日:2013-10-23
Applicant: 库卡实验仪器有限公司
Inventor: 米夏埃尔·朗汉斯 , 塞巴斯蒂安·策厄特鲍尔
IPC: G01R31/27
Abstract: 本发明涉及一种具有时钟电源(21)或其他时钟电路的电子装置(1)和一种用于测试电子装置的电源(21)的方法。电子装置包括电气负载(29)、时钟电源、至少一个脉冲变换器(41-44)和分析装置(10,39)。电源具有包括至少一个功率半导体开关(25,26)的功率部件(23)并通过交替地接通和断开至少一个功率半导体开关而由电压产生用于电气负载的时钟电压。功率部件具有至少一个电流通路(51-54),在电源运行时电流(i1)流经该电流通路。脉冲转换器(41-44)产生与流经电流通路的电流的绝对值和/或方向的变化相对应的信号。分析装置分析来自脉冲转换器的信号,并根据所分析的信号推断功率半导体开关的功能。
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公开(公告)号:CN103344866A
公开(公告)日:2013-10-09
申请号:CN201310184354.1
申请日:2013-05-17
Applicant: 湖南大学
CPC classification number: Y02E10/763
Abstract: 本发明公开一种永磁直驱式风力发电系统变流器的开路故障诊断方法,用于检测直驱式风电系统中变流器的某一个IGBT的开路故障,并判断故障器件所在位置。本方法包括故障的检测和故障的定位两个方面,依据故障时电流的变化特性,通过电流park变换矢量相位的变化检测变流器故障的发生,有效避免了因负载突变引起的误检测;机侧变流器故障IGBT的位置由电机三相平均电流park变换矢量相位所在区间确定,而网侧变流器的故障定位,则根据网侧各相电流值极性的正、负判断。该故障诊断方法与传统的诊断方法相比,节约了成本,操作方便,可靠性高,特别是对负载的突变具有很好的鲁棒性。
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公开(公告)号:CN102854449A
公开(公告)日:2013-01-02
申请号:CN201110182968.7
申请日:2011-06-30
Applicant: 上海晨兴希姆通电子科技有限公司
Inventor: 黄训刚
IPC: G01R31/27
Abstract: 本发明公开了一种LED灯阵缺亮检测装置及其检测方法,该装置包括:一导光板以及一个或多个第一LED灯;其中所述导光板具有相互对应的第一面和第二面,并且所述第一面面对一LED灯阵;所述导光板上对应于所述LED灯阵中每个LED灯的位置均具有一通孔;所述通孔在所述第一面的孔径大于所述通孔在所述第二面的孔径,而且所述通孔在所述导光板中的孔壁相对于所述第一面或第二面构成斜面;所述第一LED灯设置于所述导光板的侧边。本发明的LED灯阵缺亮检测装置通过将LED灯阵中LED灯的光源与所述LED灯阵缺亮检测装置中光源的混合,从而有效地提高了缺亮的LED的识别性,更加便于人员识别缺亮的LED,所以提高了人工的视觉检验的效率。
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公开(公告)号:CN102768334A
公开(公告)日:2012-11-07
申请号:CN201210239792.9
申请日:2012-07-10
Applicant: 刘海先
Inventor: 刘海先
Abstract: 本发明公开了一种电路分析仪的分析方法,涉及电路测试技术领域,所述方法包括以下步骤:S1:获得待测电路的直流电流和直流电压;S2:获得所述待测电路的第一交流电流和第一交流电压;S3:计算所述待测电路的直流电阻;S4:去除所述直流电阻对所述第一交流电流的影响,以获得去除影响后的第一交流电流;S5:计算与第一频率对应的第一阻抗,根据所述第一阻抗和直流电阻分析判断获得所述待测电路的电路结构、以及电路结构中的各个元件的参数。本发明的分析方法通过对电路进行检测、分析,实现了获得待测电路的电路结构、以及电路结构中的各个元件的参数。
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公开(公告)号:CN102565663A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201210015861.8
申请日:2012-01-17
Applicant: 天津大学
IPC: G01R31/27
Abstract: 本发明公开了一种光伏阵列故障诊断的方法,光伏阵列为M×N,每串有M个电池板以及P个电压传感器,P<M/L;当某串电压传感器测量值不在预设范围内时,判断只属于第r个电压传感器测量范围内的电池板是否发生故障,如果是,数据采集系统将故障电池板对应的编号发送至上位机;如果否,判断属于第r个和第r+1个电压传感器测量范围内的电池板是否发生故障,如果是,系统将故障电池板对应的编号发送至上位机;上位机接收并将编号显示给操作者;操作者根据编号,更换电池板;本方法通过特殊的连接方式在保证检测分辨度的基础上减少了传感器的数量,降低了故障诊断系统的成本;并且通过数据采集系统和上位机实现了对光伏阵列进行在线检测。
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公开(公告)号:CN101806853B
公开(公告)日:2012-02-22
申请号:CN201010165757.8
申请日:2010-05-07
Applicant: 许继集团有限公司
IPC: G01R31/27
Abstract: 一种高压晶闸管在线测试的方法及装置,晶闸管的缓冲电路由阻尼电阻与阻尼电容串联组成,触发电路是触发板,晶闸管的缓冲电路与触发板串联,并接在晶闸管阴极与阳极之间。设置一个测试电阻与晶闸管串联,一个继电器常开触头与测试电阻并联;设置电压采样模块与电流采样模块对晶闸管电压、晶闸管与测试电阻电压、流过测试电阻的电流进行测量。控制继电器开通与闭合,分别测量记录两次的电路参数数值,利用这些数值计算晶闸管的阻尼电阻与阻尼电容并判断晶闸管故障;在判断晶闸管无短路故障后,发出信号触发晶闸管,通过监测晶闸管级管压降来检测晶闸管触发功能。采用这种方法的装置,能够对晶闸管进行在线检测。
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