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公开(公告)号：CN108613956A
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201810440691.5
申请日：2018-05-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428
Abstract: 一种气体检测装置、传感器、光子晶体及其制备方法，属于传感器领域。用于作为传感器的敏感元件的光子晶体包括第一单元和第二单元。第一单元为连续相，第一单元内均匀分布有多个孔隙，第二单元为分散相，第二单元分散在第一单元的多个孔隙内，第二单元与第一单元的介电常数不同，第二单元能够与传感器的气体检测装置作用而改变光子晶体的光学特性。利用光子晶体传感器能够实现对气体材料的响应，从而完成对气体的检测。
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公开(公告)号：CN108445615A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201810272728.8
申请日：2018-03-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本申请提供一种光学元件面散射缺陷探测装置，包括载物台、照明系统及成像系统，其中，载物台用于承载和移动待测光学元件，以使待测光学元件的被测位置位于成像系统的视场中心，照明系统包括固定架和多个发光单元，固定架在载物台所在平面的投影的中心落在载物台，多个发光单元固定于固定架，以使多个发光单元发出的光会聚于被测位置，成像系统用于拍摄被测位置。本申请提供的光学材料面散射缺陷探测装置可实现对光学元件表面散射缺陷进行多角度照明，可在提高表面散射缺陷成像质量的同时大大降低缺陷的漏检概率。
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公开(公告)号：CN105717127A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610081864.X
申请日：2016-02-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8806
Abstract: 本发明提供了一种光热弱吸收测试装置及方法，属于光学元件吸收率的测试技术领域，所述光热弱吸收测试装置包括第一光源、第二光源、微调平台及探测器，待测样品放置于所述微调平台上。通过微调平台调节待测样品的位置，使所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述待测样品的预设待测点，使所述第二光源发出的探测光也经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述预设待测点，且所述探测光的聚焦光斑面积大于所述泵浦光的聚焦光斑面积，透过所述待测样品的探测光入射至所述探测器。本发明实施例提供的光热弱吸收测试装置及方法有效地实现了对光纤或光纤预制棒等折射率呈轴对称分布的光学结构的光热弱吸收特性的测试。
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公开(公告)号：CN209280585U
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201821972030.9
申请日：2018-11-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本实用新型提供了一种缺陷检测设备，通过激光发射装置发出探测光，并使探测光辐照到待测样品上，形成信号光，然后通过分光装置将信号光中包含的散射光和荧光进行分离，使得荧光入射到第一探测装置成像，散射光入射到第二探测装置成像，得到荧光图像信息以及散射光图像信息，以便进一步分析采集到的荧光图像信息和散射光图像信息，得到待测样品的表面缺陷信息以及亚表面缺陷信息。通过本实用新型提供的缺陷检测设备有利于实现对待测样品的亚表面缺陷的无损检测，而且能够同时实现对待测样品的表面缺陷的无损检测，有利于节约缺陷检测的测试时间，提高测试效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN208156291U
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201820440975.X
申请日：2018-03-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本申请提供一种光学元件面散射缺陷探测装置，包括载物台、照明系统及成像系统，其中，载物台用于承载和移动待测光学元件，以使待测光学元件的被测位置位于成像系统的视场中心，照明系统包括固定架和多个发光单元，固定架在载物台所在平面的投影的中心落在载物台，多个发光单元固定于固定架，以使多个发光单元发出的光会聚于被测位置，成像系统用于拍摄被测位置。本申请提供的光学材料面散射缺陷探测装置可实现对光学元件表面散射缺陷进行多角度照明，可在提高表面散射缺陷成像质量的同时大大降低缺陷的漏检概率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN211889499U
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN202020455209.8
申请日：2020-04-01
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B23K26/60
Abstract: 本实用新型提供了一种激光预处理系统，该系统包括：激光脉冲产生装置以及用于放置目标光学元件的样品台，其中，激光脉冲产生装置包括激光器、幅度调制器以及波形发生器。激光器产生种子激光的输入到幅度调制器，经过幅度调制器在波形发生器产生的预设整形电脉冲驱动下的调制处理，形成预设整形激光脉冲，并照射到所述样品台上放置的目标光学元件上，对所述目标光学元件表面进行激光预处理，有效地提升了对目标光学元件的激光预处理效果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN208156292U
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201820441013.6
申请日：2018-03-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本申请提供一种光学元件体散射缺陷探测装置，光学元件为长方体结构，包括多个光束照射面；光学元件体散射缺陷探测装置包括光源、三维平移台、分光单元、照明系统及成像系统，光源用于发出光束L0；三维平移台用于承载和平移光学元件；分光单元用于将光束L0分为两束光束；照明系统用于将两束光束分为多束光束后垂直入射多个光束照射面，以形成多光束交叠照明区域；成像系统用于对多光束交叠照明区域进行成像。本申请提供的光学材料体散射缺陷探测装置可实现对体缺陷多角度照明，从而获得材料体内大部分缺陷的清晰成像，对于判断材料质量具有重要参考价值。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN205880274U
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201620882010.7
申请日：2016-08-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B6/02
Abstract: 本实用新型公开了一种高双折射复合光子晶体光纤，包括：纤芯和环绕于纤芯的包层，所述包层中设置有多个第一空气孔，多个所述第一空气孔以所述纤芯为中心从内至外依次环绕纤芯，所述第一空气孔的结构相同，所述纤芯包括基底材料和设置于基底材料内的第二空气孔，所述第二空气孔与所述第一空气孔之间设置有第三空气孔。本实用新型中所述第二空气孔与所述第一空气孔之间设置有第三空气孔，光纤结构不具备旋转对称性，不存在简并的正交偏振模，从而表现出很高的双折射。同时由于纤芯中空气孔的引入，太赫兹波有很大部分能量在低损耗空气孔中传输，大大降低了光纤的损耗，具有结构简单和容易实现等优点。
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公开(公告)号：CN205880273U
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201620881365.4
申请日：2016-08-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B6/02
Abstract: 本实用新型公开了一种高双折射低损耗光子晶体光纤，包括：纤芯和环绕于纤芯的包层，所述包层中设置有多个第一空气孔，多个所述第一空气孔以所述纤芯为中心从内至外依次环绕纤芯，所述第一空气孔的结构相同，所述纤芯包括基底材料和设置于基底材料内的第二空气孔，所述第二空气孔呈类椭圆状。本实用新型由于纤芯中引入了非对称的类椭圆的第二空气孔，该结构不具备旋转对称性，不存在简并的正交偏振模，从而表现出很高的双折射。同时由于纤芯中第二空气孔的引入，太赫兹波有很大部分能量在低损耗空气孔中传输，大大降低了光纤的损耗，具有结构简单和容易实现等优点。
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公开(公告)号：CN205538713U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201620117076.7
申请日：2016-02-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型提供了一种光热弱吸收测试装置，属于光学元件吸收率的测试技术领域，所述光热弱吸收测试装置包括第一光源、第二光源、微调平台及探测器，待测样品放置于所述微调平台上。通过微调平台调节待测样品的位置，使所述第一光源发出的泵浦光经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述待测样品的预设待测点，使所述第二光源发出的探测光也经过所述待测样品的中心轴且聚焦到所述预设待测点，且所述探测光的聚焦光斑面积大于所述泵浦光的聚焦光斑面积，透过所述待测样品的探测光入射至所述探测器。本实用新型实施例提供的光热弱吸收测试装置有效地实现了对光纤或光纤预制棒等折射率呈轴对称分布的光学结构的光热弱吸收特性的测试。
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