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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118960631A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410505730.0
申请日：2024-04-25
Abstract: 公开了用于二次电池的变形分析装置及其方法。具体地，公开了一种用于二次电池的变形分析装置和非破坏性分析方法，可以通过该变形分析装置和非破坏性方法使用计算机断层摄影(CT)图像来诊断二次电池的电极变形，该方法包括以下步骤：通过对二次电池执行计算机断层摄影(CT)成像来获得图像，使用来自图像的亮度差生成强度图，从强度图测量芯峰值FWHM(半峰全宽)或芯直径变化值，以及如果测量的芯峰值FWHM大于峰值参考值或芯直径变化值大于直径参考值，则确定电极组件变形。
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公开(公告)号：CN119826744A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202410970825.X
申请日：2024-07-19
IPC: G01B15/06 , G01R31/385
Abstract: 公开了用于分析二次电池的变形的方法和装置，其中，该二次电池具有被容纳在壳体中的电极组件。方法包括通过对二次电池执行计算机断层摄影(CT)成像来获得第一图像，从第一图像计算壳体的长直径和短直径的第一求和值，在多次对二次电池充电和放电以使二次电池劣化之后获得二次电池的充电和放电循环的次数，通过对劣化的二次电池执行CT成像来获得第二图像，从第二图像计算壳体的长直径和短直径的第二求和值，并且如果通过从第二求和值减去第一求和值而获得的值大于参考值，则确定电极组件变形。
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公开(公告)号：CN106410066A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610031433.2
申请日：2016-01-18
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01M2/02
CPC classification number: H01M2/0245 , H01M2/02 , H01M2/022 , H01M2/1016 , H01M2/1072 , H01M2/1077 , H01M2/0242 , H01M2/024
Abstract: 一种包括多个壳体的可再充电电池，包括：电池单元，具有容纳电极组件的内壳体和与所述内壳体组合的盖板；和容纳所述电池单元的外壳体，所述外壳体包括：上壳体，在所述上壳体的一侧具有开口；和下壳体，在面对所述上壳体的所述开口的一侧具有开口。
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公开(公告)号：CN119826743A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202410897946.6
申请日：2024-07-05
IPC: G01B15/06 , G01R31/385
Abstract: 一种用于分析二次电池的变形的方法和装置，二次电池具有电极组件，电极组件带有容纳在壳体中的接线片，该方法包括：通过对二次电池执行计算机断层扫描成像来获取第一图像；从第一图像计算接线片的第一位置；在对二次电池进行多次充电和放电使得二次电池劣化之后，获取二次电池的充电和放电循环次数；通过对劣化后的二次电池执行计算机断层扫描成像来获取第二图像；从第二图像计算接线片的第二位置；以及如果第一位置和第二位置之间的变化量大于参考值，则确定电极组件变形。
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公开(公告)号：CN118960632A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410536674.7
申请日：2024-04-30
IPC: G01B15/06 , G01R31/385
Abstract: 一种用于二次电池的变形分析装置和变形分析方法能够使用计算机断层扫描(CT)图像以非破坏性的方式准确地诊断二次电池的电极变形。用于二次电池的变形分析方法包括：对二次电池的第一区域和第二区域中的每个进行计算机断层(CT)扫描，以获取对应于第一区域的第一图像和对应于第二区域的第二图像；测量第一图像中的从电极组件的电极的卷绕前端到卷绕远端的第一角度，以及测量第二图像中的从电极组件的电极的卷绕前端到卷绕远端的第二角度；并且如果第一角度和第二角度之间的差值大于第一参考值，则确定电极组件变形。
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