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公开(公告)号：CN103941170B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201310016951.3
申请日：2013-01-17
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 一种功能测试治具、系统及方法，所述功能测试治具，包含：介面模块以及测试控制模块。介面模块与待测模块相连接。测试控制模块控制介面模块，并与待测模块的自我测试单元通过介面模块沟通，以控制待测模块启动进行测试流程，并判断待测模块位于被动测试模式或主动测试模式。当待测模块位于被动测试模式时，测试控制模块传送至少一测试指令至自我测试单元进行测试。当待测模块位于主动测试模式时，测试控制模块被动地接收自我测试单元传送的控制指令及/或测试结果，以根据控制指令控制介面模块对待测模块进行测试及/或根据测试结果进行分析。
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公开(公告)号：CN104076270B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201310096110.8
申请日：2013-03-25
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 一种用于电压设定的测试机台，所述测试机台包含控制单元与滤波电路，其中控制单元电性连接滤波电路。控制单元包含现场可编程门阵列（FPGA），用以提供一脉宽调制控制信号；滤波电路用以接收脉宽调制控制信号，并输出至少一直流电压。本发明使用一低成本的FPGA来做到以Per Pin架构方式设定接脚驱动器与接收器的电压，对Per Pin架构的接脚卡（Pin Card）成本大幅降低。
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公开(公告)号：CN105629183A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410625965.X
申请日：2014-11-07
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/42
摘要： 本发明公开了一种三相电源检测装置、系统及方法。三相电源检测系统包含：数字控制单元、电力单元以及三相电源检测装置。数字控制单元产生波宽调变信号。电力单元根据波宽调变信号产生三相电源信号，三相电源信号包含第一、第二及第三相位电源信号。三相电源检测装置接收三相电源信号，以撷取第一、第二及第三电源信号各具有的相位以及频率，并根据第一、第二及第三电源信号的相位及频率检测第一、第二及第三电源信号的平衡状况。本发明的三相电源检测装置、系统及方法可快速的对三相电源信号的平衡状况进行检测。
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公开(公告)号：CN105553427A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201410598942.4
申请日：2014-10-30
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： H03F1/02 , H03K19/0175
摘要： 本发明公开了一种交流耦合放大电路。其包含第一电容、放大器、输入电阻和加速电阻。第一电容用来接收第一信号并输出第一信号中的交流信号。放大器用来放大交流信号以产生第二信号。输入电阻电性耦接第一电容。加速电阻通过开关电性耦接第一电容，其中加速电阻的电阻值远小于输入电阻的电阻值。在第一电容接收第一信号的初始期间，开关导通，并在初始期间后，开关断开。本发明的交流耦合放大电路，通过第一电容接收第一信号时，使得第一信号中的直流信号通过并联的输入电阻和加速电阻对第一电容快速充电，以达到快速滤除直流信号。然后，通过零点检测电路和耦合电路，可快速检测第二信号的零点位置，可减少稳定第二信号的时间。
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公开(公告)号：CN103528541B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201210229984.1
申请日：2012-07-04
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明揭露一种三维测量系统，包含测量平台、投影模块、取像模块以及控制单元。测量平台用以承载一待测物体。投影模块包含发光单元、遮光转盘、光栅单元以及光反射环型结构。发光单元大致位于该测量平台的一垂直轴线上并用以产生一光线。遮光转盘设置于该发光单元与该待测物体之间，该遮光转盘上开设有一孔洞，随着该遮光转盘转动，借此通过孔洞的光线依时序形成多个区段光线。光栅单元用以将通过该孔洞各区段光线转换为多个条纹光线。光反射环型结构用以将该些条纹光线分别反射至该待测物体上。
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公开(公告)号：CN105445295A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410677044.8
申请日：2014-11-21
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了一种检验系统及检验系统的控制方法，该检验系统包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装置包含承载器及转动机构。放置装置配置于放射源以及影像侦测器之间，且转动机构耦接于承载器。放射源以及影像侦测器被驱动以沿着预设路径移动，承载器用来承载至少一个物体，转动机构用来转动承载器。根据本发明公开的检验系统可改善待测物体被阻挡物挡住原先用来检测上述物体的X-ray射线，导致上述物体无法被X-ray分层照相法所检测的问题。
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公开(公告)号：CN102565603B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201010622347.1
申请日：2010-12-30
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/02
摘要： 本发明是有关于一种电性连接缺陷模拟测试方法，包含下列步骤：提供待测组件，待测组件包含多个接脚群组，各接脚群组包含多个信号接脚；使信号馈入装置传送零频率信号至各信号接脚，使仿真开路状态；对各信号接脚进行开路测试程序；使待测组件接脚群组的信号接脚与开关多组相连接；控制开关多组以使接脚群组其中之一的任二信号接脚进行电性连接，使模拟短路状态；以及相对电性连接的任二信号接脚进行短路测试程序。一种电性连接缺陷仿真测试系统亦在此被揭露。
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公开(公告)号：CN104022771A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201310064968.6
申请日：2013-03-01
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： H03K19/003
摘要： 一种具有反向驱动保护功能的测试设备在此揭露，其包含至少一驱动器与现场可编程门阵列（FPGA），其中驱动器电性连接现场可编程门阵列。现场可编程门阵列用以监测驱动器的输出电流，并对驱动器执行反向驱动保护（back-drive protection）功能，以保护被测器件。
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公开(公告)号：CN103575234A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201210252608.4
申请日：2012-07-20
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明揭露一种三维影像测量装置，包含测量平台、可动光学头、三维计算模块、移动模块以及校正控制模块。可动光学头中包含分光单元、投影模块、取像模块以及指示模块。测量平台用以承载待测物体。投影模块用以产生条纹图案光线至待测物体。取像模块包含多个取像单元分别以不同方向或角度面向待测物体，每一取像单元用以拍摄条纹图案光线下经待测物体反射形成的反射影像。指示模块用以发射对位光线至待测物体上形成对位标示。校正控制模块根据对位标示选择性驱动移动模块以移动可动光学头。
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公开(公告)号：CN103528541A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201210229984.1
申请日：2012-07-04
申请人： 德律科技股份有限公司
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明揭露一种三维测量系统，包含测量平台、投影模块、取像模块以及控制单元。测量平台用以承载一待测物体。投影模块包含发光单元、遮光转盘、光栅单元以及光反射环型结构。发光单元大致位于该测量平台的一垂直轴线上并用以产生一光线。遮光转盘设置于该发光单元与该待测物体之间，该遮光转盘上开设有一孔洞，随着该遮光转盘转动，借此通过孔洞的光线依时序形成多个区段光线。光栅单元用以将通过该孔洞各区段光线转换为多个条纹光线。光反射环型结构用以将该些条纹光线分别反射至该待测物体上。
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