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公开(公告)号：CN103115568B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310046886.9
申请日：2013-02-06
Applicant: 上海电缆研究所
Abstract: 本发明涉及光纤涂覆领域，特别是涉及一种光纤涂覆层几何参数的检测方法。本发明提供一种光纤涂覆层几何参数的检测方法，包括如下步骤：在光纤涂覆层端面向后合适的长度处剥离涂覆层，再采用光源从剥离处照入；光源通过涂覆层的传导，将光纤涂覆层的端面照亮；将光纤涂覆层的端面的图像投影至成像系统中，通过各涂覆层不同的材料衰减系数以及不同的光入射角，即能将各层次区分开。本发明通过上述的方法实现光纤涂覆层的几何参数端面测试的测试方法，大大提高光纤涂覆层几何参数测试仪的测试速度和测试精度，特别是一次涂覆层的几何参数的测试精度。
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公开(公告)号：CN104458037A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310430168.1
申请日：2013-09-18
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司 , 上海森首光电科技有限公司
IPC: G01K7/02
Abstract: 本发明提供一种电缆导体温度测量装置，包括包覆在电缆外表面上的热阻件，所述热阻件的内表面设有一与电缆外表面相接触的内层温度传感器，所述热阻件的外表面设有一外层温度传感器，所述内层温度传感器和外层温度传感器位于电缆的同一径向直线上。该电缆导体温度测量装置中，电缆导体发热，通过绝缘护套向外侧散热，并趋向于热平衡状态，在热阻件和绝缘护套内根据热阻的分布形成相应的温度梯度，再通过内层温度传感器和外层温度传感器的测量值得到热阻件的温度梯度数值，利用电缆热平衡数学模型计算出电缆导体的温度，从而提高电缆温度的测量准确性，保证电缆的安全运行。
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公开(公告)号：CN102818963B
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201210333144.X
申请日：2012-09-11
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种无BALUN多通道的对称数据电缆测试方法及系统，所述对称数据电缆测试方法包括提供一具有至少四个不平衡端口的矢量网络分析仪，令其上的每两个不平衡端口配置为对称平衡端口；提供一对称高频扩展矩阵，以扩展对称数据电缆的测试通道；令所述矢量网络分析仪测试对称数据电缆的反射参数和传输参数。本发明通过将矢量网络分析仪自身的两个不平衡端口配置成对称平衡端口，而摒弃了BALUN的接入，实现低插损、低回损，保证测试端口的对称性，避免测试频率全频段的不一致性，实现超高频端对称数据电缆的测试。
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公开(公告)号：CN103529515A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310525547.9
申请日：2013-10-30
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
IPC: G02B6/25
Abstract: 本发明提供一种光纤涂覆层端面处理方法，依次包括以下步骤：A、将光纤固定在一夹具中；B、将所述夹具放置在一切割设备上，所述切割设备中的刀片滚动式切割光纤；C、将切断后的光纤连同夹具一起放置在一加热设备上，所述加热设备加热光纤的切割面。该光纤涂覆层端面处理方法中，在切割光纤时，切割设备中的刀片为滚动式切割，使光纤受力均匀，从而能够保证光纤切割面平整，且滚动式的切割方式对光纤损伤小，进而能够最大程度地保持光纤自身形态特性，减少光纤的变形；另外，通过加热光纤切割面的方式消除在切割过程中，由于光纤涂覆层边缘受到刀片挤压所产生的微量变形，以恢复光纤涂覆层的边缘，最大程度地降低对光纤测试参数的影响。
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公开(公告)号：CN101676732B
公开(公告)日：2012-06-13
申请号：CN200810200066.X
申请日：2008-09-18
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
CPC classification number: G01R31/021
Abstract: 本发明公开了一种高频接线盘。包括盘体和第一夹具，所述第一夹具包括第一底座，和与第一底座枢轴连接的盖板，所述第一底座和盖板之间设有锁紧机构，第一底座上设有触点，盖板在相应于触点的位置上设有压柱。与现有技术相比，本发明涉及的高频接线盘采用了翻盖式夹具，可大大缩短剥线长度，能够高频测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN216283264U
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202123029823.1
