公开(公告)号：CN114595767B

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202210223287.9

申请日：2022-03-07

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  向刚 ,  俞洋 ,  赵利国 ,  于冰

IPC: G06F18/22 ,  G06N3/0442 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/048 ,  G06F17/18

Abstract: 一种具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法，属于工业设备故障检测领域。本发明针对现有工业系统的故障检测依赖故障数据建立检测模型，故障数据获取难度大造成方法难以适用的问题。包括：采集时间序列状态数据作为训练数据；计算训练数据m维特征变量的均值和标准差，并对训练数据进行标准化；对标准化后时间序列数据采用滑动窗口进行分割得到序列数据P，对LSTM自编码网络进行训练；再基于训练后LSTM自编码网络获得训练数据的误差序列；基于极值理论的方法对误差序列进行分析，得到故障阈值；再基于待检测设备序列数据对故障阈值进行调整，得到调整后阈值，进而实现工业设备的故障检测。本发明用于变量具有时序特征的工业设备的故障检测。

公开(公告)号：CN102279296B

公开(公告)日：2013-05-01

申请号：CN201110167193.6

申请日：2011-06-21

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 邓立宝 ,  俞洋 ,  乔立岩 ,  向刚 ,  彭喜元

IPC: G01R1/30

Abstract: SOCs测试封装扫描信号输入单元和扫描结果输出单元，涉及一种SOCs测试封装扫描单元结构，为了解决实现母核和子核的并行测试的不安全问题，SOCs测试封装扫描信号输入单元，它包括一号多路选择器、二号多路选择器、三号多路选择器、一号触发器和二号触发器，它还包括CMOS传输门；SOCs测试封装扫描结果输出单元，它包括四号多路选择器、五号多路选择器、六号多路选择器、七号多路选择器、三号触发器和四号触发器，它还包括CMOS传输门，CMOS传输门包括NMOS管和PMOS管，NMOS管和PMOS管的源极相连作为输入端，漏极相连作为输出端，栅极作为控制端，用于SOCs的测试。

公开(公告)号：CN101982788B

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN201010298158.3

申请日：2010-09-30

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  向刚 ,  乔立岩 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28 ,  G01C19/00 ,  G05B19/02

Abstract: 基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法，它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出。第一、第二MOS管部件并联连接，第一MOS管部件的源极和漏极分别与第二MOS管部件的源极和漏极相连，第一、第二MOS管部件的栅极分别与第一控制信号/GC和第二控制信号GC相连，第一、二控制信号为互为反向的控制信号。它具有延时短和额外面积开销小的优点。它可广泛适用于各种需要对系统芯片的IP核测试的场合。

公开(公告)号：CN101982788A

公开(公告)日：2011-03-02

申请号：CN201010298158.3

申请日：2010-09-30

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  向刚 ,  乔立岩 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28 ,  G01C19/00 ,  G05B19/02

Abstract: 基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法，它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出。第一、第二MOS管部件并联连接，第一MOS管部件的源极和漏极分别与第二MOS管部件的源极和漏极相连，第一、第二MOS管部件的栅极分别与第一控制信号/GC和第二控制信号GC相连，第一、二控制信号为互为反向的控制信号。它具有延时短和额外面积开销小的优点。它可广泛适用于各种需要对系统芯片的IP核测试的场合。