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公开(公告)号：CN107340796B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201710721679.7
申请日：2017-08-22
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G05F1/567
Abstract: 一种无电阻式高精度低功耗基准源，属于电源管理技术领域。启动电路在电路初始化阶段使得基准电路能够正常工作；偏置电流产生电路产生的基准电流作为基准电压产生电路的偏置电流，同时也作为高阶补偿电路的偏置电压，产生的偏置电流可以实现高阶补偿和自偏置需求；基准电压产生电路中负温度系数电压产生部分利用偏置电流作为BJT的集电极电流，得到的负温度系数电压VCTAT相对于传统VBE大大降低了VBE的负温特性，正温度系数电压VPTAT和负温度系数电压VCTAT叠加得到基准电压。另外引入了高阶补偿电路，以得到温度特性更好的基准电压；输出部分增加低通滤波电路用来提高基准电路的电源抑制比PSRR。本发明的基准源能够实现纳瓦级功耗，且没有电阻，减小了芯片面积。
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公开(公告)号：CN107276060B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201710451285.4
申请日：2017-06-15
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: H02H9/04
Abstract: 一种浪涌电压动态抑制电路，属于电子电路技术领域。本发明的电路包括浪涌电压检测电路和动态吸波电路，浪涌电压检测电路实时检测芯片内部电源Vin的电压值，并将此值与设定的启动动态吸波电路的开启阈值VT进行比较，如果Vin＞VT，便会开启动态吸波电路，将Vin限制在正常的工作电压。本发明抑制了芯片中浪涌电压的产生，克服了传统用滤波大电容占用较大芯片面积的缺点；本发明可以根据实际需求自行设定浪涌电压抑制电路的启动电压值，检测到浪涌电压时自动抑制浪涌电压，将其降到合理的值，保护了芯片内部器件的安全工作；当浪涌电压特别严重时，可以额外的打开一条放电通路来抑制浪涌电压的产生。
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公开(公告)号：CN108563280A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810511655.3
申请日：2018-05-25
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G05F1/567
Abstract: 一种提升电源抑制比的带隙基准源，属于模拟电路技术领域。带隙基准核心模块包括一个预稳压电路结构，该预稳压电路结构包括两条支路，分别是第五PMOS管和第二NMOS管，以及第六PMOS管和第三NMOS管，由于反馈的作用，这两条支路均是低阻抗支路，因此从供电电压到P点具有较高的电源抑制比，从而实现了整个带隙基准核心电路电源抑制比的提升；启动电路模块用于在电路刚开始启动时拉低带隙基准核心模块中第一PMOS管和第四PMOS管的栅极电位，同时控制电流流过第一双极型晶体管、第二双极型晶体管和第三双极型晶体管的基极，启动完成后退出。本发明与传统的带隙基准相比能够实现基准源电源抑制比的提升，同时与传统的预稳压技术相比功耗更低。
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公开(公告)号：CN108536210A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810752568.7
申请日：2018-07-10
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G05F1/567
Abstract: 一种平滑温度补偿带隙基准源电路，属于模拟集成电路技术领域。包括启动模块、偏置模块、高阶补偿模块和带隙基准核心模块，启动模块用于在电路初始化阶段使带隙基准源电路脱离零状态，并在带隙基准源电路正常工作后关断；偏置模块用于为高阶补偿模块和带隙基准核心模块产生第一偏置电压和第二偏置电压；带隙基准核心模块用来产生基准电压，高阶补偿模块用于产生高阶的补偿电流来提高基准电压的温度特性。本发明提出的带隙基准源在整个温度范围内实现了连续温度补偿，减小了基准电压在整个温度范围的温度漂移，实现了在整个温度范围的高阶补偿，从而使得基准电压在很宽的温度范围内具有高精度。
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公开(公告)号：CN105509637B
公开(公告)日：2018-02-06
申请号：CN201510852413.7
申请日：2015-11-27
Applicant: 成都信息工程大学
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪及波长修正方法，所述激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪，包括激光源、固定平面反射镜、光电探测器、测量平面反射镜装置和分光镜，所述测量平面反射镜装置包括测量平面反射镜和精密位移装置，所述精密位移装置为所述测量平面反射镜提供与被测物体位移同向或反向的位移。本申请中，将被测物体实际位移中超出半个激光波长小数部分△L也测量出来补充到位移检测结果中，进而使得本申请的激光干涉仪所测量得到的位移结果更加精确，同时精密位移装置进行若干整数波长精确位移，通过精确的距离反求环境等效激光波长，进一步提高本发明激光干涉仪的测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104964641B
公开(公告)日：2017-10-10
