一种基于线偏振光和条纹反射的表面三维重建方法

    公开(公告)号:CN113108720B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202110369458.4

    申请日:2021-04-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于线偏振光和条纹反射的表面三维重建方法,当投影设备加载均匀照明图案时,调旋转相机前的线偏振片采集四张偏振图像计算线偏振度;当投影设备投影编码图案时,偏振片方向固定,采集多张经过物体表面面型调制的反射编码图像。信息处理设备配置为采集四张偏振图像,计算反射光线偏振度并分析天顶角分布;采集经过物体表面面型调制的反射编码图像,通过图像处理和解码过程得到相互匹配的投影设备发光点与相机像素点;将偏振分析得到的天顶角分布与入射平面三角形几何约束条件融合,得到物体表面法线信息,并通过对表面梯度积分重建物体面型。本发明消除偏振三维重建中天顶角二义性误差问题,并显著降低硬件成本和操作复杂度。

    一种基于偏振复用的微波光子雷达收发终端功能集成方法

    公开(公告)号:CN115412172A

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202210804387.0

    申请日:2022-07-08

    Abstract: 本发明提出了一种基于偏振复用的微波光子雷达收发终端功能集成方法,用于解决现有方法中,由于雷达探测信号的产生和回波信号的接收终端由独立的部分实现,导致链路体积大、难于集成和易受外界干扰的问题。本发明利用偏振复用双驱动马赫‑曾德尔调制器的两个正交偏振态分别实现雷达探测信号的产生与目标回波信号的接收操作。通过调谐直流偏置电压,使上路子调制器工作在最大传输点,完成二倍频线性调频信号的产生,并为回波信号的去斜接收操作提供了必要的参考光信号。接下来,利用下路子调制器将目标回波信号调制到光载波上,并调谐其直流偏置电压,使其工作在正交偏置状态,为后续的光域去斜操作提供了前期基础。最后,利用偏振控制器和起偏器将参考光信号与回波光信号的偏振态混合,完成目标回波信号的去斜处理,实现目标距离信息的求解。

    一种基于振镜扫描系统的太赫兹计算层析三维成像方法

    公开(公告)号:CN115078299A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210164446.2

    申请日:2022-02-22

    Abstract: 本发明涉及一种基于振镜扫描系统的太赫兹计算层析三维成像方法,通过振镜扫描系统使得太赫兹光束快速转向,从而提供高质量且均匀的阵列太赫兹波光束,通过振镜畸变矫正方法使得经过振镜偏转的太赫兹波光束都能垂直穿透样品,进而在面阵探测器中获取到强度信息,最后使用计算层析重建算法,重建出无扫描畸变的样品三维内部结构吸收图。相比传统点扫太赫兹计算层析成像技术,该发明保证了重建质量的同时又提高了成像速度,是一种高保真度、快速的新型连续太赫兹波计算层析三维成像解决方案。

    一种基于铌酸锂薄膜的偏振滤波型强度调制器

    公开(公告)号:CN115016154A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210401293.9

    申请日:2022-04-15

    Abstract: 本发明涉及一种基于铌酸锂薄膜的偏振滤波型强度调制器,调制器集成在同一芯片上,具有滤波和强度调制的功能。包括光波导、强度控制中心电极和强度控制地电极。光波导由光波导层制成,本发明对光波导层进行了改进,改进之处在于在光波导层中的铌酸锂层上面采用沉积氮化硅形成氮化硅加载条层;光波导从功能结构上划分为Y波导分束器和Y分支合束器,Y波导分束器前端直波导上增加滤波金属银覆层构成具有偏振滤波功能的光波导,经过滤波后的光波由Y波导分束器等分为平行两路波导,强度控制中心电极置于平行两路波导之间,平行两路波导外侧各设置一个强度控制地电极,强度控制中心电极和强度控制地电极构成幅度控制器电极,用于强度调制;两路光经过强度调制后,由Y分支合束器进行合束输出。

    一种基于单晶铌酸锂薄膜的偏振滤波型相位调制器

    公开(公告)号:CN114740642A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210401224.8

    申请日:2022-04-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于单晶铌酸锂薄膜的偏振滤波型相位调制器,可应用于光通信、光计算、微波光子技术等,属于集成光学领域。本发明器件结构主要是铌酸锂薄膜(LNOI)上沉积氮化硅构成加载条型直波导、直波导上前端做金属银覆层构成具有偏振滤波功能的波导结构,以及在波导后端两侧设置相位控制电极结构。本发明的结构设计可同时实现偏振滤波和相位调制,使整个结构更为紧凑、高效,更有利于实现光路集成。

