表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法及装置

    公开(公告)号:CN103472576A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310415225.9

    申请日:2013-09-12

    Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法,包括步骤:激光器发出的激光束经过针孔滤波器进行空间滤波,被准直透镜准直为平行光束;该平行光束入射到偏振转换系统中进行偏振态转换;获得的高级次轴对称偏振光束进一步通过光瞳滤波器和环形光阑进行振幅及相位调制;调制后的高级次轴对称偏振光束经过二向色分束镜反射到高数值孔径的聚焦物镜中进行聚焦,并射入“玻璃基底-金属薄膜-样品”的三层结构上;激发的荧光信号通过该三层结构反射回聚焦物镜中,并被其扩束,通过二向色分束镜透射,经过滤波片滤波后,最终被一聚光镜聚焦到针孔阵列板上,通过探测器将光信号转换为电信号,并进一步处理。

    全内反射荧光显微成像方法及装置

    公开(公告)号:CN103439305A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201310381350.2

    申请日:2013-08-28

    Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的全内反射荧光显微成像方法及装置。所述装置包括激光器,发出激光束;针孔滤波器,对激光器发出的激光束进行空间滤波;准直透镜,将经过空间滤波的激光束准直为平行光束;偏振转换系统,对所述平行光束进行偏振态转换,获得高级次轴对称偏振光束;光瞳滤波器和环形光阑,对获得的高级次轴对称偏振光束进行振幅及相位调制;反射和聚焦系统,被调制的轴对称偏振光束被反射和聚焦系统聚焦到玻璃与样品之间的界面上,以在玻璃-样品界面上因为全反射而产生倏逝场;反射和过滤系统,由倏逝场激发的荧光信号经过反射和过滤系统后被聚焦到针孔阵列板上,光电探测器用于探测信号,以及信号分析处理系统。

    受激发射损耗显微成像方法及装置

    公开(公告)号:CN103364384A

    公开(公告)日:2013-10-23

    申请号:CN201310338274.7

    申请日:2013-08-06

    Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振涡旋光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法及装置,利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。将第一形式的高级次轴对称偏振涡旋光束聚焦获得实心光斑,将第二形式的高级次轴对称偏振涡旋光束聚焦获得空心光斑。所述聚焦中空光斑与所述聚焦实心光斑重叠,聚焦实心光斑所激发的样品上的荧光基团发出荧光,而聚焦中空光斑抑制了该荧光基团外围所发出的荧光,这样就只有中间一个小于衍射极限的点发光并被观察到;激发的荧光经过滤光片滤波后被透镜聚焦,该聚焦光斑被探测器探测,得到超分辨受激发射损耗显微图像。

    一种利用短腔光纤激光器的输出纵模测量应变的方法

    公开(公告)号:CN103337782A

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201310305941.1

    申请日:2013-07-19

    CPC classification number: G01L1/242 G01L1/246

    Abstract: 本发明提供了一种利用短腔光纤激光器的输出纵模测量应变的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建所述短腔光纤激光器,所述短腔光纤激光器包括依次连接的激光二极管泵浦源、波分复用器、布拉格光纤光栅、有源光纤和环形镜;b)将所述短腔光纤激光器固定于待测量应变的材料上,使所述短腔光纤激光器的光纤拉伸方向与待测材料产生应变的应变方向相一致;c)测量所述短腔光纤激光器的输出纵模漂移量;d)计算得到待测材料的应变。根据本发明利用短腔式光纤激光器的特性可以精确测量物体的应变,所搭建的光纤激光器结构小巧简单,测量精度高,便携性好,易于在多种场合应用。

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