一种等离子鞘套中太赫兹波传输特性等效测量方法和装置

    公开(公告)号:CN112163365B

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN202011050311.0

    申请日:2020-09-29

    Abstract: 本发明提供了一种等离子鞘套中太赫兹波传输特性等效测量方法和装置。所述方法包括:通过朗缪尔探针方式获取目标等离子鞘套电子密度及其分布;根据所述目标等离子鞘套电子密度及其分布,对所述目标等离子体鞘套进行仿真建模,采用高压放电产生的等效等离子体模拟所述目标等离子鞘套;根据高压放电产生的等效等离子体中太赫兹波透射特性等效测量太赫兹波在目标等离子鞘套中的传输特性。本发明解决了目前太赫兹波能量微弱,无法直接获取等离子鞘套中太赫兹波传输特性实验数据的技术瓶颈。实现充分开展太赫兹波在等离子鞘套中传输特性的等效测量目的。

    一种光纤耦合太赫兹时域光谱紧缩场测量系统

    公开(公告)号:CN116026783A

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202211338669.2

    申请日:2022-10-28

    Abstract: 本发明涉及一种光纤耦合太赫兹时域光谱紧缩场测量系统,涉及太赫兹波测量技术领域,包括产生路和探测路,产生路和探测路均通过光纤耦合激光器产生输出激光,产生路将输出的激光转化成太赫兹波传输到目标区,目标区反射到探测路,探测路通过激光激发接收探测器接收太赫兹波,并将太赫兹波转为电流进行测量,本发明具有解决了中光纤耦合技术应用到太赫兹时域光谱紧缩场测量系统时遇到的器件选择、系统集成等技术难题的优点。

    一种H型超材料和太赫兹传输隔离系统

    公开(公告)号:CN115939772A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211538713.4

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 本发明涉及超材料技术领域,特别涉及一种H型超材料和太赫兹传输隔离系统。本发明实施例提供了一种H型超材料,包括多个周期单元,所述周期单元沿互相垂直的两个方向周期排列形成超材料;所述周期单元为包括两个正方形面的长方体,沿厚度方向依次包括第一介质层、第二介质层和第三介质层,所述第二介质层和所述第三介质层朝向所述第一介质层的面均设置有H型金属层。本发明实施例提供了一种H型超材料,能够提供一种能够改变太赫兹波段电磁波偏振状态的超材料。

    一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和隔离性能测试系统

    公开(公告)号:CN115939753A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211538688.X

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 本发明涉及隔离器技术领域,特别涉及一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和隔离性能测试系统。本发明实施例提供了一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器,包括闭环超材料和偏振器;闭环超材料包括多个周期单元,周期单元沿互相垂直的相邻单元边缘所在的两个方向周期排列形成超材料;周期单元为包括两个正方形面的长方体,沿厚度方向依次包括第一介质层、第二介质层和第三介质层,第二介质层和第三介质层朝向第一介质层的面均设置有闭环金属层;偏振器用于透射偏振方向与线栅的线垂直的偏振光,反射偏振方向与线栅的线平行的偏振光。本发明实施例提供了一种基于闭环超材料的太赫兹隔离器和其对太赫兹波隔离性能的测试系统,能够提供一种隔离太赫兹电磁波的隔离器。

    一种H型超材料及其制备方法
    45.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115793108A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211538690.7

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 本发明涉及超材料技术领域,特别涉及一种H型超材料及其制备方法。该方法包括:将聚酰胺酸旋转涂敷在基底片上,得到第一预制层,进行热酰亚胺化处理得到聚酰亚胺材质的底部介质层;在底部介质层上表面得到一个H型金属层;将聚酰胺酸旋转涂敷在底部介质层上,得到第二预制层,进行热酰亚胺化处理得到聚酰亚胺材质的中间介质层;在中间介质层的表面上得到另一个H型金属层;将聚酰胺酸旋转涂敷在设置H型金属层的中间介质层上,得到第三预制层,进行热酰亚胺化处理得到聚酰亚胺材质的顶部介质层,进而得到周期单元;将周期单元周期排列形成H型超材料。本发明实施例提供了一种能够改变太赫兹波段电磁波偏振状态的超材料的制备方法。

