一种递变能量X射线成像图像融合方法

    公开(公告)号:CN103308537A

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201310233282.5

    申请日:2013-06-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开了一种递变能量X射线成像图像融合方法,该方法从信息论角度出发,建立图像质量评价标准,并提取检测对象在各能量下X射线成像图像的有效区域;同时依据动态范围无约束下射线能量、图像灰度以及检测对象之间的唯一性,构建能谱图像序列之间的灰度变换模型,在保证图像灰度阶不会出现混乱的基础上实现多谱序列的有效区域的融合。该方法在完成成像系统动态范围扩展的基础上,降低了融合过程中对先验知识和人工参与的依赖性,提高了其智能性,对于推广变能量X射线成像技术在工程中的应用有重要意义。

    一种管状工件内径测量系统

    公开(公告)号:CN102927922A

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN201210387784.9

    申请日:2012-10-12

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开了一种管状工件内径测量系统,包括:一个爬行运载定位子系统、一个数据采集与控制子系统以及一个数据处理子系统;当需要对一被测管状工件的内径进行测量时,爬行运载定位子系统在数据采集与控制子系统的控制下在被测管状工件的管道中进行爬行,并在当每爬行到一个待测位置时,获取该待测位置对应的管道截面的测量数据;数据采集与控制子系统采集爬行运载定位子系统获取到的测量数据,发送给数据处理子系统;数据处理子系统根据接收到的测量数据生成所需的测量结果。应用本发明所述方案,能够提高测量结果的准确性,且能够提高测量效率。

    一种X射线成像系统中的射线能量控制装置和方法

    公开(公告)号:CN102645441A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201210104267.6

    申请日:2012-04-11

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开了X射线成像系统中的射线能量控制装置,包括:模型建立模块,用于建立表征射线能量与检测对象的有效厚度之间的对应关系的能量适定性模型;预测控制模块,用于当需要对任一检测对象Y进行X射线成像时,分别进行以下处理:根据能量适定性模型为检测对象Y建立有效厚度预测模型;根据有效厚度预测模型对检测对象Y的有效厚度变化进行预测,并在当每得到一个有效厚度预测值Z后,分别根据能量适定性模型确定出其对应的射线能量,并按照确定结果对X射线发生器发出的射线能量进行调节及进行射线图像采集。本发明同时公开了X射线成像系统中的射线能量控制方法。本发明所述方案可适用于任意结构的检测对象,且实现起来简单方便。

    一种计算机断层扫描成像装置和方法

    公开(公告)号:CN101308102B

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200810132397.4

    申请日:2008-07-16

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开了一种计算机断层扫描成像装置,该装置包括:变剂量CT扫描模块,用于根据扫描过程中X射线透照方向上待检测物体有效厚度的变化,实时调整X射线源管电压,并按照调整后的X射线源管电压对所述待检测物体进行圆轨迹X-CT扫描,并将扫描得到的投影图像发送给CT重建模块;所述CT重建模块,用于根据接收到的投影图像进行CT重建,得到所述待检测物体的断层图像。本发明同时公开了一种计算机断层扫描成像方法。本发明所述的装置和方法适用于任意复杂结构的待检测物体,并且不受X射线透照方向上待检测物体有效厚度变化的影响。

    一种PEPT示踪粒子的轨迹重构算法
    45.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119441680A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202411578562.4

    申请日:2024-11-07

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开了一种PEPT示踪粒子的轨迹重构算法,该算法对PEPT探测器捕获的响应线(LoRs)数据进行分帧和定位处理,通过滑动窗口法对数据进行重叠切分来提高对LoRs数据的利用率,进而增加PEPT示踪粒子的定位频率;同时将两条异面直线的最短线段中心点引入到定位过程,作为两次正电子湮灭发出响应线(LoRs)的近似位置,使得定位过程更接近实际物理过程,具有更高的PEPT示踪粒子定位频率。