申请日：2021-12-03
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海赛克力光电技术有限责任公司
Abstract: 本实用新型涉及光纤带几何尺寸测试技术领域，尤其涉及一种光纤带几何尺寸测试装置，包括：夹具，夹持被测光纤带的被测端；调节架，放置夹具并带动夹具移动；物镜，测试被测端端面并成像；摄像头，拍摄物镜的成像图像；控制器，与调节架和摄像头相连接；被测端端面的最大尺寸大于物镜的视场的最大尺寸，控制器根据摄像头拍摄到的图像控制调节架动作而带动夹具移动，使被测端端面上的指定区域移动到物镜的视场内。采用控制器进行图像分析处理和拼接，对被测光纤带的被测端端面从左至右依次进行多次连贯的测试和拍摄，并由控制器将多张图像依次拼接成完整图像并计算获得被测光纤带的几何尺寸，大大减少了人工干预的误差，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN201156064Y
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200720074552.2
申请日：2007-09-11
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 一种通道扩展装置，包括支架、设于支架上的工作台板、设于工作台板上的由多个夹具组成的测试盘、测试手臂，固定于支架上的屏蔽盒固定板，所述屏蔽盒固定板设有多个屏蔽盒，每一所述屏蔽盒内包括控制单元，所述屏蔽盒上设有连接接头和触点支撑柱，所述连接接头通过导线与夹具连接，所述控制单元分别与连接接头和触点支撑柱中的触点连接。本实用新型通过将控制单元设于屏蔽盒内，将各控制单元隔离，减小了通道之间的串音测试的影响。
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公开(公告)号：CN201757641U
公开(公告)日：2011-03-09
申请号：CN201020236604.3
申请日：2010-06-24
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种光纤端面双向定位和同步测试的测试装置，包括远端调节架(22)、近端调节架(21)和近端光源(31)，所述近端调节架(21)的后面设置所述近端光源(31)，其特征在于：所述近端调节架(21)与所述近端光源(31)之间设置可升降并可旋转的近端反射镜(61)，所述远端调节架(22)的后面设置一可升降并可旋转的远端反射镜(62)，所述远端反射镜(62)后面设置一远端光源(32)，所述远端反射镜(62)与所述近端反射镜(61)之间设置一可旋转的中间反射镜(63)，所述中间反射镜(63)的后面设置CCD(5)。采用这样的结构后，能够对裸光纤的端面和涂敷层的端面同步进行测试；可实现对光线注入端的光纤位置的精确定位；还能分别对裸光纤端面和涂敷层端面的成像光路进行标定校准。
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公开(公告)号：CN209215434U
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201821924687.8
申请日：2018-11-21
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
IPC: G01R1/04
Abstract: 本实用新型提供一种电缆测试夹具，其包括：绝缘座，绝缘座内设有相通的竖向通孔和横向通孔；夹线套，固定设于所述横向通孔中，且夹线套的套壁上具有与竖向通孔相通的过孔；测试杆，滑动穿设在所述竖向通孔和过孔中，测试杆的一端连设有测试导线；所述测试杆上具有横向孔，在竖向通孔内的测试杆上套设有复位弹簧，复位弹簧被设置为：当测试杆的另一端受压时复位弹簧被压缩，使所述横向孔与所述夹线套相通；复位弹簧复位时，使横向孔与所述夹线套错位，实现对电缆线芯的夹持。本实用新型可以适应多种线缆通用，方便耐用不易损坏。
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公开(公告)号：CN203825074U
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201420241897.2
申请日：2014-05-12
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司 , 上海森首光电科技有限公司
IPC: G01R19/00
Abstract: 本实用新型提供一种光纤光栅交流电流传感器，包括固定架、悬臂梁和导磁体，所述悬臂梁依次包括固定端、变形区和自由端，所述固定端固定在固定架上，所述自由端上设有一衔铁，所述导磁体呈开口环状，该导磁体的中间设有一容被测导线穿过的空腔，且导磁体的两端之间设有一与空腔相连通的缺口，所述导磁体两端和衔铁之间均设有气隙，悬臂梁还包括一凹槽，在凹槽的开口处有且仅有一根处于预拉伸状态的光纤光栅，该光纤光栅的两端分别与固定端、自由端固定连接，所述光纤光栅与变形区平行设置。该光纤光栅交流电流传感器结构简单、成本低、能很好地用于测定交流电流，且实现温度自补偿，消除了温度对光纤光栅测量电流的影响，进而提高测量精度。
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