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公开(公告)号：CN100539345C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200410072623.6
申请日：2004-11-04
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 本发明涉及一种漏电突变动作无死区断路器及其运行方法，包括单片机、零序电流互感器、漏电信号放大电路、电源、漏电脱扣器和空气断路器，其中单片机的操作程序为：(1)初始化，(2)测剩余电流的幅值和相角，(3)判断剩余电流是否大于动作值，大于时发出漏电脱扣指令，(4)计算突变漏电电流值，(5)判断突变漏电电流值是否大于动作值，大于时发出漏电脱扣指令。该指令使漏电脱扣器动作，带动空气断路器切断故障电路，得到漏电突变动作无死区保护。本发明还可添加漏电模拟发生电路和/或漏电电流显示电路辅助组成部分，还可以对漏电电流进行三相分解，并通过数码管分别显示出各相漏电电流，方便了对各相漏电情况的分析与判断，找出最大漏电相线。
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公开(公告)号：CN100368819C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200410094145.9
申请日：2004-12-31
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明涉及一种漏电保护器可靠性试验装置，由试验控制柜，试品柜，带有移出式操作机构的调温调湿箱组成；试验控制柜包括工业控制用计算机和触头状态检测电路以及漏电电流调节电路；试品柜包括漏电保护器试品、试品手柄操作机构和手柄合/分闸驱动电路；本装置利用工业控制用计算机、触头状态检测电路和数据采集电路等模块化电路对漏电保护器的手柄操作、操作机构操作及触头接触可靠性以及漏电保护可靠性进行自动操作与测试。本发明解决了如何用工控机控制漏电保护器的合/分闸操作，以及准确判断在合/分闸操作过程中，漏电保护器内部操作机构及电气连接的真实的可靠性水平等问题。
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公开(公告)号：CN1419132A
公开(公告)日：2003-05-21
申请号：CN02148635.2
申请日：2002-11-14
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 触点动态接触电阻测试装置及测试方法，属于低压电器产品触点的动态接触电阻测试装置和测试方法。本发明解决了动态接触电阻的精确测试问题，它包括触点动态接触电阻测试电路、试品驱动控制电路、调温调湿箱和工业控制用计算机，其连接方式是：工业控制用计算机分别与触点动态接触电阻测试电路、试品驱动控制电路相连，触点动态接触电阻测试电路与试品触点相连，试品驱动控制电路与试品线圈相连。该装置采用蓄电池降低电压波动，测试时触点上施加较大短时脉冲电流，解决了精确测试问题。该装置操作简便，实现了自动测试。可用于各接触器、继电器厂，提高生产产品的可靠性，并使应用这些产品的控制系统少出故障，从而带来重大社会效益和经济效益。
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公开(公告)号：CN106324468B
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN201610815514.1
申请日：2016-09-12
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种带有视频监测功能的IGBT模块结构可靠性试验装置，其技术特点是：包括电源模块、伸缩模块、智能控制模块、滑动模块、转动模块和采集模块；所述电源模块与其他模块相连接提供电能，所述智能控制模块与伸缩模块、滑动模块、转动模块和采集模块相连接实现试验控制功能。本发明设计合理，其采用视觉传感器来采集IGBT模块内部芯片、焊料层及铜层在试验过程中的不断变化，确定哪些部位发生了相应的变化，发现IGBT内部结构的逐步变化，并能够在IGBT失效后，明确确定引起其失效的部位。
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公开(公告)号：CN106528987B
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201610954754.X
申请日：2016-11-03
Applicant: 河北工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种电动汽车用IGBT模块累积损伤度计算以及寿命预测方法，其技术特点包括以下步骤：设定整车参数、IGBT模块相关参数、路面滚动摩擦系数和风阻系数；拟合速度‑结温均值关系曲线和速度‑结温波动幅值关系曲线；实时获取电动汽车行驶速度‑时间数据和路面坡度数据；判定车辆行驶速度变化情况及爬坡状况，分别按二种模式计算IGBT累积损伤度进而得到IGBT模块总累积损伤度；预测IGBT模块的寿命时间和寿命里程。本发明可在电动汽车的运行情况与IGBT模块的工作状态之间建立直接的联系，直接计算出IGBT模块的结温数据和IGBT模块累积损伤度，可用于研究环境温度、路面坡度、行驶加速度等因素对电动汽车用IGBT模块使用寿命的影响，具有广泛的应用价值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104251965B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201410492377.3
