公开(公告)号：CN111130545A

公开(公告)日：2020-05-08

申请号：CN201911216273.9

申请日：2019-12-02

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 贾森 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  李程 ,  武昊男

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明涉及一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，属于集成电路测试领域；包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；本发明通过微系统ADC单元采集由信号回环模块处理的输入信号，将输入信号由模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的回环数据。

公开(公告)号：CN103840823A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201410051652.8

申请日：2014-02-14

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 张帆 ,  陈雷 ,  赵元富 ,  文治平 ,  李学武 ,  张彦龙 ,  孙华波 ,  王硕 ,  尚祖宾 ,  冯长磊 ,  王岚施 ,  林彦君 ,  郑咸建

IPC: H03K19/177

Abstract: 本发明涉及基于JTAG接口的宇航FPGA通用刷新电路，该刷新电路设计有7个输入管脚、8个输出管脚，分别与PROM与FPGA的管脚连接，通过JTAG接口对SRAM型FPGA进行回读操作，确定FPGA型号并校验回读数据，若发生错误则从正确的数据源读取码流，从码流中截取有效部分，并通过JTAG接口将有效码流重新写入FPGA的内部配置位，从而完成配置存储器的刷新，通过本发明中的刷新电路，能够及时检测并纠正宇航用FPGA的单粒子翻转，消除宇航用FPGA发生空间单粒子翻转导致的功能故障，提高宇航FPGA空间应用可靠性。