电性连接缺陷仿真测试方法及其系统
摘要:
本发明是有关于一种电性连接缺陷模拟测试方法,包含下列步骤:提供待测组件,待测组件包含多个接脚群组,各接脚群组包含多个信号接脚;使信号馈入装置传送零频率信号至各信号接脚,使仿真开路状态;对各信号接脚进行开路测试程序;使待测组件接脚群组的信号接脚与开关多组相连接;控制开关多组以使接脚群组其中之一的任二信号接脚进行电性连接,使模拟短路状态;以及相对电性连接的任二信号接脚进行短路测试程序。一种电性连接缺陷仿真测试系统亦在此被揭露。
公开/授权文献
0/0