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公开(公告)号:CN107991561A
公开(公告)日:2018-05-04
申请号:CN201711226436.2
申请日:2017-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法;所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体;位于所述壳体底端的输出转接基座;位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板;及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上;将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上;将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试;进行老化性能测试;卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。
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公开(公告)号:CN105978525A
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201610268746.X
申请日:2016-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英谐振器,包括:通过石英晶片与镀有金属膜的下电极之间悬离;和/或,石英晶片与镀有金属膜的上电极之间悬离,使得石英谐振器中石英晶片与上下电极上的金属膜分离,有效地解决了由于石英谐振器中上、下电极对应的金属膜被附着在石英晶片表面使得金属膜内表面和石英晶体外表面形成内应力进而该内应力引发石英谐振器的振荡频率发生漂移的问题,提升石英谐振器输出振荡频率的稳定性。
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公开(公告)号:CN105575861A
公开(公告)日:2016-05-11
申请号:CN201510921225.5
申请日:2015-12-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Inventor: 王莉
IPC: H01L21/673 , H01L21/67
CPC classification number: H01L21/67313 , H01L21/67023
Abstract: 本申请公开了一种石英晶片承载治具,包括:晶片载篮、载篮上盖、中心柱、旋转托台以及米字转盘,其中,晶片载篮上设有多个凸出的卡销,载篮上盖上设有分别与每个卡销的位置对应的定位孔,载篮上盖通过所述卡销与晶片载篮连接;晶片载篮由其中心通孔,穿过米字转盘的支柱端头并与米字转盘连接;旋转托台由其中心通孔,穿过中心柱并落在中心柱的底端;米字转盘由其中心通孔,穿过中心柱并落在中心柱的柱体上;晶片载篮上有多个呈阵列分布的圆柱形的载孔,载篮上盖有多个分别与每个载孔的位置相对应的导流孔。采用本申请提供的石英晶片承载治具,可以对多个石英晶片进行均匀清洗,并使清洗后的石英晶片表面残留更容易干燥。
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