申请号：CN201510369090.6
申请日：2015-06-29
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种磁性微位移平台式级联阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法，磁性微位移平台式级联阶梯角反射镜激光干涉仪，包括有激光源、微动阶梯角反射镜组、干涉测量光电探测器组、移动角反射镜和分光镜组，还包括有反射测量光电探测器组，所述反射测量光电探测器组包括有z个反射测量光电探测器，所述第二激光束组在由所述移动角反射镜射向所述分光镜组后还形成有反射激光束组，所述反射激光束组的各激光束分别射向一个所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪，根据反射激光束组的强度确定激光干涉光束的干涉状态，如此实现抗环境干扰的目的。
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公开(公告)号：CN107101909A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710451382.3
申请日：2017-06-15
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01N9/00
CPC classification number: G01N9/00
Abstract: 本发明公开一种湿密度测试装置，包括水槽、挂秤架、电子秤、称量盘、不规则样品盒、环状样品架、电阻加热器、注水组件和排水组件，所述挂秤架的两个架脚分别固定于水槽两相对的侧面顶部，所述挂秤架上设有与其相对滑动的连接，所述连接环通过连接绳与电子秤顶部连接，所述电子秤下方通过连接绳和挂钩与称量盘连接，所述不规则样品盒和环状样品架分别设置于水槽内侧壁靠近顶部的位置，所述电阻加热器设置于水槽内侧壁靠近底部的位置，所述注水组件和排水组件分别设置于水槽外侧壁靠近顶部和靠近底部的位置且与水槽内部连通。本发明可以快速、准确的测量环状或不规则块状样品湿密度。
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公开(公告)号：CN104964642B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201510372838.8
申请日：2015-06-29
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种磁性微位移平台式阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法，所述磁性微位移平台式阶梯角反射镜激光干涉仪，包括有激光源、微动阶梯角反射镜、干涉测量光电探测器组、移动角反射镜、分光镜组和磁性微位移平台，所述微动阶梯角反射镜设置在所述磁性微位移平台上，所述激光源向所述分光镜组射出z束激光束，还包括有反射测量光电探测器组，所述第二激光束组在由所述移动角反射镜射向所述分光镜组后还形成有反射激光束组，所述反射激光束组的各激光束分别射向一个所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪，根据反射激光束组的强度确定激光干涉光束的干涉状态，实现抗干扰的目的。
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公开(公告)号：CN105509637A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201510852413.7
申请日：2015-11-27
Applicant: 成都信息工程大学
CPC classification number: G01B9/02075 , G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域，特别涉及一种激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪及波长修正方法，所述激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪，包括激光源、固定平面反射镜、光电探测器、测量平面反射镜装置和分光镜，所述测量平面反射镜装置包括测量平面反射镜和精密位移装置，所述精密位移装置为所述测量平面反射镜提供与被测物体位移同向或反向的位移。本申请中，将被测物体实际位移中超出半个激光波长小数部分△L也测量出来补充到位移检测结果中，进而使得本申请的激光干涉仪所测量得到的位移结果更加精确，同时精密位移装置进行若干整数波长精确位移，通过精确的距离反求环境等效激光波长，进一步提高本发明激光干涉仪的测量精度。
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公开(公告)号：CN105445146A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510888615.7
申请日：2015-12-04
Applicant: 成都信息工程大学
IPC: G01N9/00
Abstract: 本发明公开一种新型软磁磁环密度测试装置，包括设置于地面上的电子天平、高脚水槽和可调电磁铁，所述电子天平上表面设有烧杯，所述高脚水槽顶端设有样品架，所述样品架包括横梁、可滑动伸缩连杆和由垂直的拉杆和水平的横臂组成的L形升降臂，所述横梁设置于高脚水槽内侧壁靠近顶部的位置，所述高脚水槽其中一侧的水槽壁上开有竖直向下的滑槽，所述滑槽下端与高脚水槽内部连通，所述L形升降臂的拉杆与滑槽滑动连接，所述L形升降臂的横臂设置于高脚水槽内侧，所述高脚水槽外侧壁与滑槽对应的位置设有锁定L形升降臂的紧固螺栓。本发明以弥补传统密度测量装置在提升单一样品湿密度测试精度及批量样品密度测试时存在的不足。
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