高温红外头罩不同厚度材料热辐射特性高效测量系统及方法

    公开(公告)号:CN114646663A

    公开(公告)日:2022-06-21

    申请号:CN202210324793.7

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 高温红外头罩不同厚度材料热辐射特性高效测量系统及方法,属于热辐射测量技术领域。为了解决现有的采用数值模拟方法存在因为受到待测材料厚度以及测量误差的影响较大导致的重建结果精度交叉的问题。本发明沿辐射传递方向将红外头罩试件等分,根据辐射传输原理和能量守恒关系依次得到透过头罩材料第1层、第1~2层、……、1~n层的总辐射;随后基于能量法推演出厚度为Δ且温度为T的红外头罩材料的透过率和自身辐射与整个红外探测头罩的透过率和自身辐射之间所满足的代数关系。通过实验测量出厚度x的红外头罩的透射率和自身辐射等热辐射特性,基于代数关系计算单位厚度材料的的热辐射特性数据。主要用于获得红外头罩的热辐射特性。

    一种适用于微小通道板式换热器的侧入式封头结构

    公开(公告)号:CN113804029A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202111115247.4

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 一种适用于微小通道板式换热器的侧入式封头结构,属于换热器设备封头结构设计的技术领域。本发明是为了解决现有的优化的换热器直入式封头结构内压损过大的问题。本发明所述的一种适用于微小通道板式换热器的侧入式封头结构,所述的封头结构的整体构型分为入水段、渐扩段和导流段;所述的入水段的冷流体出口连接渐扩段的冷流体入口,渐扩段的冷流体出口连接导流段的冷流体入口;导流段的冷流体出口连接微小通道的冷流体入口;所述的导流段整体纵深逐渐减小。本发明主要用于连接换热器的微小通道,并将冷流体均匀分配到微小通道内。

    基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法

    公开(公告)号:CN106644852B

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201610907548.3

    申请日:2016-10-17

    Abstract: 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法,本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中,实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面,通过改变试件的厚度以及入射激光的波长,然后测量不同角度的时域透射及反射信号,然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型,在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。

    基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法

    公开(公告)号:CN106383072B

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201610907546.4

    申请日:2016-10-17

    Abstract: 基于多角度光散射‑透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法,涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中,实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明是利用连续稳态激光照射颗粒系统样品表面,通过在不同散射角度位置布置光学探测器,然后测量不同角度的稳态激光的散射光学信号强度以及半球透射信号,然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明适用于基于多角度光散射‑透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量。

    一种基于等离激元纳米结构的微流控芯片流量光控制方法

    公开(公告)号:CN109092378A

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201810776829.9

    申请日:2018-07-13

    CPC classification number: B01L3/50273 B01L2300/12 B01L2400/0454

    Abstract: 一种基于等离激元纳米结构的微流控芯片流量光控制方法,本发明涉及微流控芯片流量光控制方法。本发明的目的是为了解决现有微流控设备操作复杂,设备昂贵,且便携性较差以及光控微流体技术需要向微流体中加入其他介质,或使用特殊的微流道材料等,极大限制了微流控技术的应用范围的问题。过程为:一、计算得到不同尺寸,不同间隔以及不同材料的纳米棒阵列在不同入射激光强度和偏振方向下纳米棒阵列吸收截面,纳米棒阵列所在微流道内流体的温度场和流场分布情况;二、选取符合要求的纳米阵列;三、使用特性波长的激光照射选取的符合要求的纳米棒阵列,通过调节特性波长的激光强度和偏振方向调控微流道内流体的微流动。本发明用于微流控领域。

    同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法

    公开(公告)号:CN105319174B

    公开(公告)日:2018-01-30

    申请号:CN201510907097.9

    申请日:2015-12-09

    Abstract: 同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法,涉及同时获取半透明介质温度相关导热系数及吸收系数技术。测量过程中使用某波长连续激光照射待测样品,借助探测器测量待测样本的随时间变化的温度响应以及透射辐射强度,最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的导热系数及吸收系数。本发明通过建立导热系数及吸收系数随温度变化的半透明介质导热辐射耦合换热的正、反问题模型,在介质其他参数已知的前提下,提出了采用微粒群优化算法同时反演得到半透明介质温度相关导热系数及吸收系数的方法。本发明适用于航天、国防和民用工业。

    基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法

    公开(公告)号:CN103439283B

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201310412796.7

    申请日:2013-09-11

    Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法,属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面,利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号,最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。

    基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法

    公开(公告)号:CN103472036A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310455615.9

    申请日:2013-09-29

    Abstract: 基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法,本发明涉及基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法。它为了解决现有的基于透射、反射辐射信号测量的半透明介质辐射参数测量方法中测量方法复杂、速度慢、准确性差的问题。本发明通过将激光光源照射在待测半透明介质制的一侧表面,待测半透明介质制两侧均匀涂敷黑体涂层,均涂敷有黑体涂层的半透明介质的一侧表面,采用热电偶测温仪测量并记录介质两表面温度随时间的变化。根据两表面随时间变化的温度,通过逆问题算法获得待测半透明介质的吸收系数和散射系数。本发明适用于航空航天、军事、能源、化工、生物医疗及大气科学等多个领域。

    一种光场层析成像系统及火焰三维温度场重建方法

    公开(公告)号:CN119147101A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411182648.5

    申请日:2024-08-27

    Abstract: 一种光场层析成像系统及火焰三维温度场重建方法,它属于火焰温度测量技术领域。本发明解决了现有光场层析成像方法的温度场重建误差大的问题。本发明首先利用光场层析成像系统拍摄被测量火焰光场图像,将被测量火焰所在的空间区域划分为各个微元体,再从被测量火焰光场图像上的每个像素点开始进行火焰辐射光线追迹,并根据火焰辐射光线的追迹结果建立辐射传输方程组,并根据建立的辐射传输方程组得到重建方程组,基于热电偶的多点精确温度测量值信息来求解重建方程组得到火焰各个微元体的黑体光谱辐射强度,最后将各个微元体的黑体光谱辐射强度转换为各个微元体的温度,实现温度场重建。本发明方法可以应用于火焰三维温度场重建。

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