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公开(公告)号：CN114646975A
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202210225255.2
申请日：2022-03-07
Applicant: 清华大学
Abstract: 本申请涉及一种局部多发多收天线阵列、实时成像系统和实时安检装置，所述天线阵列包括：多个发射天线模块、多个接收天线模块和光波收发机，其中，多个发射天线模块和多个接收天线模块分别与光波收发机连接，多个发射天线模块与多个接收天线模块在一条直线上间隔排列。光波收发机用于产生第一光波束，发射天线模块用于发射第一光波束，第一光波束被待测目标反射形成第二光波束，光波收发机还用于控制与发射天线模块相邻的接收天线模块接收第二光波束。采用上述局部多发多收天线阵列、实时成像系统和实时安检装置可以得到更全面的待测目标的图像信息，提高成像系统的图像清晰度。
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公开(公告)号：CN110864805B
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN201911017236.5
申请日：2019-10-24
Abstract: 本发明提供一种超宽带光谱探测装置和方法，其中的装置包括基底以及设置在基底上的至少一个探测单元；其中，探测单元包括设置在基底上的沟道材料层以及间隔设置在沟道材料层上的两个金属电极；两个金属电极包括源极电极和漏极电极；两个金属电极分别与沟道材料层的纵向方向的两端进行欧姆接触，金属电极与沟道材料层形成异质结。利用上述发明能够实现紫外至太赫兹波段的超宽带光谱探测，灵敏度高、响度速度快。
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公开(公告)号：CN110927739B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201911113273.6
申请日：2019-11-14
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种用于轮廓标记的毫米波太赫兹多极化成像方法以及一种毫米波太赫兹成像系统。通过该成像系统获取人体在k种线极化角度下的亮温图像，之后对该亮温图像进行降噪处理和/或插值处理，然后将亮温图像转化为完全水平极化亮温图像TAh和完全垂直极化亮温图像TAv，之后根据TAh和TAv计算生成可调线极化比图像ALPR，最后根据图像ALPR的图像统计特性计算分割阈值δ，并将图像ALPR中像素值不小于δ的像素进行标记，最终可以获取人体以及人体携带的藏匿物品的轮廓图像。本发明通过利用隐匿物品和人体太赫兹热辐射的极化特性差异，来增强隐匿物品并标记隐匿物品轮廓边缘，比传统的基于亮温灰度差异检测方法具有更好的鲁棒性，且处理算法简单高效。
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公开(公告)号：CN109494293A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811631501.4
申请日：2018-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种太赫兹探测器及其制造方法，该太赫兹探测器包括基底；以及至少一个探测单元，每个所述探测单元均包括：沟道材料，所述沟道材料设置在所述基底上，两个电极，两个所述电极分别与所述沟道材料的纵向方向的两端欧姆接触，和三维石墨烯，所述三维石墨烯与所述沟道材料直接或间接地热接触。本公开所提出的探测器通过将三维石墨烯作为吸收体，解决了沟道材料对太赫兹波吸收不足的问题，从而有效地提高了探测器的响应灵敏度。
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公开(公告)号：CN102759753A
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN201110110590.X
申请日：2011-04-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V3/12
CPC classification number: G01N21/3581 , G01J3/0237 , G01N21/3563 , G01V8/005
Abstract: 本发明涉及隐藏危险品检测方法及设备。本发明的隐藏危险品检测方法包括：对被测物体进行太赫兹成像；判断太赫兹成像得到的被测物体太赫兹图像中是否存在藏有危险品的可疑区域；对藏有危险品的可疑区域进行多波长光谱分析测量，根据多波长光谱分析测量结果鉴别所述可疑区域中是否包含危险品；以及输出被测物体图像和危险品检测结果。还披露了一种用于实施本发明的隐藏危险品检测方法的设备。本发明的隐藏危险品检测方法及设备可同时从形状特征和物质成分的角度实现对隐藏危险品的鉴别，检测准确性大大增加。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101526464B
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200810101353.5
申请日：2008-03-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N21/3581
Abstract: 公开了一种通过衍射光栅获得物体在连续波太赫兹辐射照射下相衬图像的方法和设备。该方法包括步骤：用相干太赫兹辐射照射物体以与物体相互作用；使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅；沿衍射光栅波矢方向平移衍射光栅，以便针对不同的光栅位置，在衍射场内测量与物体和光栅作用之后的太赫兹辐射的光强分布；以及根据光强分布恢复出物体的相衬图像。同现有技术相比，本发明的方法具有增强弱吸收物质太赫兹成像质量的本领，本发明的设备具有结构紧凑、操作简单的优点。
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公开(公告)号：CN101526464A
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200810101353.5
申请日：2008-03-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N21/3581
Abstract: 公开了一种通过衍射光栅获得物体在连续波太赫兹辐射照射下相衬图像的方法和设备。该方法包括步骤：用相干太赫兹辐射照射物体以与物体相互作用；使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅；沿衍射光栅波矢方向平移衍射光栅，以便针对不同的光栅位置，在衍射场内测量与物体和光栅作用之后的太赫兹辐射的光强分布；以及根据光强分布恢复出物体的相衬图像。同现有技术相比，本发明的方法具有增强弱吸收物质太赫兹成像质量的本领，本发明的设备具有结构紧凑、操作简单的优点。
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公开(公告)号：CN101210874A
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200610171670.5
申请日：2006-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/4531 , G01N21/3586
Abstract: 一种测量太赫兹时域光谱的方法及设备，涉及太赫兹时域光谱领域。该方法包括步骤：以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，用于产生太赫兹脉冲；以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束；测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。同现有技术相比，本发明在保持高探测带宽的同时能保持高的频谱分辨力，从而使装置鉴别物质的能力优于其它同类装置。
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公开(公告)号：CN210534350U
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201822275832.0
申请日：2018-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210956702U
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201921828855.8
申请日：2019-10-29
IPC: H01L31/109 , H01L31/032 , G01J1/44 , G01J1/42
Abstract: 本文公布了一种探测单元和超宽带光探测器，探测单元包括NbS3晶体片和两个电极，两个所述电极分别设置在所述NbS3晶体片的长度方向两端，且分别与所述NbS3晶体片形成欧姆接触。超宽带光探测器包括上述的探测单元，以及用于采集所述探测单元上电势差数据的探测电路，两个所述电极分别与所述探测电路电连接。本文涉及一种探测单元和超宽带光探测器，可克服探测带宽窄的问题，其探测的带宽能从紫外覆盖到太赫兹波段，具有超宽探测带宽，并且其还具有高速灵敏的优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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