    一种连续太赫兹波多物面叠层相衬成像方法

    公开(公告)号:CN110987861B

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN201911277688.7

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种连续太赫兹波多物面叠层相衬成像方法,该方法包括采集携带多层被测样品信息的衍射图案,利用多物面叠层重建算法重建照明光束的复振幅分布及被测多层样品的复振幅透过率函数,从而得到多层样品的幅值及相位分布,获得样品的吸收系数及折射率分布。同时,利用连续太赫兹波多物面叠层相衬成像对多层被测样品进行大视场、无损、快速成像;该方法无需成像透镜,系统搭设简单,数据采集操作方便,并且待测多层样品尺寸不受照明光束尺寸及探测器靶面尺寸限制。

    一种基于相干光源的共光路数字全息的折射率全场动态测量方法

    公开(公告)号:CN113866129A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202110985867.7

    申请日:2021-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于相干光源的共光路数字全息的折射率全场动态测量方法,通过共光路全内反射全息实现的折射率全场动态测量方法。通过二维傅里叶变换获得全息图的频谱,得到经过样品后相位,计算出物平面处复振幅分布,并进而得到经过样品后相位;根据计算分布和全内反射角可以得到样品折射率信息;该方法通过设计菲涅耳双全内反射棱镜,通过共光路离轴菲涅耳全息的方法记录全息图,并根据全息图重现的相位改变量计算出菲涅耳双反射棱镜中样品池内的动态折射率变化。

    基于微波四倍频的上转换光子方法及系统

    公开(公告)号:CN109617615B

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201811579572.4

    申请日:2018-12-24

    Abstract: 基于微波四倍频的上转换光子方法及系统,属于微波光子学领域。首先,激光器产生的光载波输入第一个双平行马赫‑曾德尔调制器中,本振信号调制上臂子调制器,通过调整调制器的直流偏置使其工作在载波抑制的最大传输点。随后,被调制的光信号经过光环形器进入光纤光栅,利用光纤光栅的波长选择性将本振的+2阶光边带透射并作为载波进入第二个双平行马赫‑曾德尔调制器中,将本振的‑2阶光边带反射通过光环形器收集。然后,中频信号通过90度电桥加载到第二个双平行马赫‑曾德尔调制器中,通过直流偏置实现载波抑制单边带调制。最后,两路光路合路对光信号进行功率放大,补偿调制器的插入损耗。并利用光电探测器拍频得到四倍频上转换信号。

    一种微波光子线性化传输方法与系统

    公开(公告)号:CN109617614B

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201811579391.1

    申请日:2018-12-24

    Abstract: 本发明提供一种微波光子线性化传输方法与系统,属于微波光子学领域。首先,由激光器产生的光载波输入到偏振复用的双平行马赫增德尔调制器(PM‑DPMZM)调制器中。所需要传输的双音射频(RF)信号通过180度电桥获得两个功率相等,相位差为π的信号,将电桥输出的两个信号分别加入到PM‑DPMZM调制器的上下两臂中的DPMZM‑1和DPMZM‑2中。通过调整调制器中六个偏置电压,达到二阶和三阶非线性失真的抑制,并且可以通过调整调制器中偏置电压,可以调整系统达到二阶或三阶的最优抑制效果。最后,调制器输出的光信号进入掺铒光纤放大器进行功率放大,补偿链路中的插入损耗,并进入光电探测器拍频获得系统所传输的信号,该方法有效的抑制了微波光子链路的非线性失真。

    一种高分辨率数字全息衍射层析成像

    公开(公告)号:CN108519728A

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201810145657.5

    申请日:2018-02-12

    Abstract: 一种高分辨率数字全息衍射层析成像,属于数字全息技术和衍射层析成像领域。由数字全息衍射层析成像装置,利用合成孔径方法得到N幅合成高分辨率全息图,进而获得被测样品的高分辨率三维折射率再现。为了提高系统的成像分辨率,将合成孔径方法引入到数字全息衍射层析成像系统中,利用二维电动平移台移动CCD,采集原始全息图周围的高频信息,当振镜角度为θ时,记录M×M(M≥3)幅子全息图,将M×M幅子全息图进行强度配准和图像错位亚像素微位移等处理,得到一幅合成高分辨率全息图。通过数字全息衍射层析方法和合成孔径方法相结合实现高分辨率的三维成像。数字全息衍射层析成像系统能够实现非接触、无标记、无损、三维层析成像测量。

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