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公开(公告)号：CN101581556B
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN200810106438.2
申请日：2008-05-13
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种复合图形靶板的瞄具零位走动数字化测量装置，包括：光源、复合图形靶板、反射镜、主反射镜、卡具、像分析器、计算机、温控模块、机壳。此装置使用光源照明复合图形靶板分别生成多波段复合对准目标，依次通过反射镜、主反射镜后在被测瞄具上成像，通过直接采集由瞄具输出的目标图像，或在瞄具目镜出瞳处经像分析器采集瞄具分划板上的图像，输入计算机后，由测量软件进行数字图像处理，计算测试结果。本发明可用于红外、可见、微光瞄具零位走动的高精度检测，具有精度高、客观性、实时性好的优点。
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公开(公告)号：CN101587009A
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：CN200910088376.1
申请日：2009-07-02
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光电图像传输技术领域，可用于动态场景仿真、光学测量系统的优化设计、性能评估等多个方面。提出可以实现动态图像传输的设计方案和硬件平台。以高速数据接口、逻辑可编程器件、数模转换芯片和静态存储器搭建硬件平台，通过合理设计固件程序、设备驱动程序和上位机应用程序，高速图像数据从上位机通过接口进行传输，下位机将图像数据缓冲处理后产生行、场同步信号，在微小型液晶图形发生器上以XGA视频格式显示动态图像。本发明首次将微小型液晶图形发生器引入到光电图像传输技术中，以微小型液晶图形发生器上的动态图像作为动态场景仿真的背景，减小了光学系统的尺寸体积，使系统更加紧凑，并将数字化、自动化和微小型化引入到光学参数测量仪器中。
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公开(公告)号：CN101532908A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200910082128.6
申请日：2009-04-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种离散成像器件统计调制传递函数激光散斑测量方法和装置，属于光电成像器件成像质量测试技术领域。本发明的测量装置由激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件和带有图像采集卡的计算机组成。测量方法是将散斑投射到离散成像器件靶面上做为输入，离散成像器件采取散斑图即为输出，通过输入和输出的功率谱对比，得到离散成像器件的统计调制传递函数；输入的功率谱密度由散射体出射平面的孔径光阑的大小和离散探测器阵列的位置决定，探测到的功率谱密度经过数据处理可以得到。本发明不需要成像镜头可以直接测量离散成像器件的统计调制传递函数，具有其他方法不具备的优点。
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公开(公告)号：CN100508628C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200710119819.X
申请日：2007-07-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种CCD摄像机信噪比数字化测试方法。其基本原理是通过摄像机对高均匀照明的净白目标成像，则成像信号中的波动反映了摄像机的噪声。通过图像采集卡将视频信号量化为数字图像，用特别设计的数字高通滤波器分离出噪声信号，计算噪声信号的均方根值作为噪声强度。因图像采集卡对原始视频信号带入了量化噪声，将量化噪声加以修正即可以估计原始视频信号中的噪声大小，从而计算出信噪比。本发明实现了一种基于数字图像采集的电视摄像机信噪比快速、客观测试方法，其测试结果与用视频分析仪测量结果一致性良好，因而可以作为摄像机信噪比测试的一种替代方法。
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公开(公告)号：CN100470189C
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN200710100222.0
申请日：2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪，包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7，与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13，依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9，还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点：通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″-10″的测量范围内，测量精度可达到0.02″，极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角，减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101231343A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200810057899.5
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于液晶调制的激光测距机瞄准与接收轴平行性测量装置，包括：离轴抛物面反射镜、液晶空间光调制器、积分球、可见光源、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器；所述液晶空间光调制器置于离轴抛物面反射镜的焦面上；所述液晶空间光调制器、积分球、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器依次放置在焦面后，耦合器与激光发射器连接；所述可见光源与积分球连接。此检测装置利用液晶进行光电调制生成面目标进行光电扫描，测量成功率高，其可用于激光测距机瞄准轴与接收轴平行性在室内、室外环境下的快速检测，具有精度高和可便携的优点。
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公开(公告)号：CN1916582A
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：CN200610128631.7
申请日：2006-09-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种CCD摄像机分辨率客观评测方法，该方法包括以下步骤：获得一个分组多条纹图案靶板图像；将具有不同条纹宽度的条纹区域进行分离；抽取每个条纹区域中的一行的灰度值；分别将对应各条纹区域的所述灰度致信号转换至频域，其中，在保证采样后不同分辨率条纹的空间频率是对应物方空间频率间隔的整数倍的情况下，确定采样频率；从相应的频谱图中分别获得对应各条纹区域的摩尔条纹的幅值，以及特征频率幅值；最后对比各条纹区域的特征频率幅值与摩尔条纹频率幅值的关系，这种方法有效地解决了以往对于高频段变频光栅中出现摩尔条纹，从而影响判别的问题。本发明还提供了一种CCD摄像机分辨率测定系统。
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公开(公告)号：CN1858554A
公开(公告)日：2006-11-08
申请号：CN200610083776.X
申请日：2006-06-05
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多谱线光学角规测试标定仪，包括一台通用机算机，一个电机控制箱，一个多光谱光源电控切换台，一个CCD摄像机，一个双频激光干涉仪；一台光电自准直仪；一个长基线分光镜组；一个长基线反射镜组；一个精密转台；一个平面反射镜组；一个数显读数表，一个三维调整台；本发明具有如下显著优点：双频激光干涉测角仪中，采用长基线镜组，使其测角精度能够比一般双频激光干涉测角仪高；采用测角和定位相分离的方法，容易实现光学角规的高精度测试标定；采用多谱线标定方法，可以在同样环境条件下对同一块光学角规给出多谱线偏向角标定值，扩大光学角规的应用范围。
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公开(公告)号：CN201255687Y
公开(公告)日：2009-06-10
申请号：CN200820136316.3
申请日：2008-09-19
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本实用新型属于光学精密测量技术领域，涉及一种数字视差测量装置。包括光源、物镜、图像采集模块、计算机、机电平移台。光源通过目镜照明被测光学系统的分划板，光线透过望远物镜后进入物镜并在图像采集模块上成像，图像采集模块将所成图像传送给计算机，计算机控制机电平移台实现机电平移，机电平移台向计算机返回机电平移数据；物镜装卡于机电平移台上。本实用新型还可以包括分光系统，光线通过分光系统进入粗瞄摄像机，将采集到的视频信号传输给监视器，用于测量前的粗瞄对准。本实用新型用计算机来修正由环境变化引起的测量误差，具有精度高、速度快、客观性好的优点，可用于光学系统的检测与装配过程中的高精度视差测量。
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公开(公告)号：CN201177500Y
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN200820079132.8
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本实用新型是基于多光谱靶板及旋转反射镜的多光轴一致性测试仪装置，属于光电领域。本实用新型由大口径离轴双反准直镜主镜、准直镜次镜、两轴旋转机构、平面反射镜、衰减器、分光镜A、多光谱目标靶板、分光镜B、近红外CCD、光纤耦合器、光纤、多路视频采集装置等组成；平面反射镜经旋转机构带动进行二维旋转；分光镜A的反射光路中放置多光谱目标靶板，分光镜A的透射光路经分光镜B后，透射光进入近红外CCD，同时反射光进入光纤入射端；光纤另一端经光纤耦合器与激光测距机的发射端相连，激光脉冲耦合进入光纤。本实用新型用于测试复杂光电系统宽光谱范围内的多光轴之间一致性的静态及动态误差，具有精度高和可便携优点。
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