    基于太赫兹时域光谱的等离子体密度测量方法

    公开(公告)号:CN113038678B

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202110257733.3

    申请日:2021-03-09

    Abstract: 本发明涉及一种基于太赫兹时域光谱的等离子体密度测量方法,包括:利用太赫兹时域光谱系统分别测量无等离子体时的参考时域光谱和有等离子体时的样品时域光谱;对参考时域光谱和样品时域光谱分别进行傅立叶变换,得到对应的参考频谱和样品频谱;根据样品频谱与参考频谱的相位差和频谱幅度之比,结合等离子体的厚度,确定等离子体的介电常数的实部;基于等离子体的介电常数的实部,计算等离子体密度。本发明能够实现等离子体密度无接触式实时测量,可以为等离子体研究提供重要的参数输入与技术支持。

    一种太赫兹波束整形方法和装置

    公开(公告)号:CN110456514B

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN201910778016.8

    申请日:2019-08-22

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹波束整形方法和装置,涉及太赫兹时域光谱探测技术领域。其中,该方法包括:基于测量或仿真技术确定太赫兹波束的波束参数;所述波束参数包括太赫兹波束的能量分布;根据所述太赫兹波束的波束参数初步确定波束整形器件的几何尺寸参数;基于仿真模型对所述波束整形器件的几何尺寸参数进行优化,以得到优化后的波束整形器件;其中,所述优化后的波束整形器件能够将所述太赫兹波束的能量分布由高斯分布整形为均匀分布。通过以上步骤能够设计得到对太赫兹波束进行整形的波束整形器,基于该波束整形器件能够将太赫兹波束的能量分布由高斯分布整形为均匀分布,从而解决了现有技术中的难题。

    基于太赫兹频段测量样品复折射率的方法和装置

    公开(公告)号:CN109932338B

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201910267623.8

    申请日:2019-04-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹频段测量样品复折射率的方法和装置,涉及激光技术领域。其中,该方法包括:根据太赫兹脉冲在样品表面的反射信号和在金属镜表面的反射信号确定样品复反射率的测量值;根据反射率计算模型确定样品复反射率的模型估计值,并根据所述复反射率的测量值和所述复反射率的模型估计值构建代价函数;其中,所述反射率计算模型考虑了所述金属镜复折射率对参考信号的影响以及测量过程中的相位误差,所述样品复反射率的模型估计值基于多个参数表示;对所述代价函数进行优化求解,并根据优化求解结果确定所述样品的复折射率。通过以上步骤,能够精确确定样品的复折射率,尤其适用于高反射率材料的复折射率测量。

    一种等离子鞘套中太赫兹波传输特性等效测量方法和装置

    公开(公告)号:CN112163365A

    公开(公告)日:2021-01-01

    申请号:CN202011050311.0

    申请日:2020-09-29

    Abstract: 本发明提供了一种等离子鞘套中太赫兹波传输特性等效测量方法和装置。所述方法包括:通过朗缪尔探针方式获取目标等离子鞘套电子密度及其分布;根据所述目标等离子鞘套电子密度及其分布,对所述目标等离子体鞘套进行仿真建模,采用高压放电产生的等效等离子体模拟所述目标等离子鞘套;根据高压放电产生的等效等离子体中太赫兹波透射特性等效测量太赫兹波在目标等离子鞘套中的传输特性。本发明解决了目前太赫兹波能量微弱,无法直接获取等离子鞘套中太赫兹波传输特性实验数据的技术瓶颈。实现充分开展太赫兹波在等离子鞘套中传输特性的等效测量目的。

    一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法

    公开(公告)号:CN109211842B

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN201811219793.0

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法,通过太赫兹波透射测量分别获取有无定标板的太赫兹波透射电场强度,根据获取的太赫兹波透射电场强度得到定标板的透射系数,进而得到定标板的复折射率;通过太赫兹波反射测量获取定标板和被测材料板在同一入射角度下分别反射的太赫兹波反射电场强度;根据定标板的复折射率和太赫兹波反射测量的入射角度,计算定标板的反射系数;结合定标板和被测材料板反射的太赫兹波反射电场强度与反射系数之间的比例关系,计算被测材料板的反射系数。该装置及方法能够在无法准确计量太赫兹脉冲功率的情况下,有效度量各种材料反射性能,快速、便捷地获取被测材料板在太赫兹频段的反射系数和反射率。

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