申请日：2014-09-24
Applicant: 河北工业大学 , 国家电网公司 , 国网新源张家口风光储示范电站有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明为一种IGBT动态性能测试装置，其组成包括试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统，其中，IGBT过温保护系统与IGBT驱动电路相连；试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统和示波器各自独立；测试时IGBT测试模块分别与试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统相连。本发明的IGBT动态性能测试装置，能够对IGBT模块铜底板温度以及内部发热芯片的结温同时且自动地进行采集，进而能对模块热阻参数进行提取；并能够对IGBT模块工作频率进行实时调节。
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公开(公告)号：CN106452321A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610959298.8
申请日：2016-10-28
Applicant: 河北工业大学
Abstract: 本发明为一种相互联动的追踪式光伏发电装置，该装置包括主动式光伏电池板角度调整模块、从动式光伏电池板角度调整模块、太阳位置检测模块、反向机械联动模块、同向机械联动模块、可拆卸式连接模块和支撑模块；每一个主动式光伏电池板角度调整模块、从动式光伏电池板角度调整模块、太阳位置检测模块的底部都分别与一个支撑模块相连；太阳位置检测模块、1-3个从动式光伏电池板角度调整模块与主动式光伏电池板角度调整模块相连。本发明中既能保持光伏电池板姿态的稳定，又能根据太阳位置检测模块所检测到的太阳位置对光伏电池板朝向的角度进行快速和准确地调整，增加了本发明工作状态时的稳定性。
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公开(公告)号：CN106443400A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610823294.7
申请日：2016-09-14
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2601 , G01R31/2642
Abstract: 本发明涉及一种IGBT模块的电-热-老化结温计算模型建立方法，其主要技术特点是：测取不同老化程度时IGBT模块的电热参数、获取三维关系曲面并建立不同老化程度时电热参数数据表；建立IGBT模块的电模型、IGBT模块的热网络模型，并将IGBT模块的电模型计算所得功率损耗以电流源形式通入IGBT模块的热网络模型，并将热网络模型计算的结温实时反馈至电模型，完成IGBT模块的电-热耦合模型的建立；对IGBT模块进行老化状态评估；进行IGBT模块的结温计算。本发明针对不同的老化进程获取对应的电热参数，并将这些电热参数代入电-热耦合模型中进行结温计算，即根据模块的老化程度实时动态改变电-热耦合模型参数，从而实现考虑模块老化程度的结温预测功能。
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公开(公告)号：CN106353665A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610766948.7
申请日：2016-08-29
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明为一种IGBT瞬态热特性测试装置，其组成包括恒流源2、第一温度采集存储系统3、第二温度采集存储系统4、电气参量采集存储系统5、IGBT驱动电路6、散热器7，其中，各部分各自独立；测试时IGBT测试模块1分别与试验电流产生电路2、第一温度采集存储系统3、第二温度采集存储系统4、电气参量采集存储系统5、IGBT驱动电路6、散热器7相连。本发明的IGBT瞬态热特性测试装置，能够对IGBT模块工作过程中的内部发热芯片结温、铜底板壳温、集电极电流、集射极电压同时且自动采集，进而能够对IGBT模块的瞬态热特性曲线进行提取；并且能够通过研究老化过程中的瞬态热特性曲线对IGBT的老化状态进行评估。
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公开(公告)号：CN106324468A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610815514.1
申请日：2016-09-12
Applicant: 河北工业大学
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2601 , G01R31/2642 , G01R31/2648
Abstract: 本发明涉及一种带有视频监测功能的IGBT模块结构可靠性试验装置，其技术特点是：包括电源模块、伸缩模块、智能控制模块、滑动模块、转动模块和采集模块；所述电源模块与其他模块相连接提供电能，所述智能控制模块与伸缩模块、滑动模块、转动模块和采集模块相连接实现试验控制功能。本发明设计合理，其采用视觉传感器来采集IGBT模块内部芯片、焊料层及铜层在试验过程中的不断变化，确定哪些部位发生了相应的变化，发现IGBT内部结构的逐步变化，并能够在IGBT失效后，明确确定引起其失效的部位。
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