    一种基于多光谱比色的温度测量方法

    公开(公告)号:CN113588115B

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202110812639.X

    申请日:2021-07-19

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于多光谱比色的温度测量方法,属于光谱温度测量和非接触测温领域。本发明将物体辐射出来的光谱分解为不同波长的单色光到成像面的不同像元上;学系统参数标定,标定成像器件像元上的波长分布;利用黑体炉产生不同的温度,辐射出来的光谱分解为不同波长的单色光到成像器件成像面的不同像元上,并获取到不同波长的电压;在同一温度下,将各波长信号两两比色计算,即计算各波长信号的电压比值,进而计算通过比色计算获得的温度值,以及所有通过比色计算获得的温度值的方差;取方差最小的温度值做电压比值温度曲线;利用上述电压比值温度曲线对其他物体温度进行测量,根据电压比值推算出温度值。本发明提高了温度测量的准确度。

    一种光谱成像方法和装置
    47.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112013955B

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202010945866.5

    申请日:2020-09-10

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本申请提供了一种光谱成像方法和装置,所述方法包括:将不同视场角的物点发出的主光线通过像方远心镜头平行地聚焦到焦面上;通过光束采样器对所述焦面上的物方空间的点进行离散下采样;通过透镜阵列将采样后的光线平行发射出;对平行发射出的所述光线进行色散、聚焦在像面生成光谱图像。该方案能够实现大视场、高分辨率的光谱成像,且光谱成像装置结构简单、易实现。

    阵列显微CT成像的多通道同步采集系统及方法

    公开(公告)号:CN115825125A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211183661.3

    申请日:2022-09-27

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于显微CT成像技术领域,尤其涉及一种阵列显微CT成像的多通道同步采集系统及方法,便于对阵列显微CT的各部件同步控制,使成像准确。阵列显微CT成像的多通道同步采集系统包括:X射线源、支架、成像单元和同步控制单元。X射线源被配置为提供X射线;支架被配置为固定待成像物;多个成像单元阵列布置。同步控制单元至少与多个成像单元电连接,同步控制单元被配置为接收来自上层系统的包含同步控制指令的系统工作命令,以及接收多个成像单元所处的时间帧的序列信息,同步控制单元还被配置为,根据接收的系统工作命令和时间帧的序列信息生成同步控制指令,并向多个成像单元发布同步控制指令。

    X射线多谱分离成像方法、存储介质和装置

    公开(公告)号:CN109875593B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN201910107265.4

    申请日:2019-02-02

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开一种X射线多谱分离成像方法、存储介质和装置,该方法包括:步骤11:设定被测物的成像电压范围[V1,V2];步骤12:在[V1,V2]的范围内取N个不同的扫描电压,N大于被测物所包含的材质总数K,且任意两个扫描电压之间的差值大于第一预设值,在每个扫描电压下对被测物进行全角度扫描成像,获得符合成像灰度要求的N个投影图像序列;步骤13:基于N个投影图像序列,求解满足泊松极大似然原理的变能量多谱衰减表达式中的被测物的所有材质对应的投影厚度矩阵D;步骤14:基于D,计算X射线中每个窄能谱段的分离投影pr,r=1,2…R;步骤15:重建pr得到每个窄能谱段的重建图像ar。本发明的方法可以实现低成本、能谱分辨率高的多能谱CT成像。

    一种混叠冲击波信号的分解方法

    公开(公告)号:CN114219088B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202111290097.0

    申请日:2021-11-02

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及冲击波信号技术领域,具体地说,涉及一种混叠冲击波信号的分解方法,包括以下步骤:一、对独立冲击波信号衰减公式进行扩展,得到扩展后公式;二、根据扩展后的公式得到多个独立冲击波叠加信号公式;三、根据实际采集到的混叠冲击波信号构建分解模型,利用最小化分解误差来求参数;四、采用遗传算法求解分解模型,获得参数,利用参数即可确定独立冲击波信号。本发明能对混叠的冲击波信号进行分解,获取各独立的冲击波信号,对于评估冲击波毁伤能力有重要意义。

Patent Agency Ranking