公开(公告)号：CN115495293A

公开(公告)日：2022-12-20

申请号：CN202211045263.5

申请日：2022-08-30

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王栋 ,  王健 ,  于锡宁 ,  魏斌 ,  成嵩 ,  刘辉志

IPC分类号： G06F11/22

摘要： 本发明实施例提供一种测试应用程序接口API的方法及系统，属于芯片或电路评价技术领域。所述API设于测试机，该方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。该方法实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。

公开(公告)号：CN114510217A

公开(公告)日：2022-05-17

申请号：CN202011457275.X

申请日：2020-12-10

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

发明人： 胡毅 ,  臧仕平 ,  高鹰 ,  杜鹏程 ,  成嵩 ,  白天宇 ,  闫天喻

IPC分类号： G06F7/72

摘要： 提供了一种处理数据的方法、装置和设备，能够在保证性能的基础上降低芯片的功耗。该方法包括：获取待处理数据；将该待处理数据划分为均等分成s个块；利用Karatsuba算法，将该s个块中的第i个块的数据和该第i个块的数据相乘，以得到多个第一数据，0≤i≤s‑1；基于该第i个块的数据和该s个块中第j个块的数据，得到多个第二数据，i+1≤j≤s‑1；基于该多个第一数据和该多个第二数据，确定该待处理数据和该待处理数据的乘积；基于该待处理数据和该待处理数据的乘积，进行蒙哥马利模乘运算，以得到处理结果。通过平方算法和Karatsuba算法，能够在保证性能的基础上，减小芯片的功耗。

公开(公告)号：CN114281594A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202111392044.X

申请日：2021-11-23

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

发明人： 李娜 ,  李建阳 ,  赵东艳 ,  邵瑾 ,  胡晓波 ,  杜鹏程 ,  成嵩 ,  刘浩

IPC分类号： G06F11/10 ,  G06F11/14 ,  G06F11/30

摘要： 本发明公开了一种芯片的实时检测方法、装置及芯片、存储介质，所述方法包括：在接收到任一检测电路发送的报警信号时，分别采用第一校验算法和第二校验算法对所述报警信号进行校验运算，得到第一校验信号和第二校验信号，所述检测电路与所述芯片各模块对应设置；在所述第一校验信号和所述第二校验信号比对失败时，触发所述芯片进行复位操作或自毁操作；通过采用第一校验算法和第二校验算法对报警信号进行校验运算，并将不同的校验信号的状态进行比对，在状态不一致时确定报警信号被攻击，并将报警信号反馈至应用，具有可抵抗多点故障攻击的效果。

公开(公告)号：CN112100013B

公开(公告)日：2021-09-21

申请号：CN202011290441.1

申请日：2020-11-18

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

发明人： 王栋 ,  魏斌 ,  成嵩 ,  胡晓波 ,  窦志军 ,  徐靖林

IPC分类号： G06F11/22

摘要： 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。