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公开(公告)号：CN102792185A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201080047846.0
申请日：2010-10-22
Applicant: 美国地震系统有限公司
CPC classification number: G01D5/35312 , G01B9/0201 , G01B9/02014 , G01B9/02015 , G01B9/02027 , G01B9/0205 , G01D5/35316 , G01D5/35377 , G01H9/004 , G01L1/246 , G01P15/093 , G01V1/181 , G02B6/022
Abstract: 提供一种光纤微震感测系统。所述系统包括多个节点，所述多个节点中的每一个包括表面部分、地下部分和在所述表面部分和所述地下部分之间延伸的光缆。所述表面部分包括(1)光源，用于沿着所述光缆向所述地下部分发送光学信号；以及(2)光接收器，用于从所述地下部分接收沿着所述光缆传播的返回光学信号。所述地下部分包括至少一个变换器，所述至少一个变换器中的每一个包括(1)被配置成紧固到感兴趣主体的固定部分，(2)相对于所述固定部分具有移动范围的可移动部分，(3)位于所述固定部分和所述可移动部分之间的弹簧，以及(4)与所述可移动部分咬合的质量块。所述光缆包括缠绕在所述至少一个变换器中的每一个的所述固定部分和所述可移动部分之间的一段光纤的长度，所述一段光纤跨越所述弹簧。在所述变换器的一个公开方面，所述质量块包围所述可移动部分。
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公开(公告)号：CN101765765B
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200880101132.6
申请日：2008-06-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01B9/02069 , G01B9/0201 , G01B11/06 , G01B2290/35 , G01N21/45
Abstract: 本发明的光学特性测量装置(1)具备光源部(10)、第1光耦合器(21)、第2光耦合器(22)、透镜(31)、透镜(32)、相位调制部(40)、驱动部(41)、光程长度差调整部(50)、控制部(51)、受光部(60)、同步检测部(70)以及测量部(80)。相位调制部(40)以频率(f)对光进行相位调制。同步检测部(70)在输出对应于从受光部(60)输出的电信号中所含的频率(f)的成分的大小的值的第1信号的同时，输出对应于该电信号中所含的频率(2f)的成分的大小的值的第2信号。控制部(51)以根据从同步检测部(70)输出的第1信号或者第2信号而使被光程长度差调整部(50)调整的光程长度差为规定值的方式进行控制。
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公开(公告)号：CN1784588B
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN200480012323.7
申请日：2004-03-08
Applicant: 齐戈股份有限公司
CPC classification number: G01B9/0201 , G01B9/02057 , G01B9/02084 , G01B9/02088 , G01B9/0209 , G01B11/0675 , G01B2290/70
Abstract: 一种方法，其包括：将可从用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号导出的信息和与测试对象的多个模型相对应的信息相比较，其中，通过一系列用于测试对象的特性而将所述多个模型参数化。与多个模型相对应的信息可包括：与每个测试对象的模型相对应的、有关扫描干涉测量信号的变换(例如，傅立叶变换)的至少一个幅值分量的信息。在第二方面中，所述模型对应于固定表面高度，并且，通过不同于固定表面高度的一系列特性将它们参数化。在第三方面中，所述比较包括：考虑对干涉测量信号的系统贡献。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102038488A
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN201010515587.1
申请日：2010-10-22
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B3/14
CPC classification number: G02B27/286 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/0201 , G01B9/02044 , G01B9/02067 , G01B9/02091 , G01B2290/70 , G02B26/06 , G02F1/13318 , G02F1/13363 , G02F2201/58 , G02F2203/12 , G02F2203/18 , G02F2203/50
Abstract: 一种自适应光学设备、成像设备、以及自适应光学方法。所述自适应光学设备包括：第一转换单元，其被构造为将光的两个偏振分量中的一个的偏振方向转换为所述偏振分量中的另一个的偏振方向，光由光源发射；光调制单元，其被构造为在经转换的偏振方向上对通过第一转换单元转换的光的两个偏振分量进行调制；第二转换单元，其被构造为将被光调制单元调制的光的偏振分量的方向转换为彼此交叉的方向；和照射单元，其被构造为用被光调制单元转换的光照射物体。
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公开(公告)号：CN1784587B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200480012299.7
申请日：2004-03-08
Applicant: 齐戈股份有限公司
CPC classification number: G01B9/0201 , G01B9/02057 , G01B9/02084 , G01B9/02088 , G01B9/0209 , G01B11/0675 , G01B2290/70
Abstract: 一种方法，其包括：将可从用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号导出的信息和与测试对象的多个模型相对应的信息相比较，其中，通过一系列用于测试对象的特性而将所述多个模型参数化。正被比较的可导出的信息可与用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号的形状相关。
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公开(公告)号：CN101566589A
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN200910135979.2
申请日：2009-05-07
Applicant: 深圳先进技术研究院
CPC classification number: G01N21/3581 , G01B9/0201 , G01B9/02014 , G01B9/02069 , G01N2021/1785
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹成像装置和太赫兹成像方法。所述太赫兹成像装置包括太赫兹脉冲发射装置、分振幅干涉装置、探测器；所述分振幅干涉装置将太赫兹脉冲发射装置发射的太赫兹脉冲分为参考光和信号光；并且使参考光和信号光的光程差小于一个波列长度，此时，参考光和信号光发生分振幅干涉，产生包含有样品信息的太赫兹脉冲分振幅干涉信号；所述探测器接收太赫兹脉冲分振幅干涉信号，产生包含有样品信息的电信号。所述太赫兹成像装置是采用分振幅干涉的手段对样品进行成像，因此可以对样品进行真正的三维成像，并且具有高分辨率和高信噪比的优点。与传统的太赫兹成像技术相比，本发明在光学成像领域可以说是一个开拓性发明。
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公开(公告)号：CN1784587A
公开(公告)日：2006-06-07
申请号：CN200480012299.7
申请日：2004-03-08
Applicant: 齐戈股份有限公司
CPC classification number: G01B9/0201 , G01B9/02057 , G01B9/02084 , G01B9/02088 , G01B9/0209 , G01B11/0675 , G01B2290/70
Abstract: 一种方法，其包括：将可从用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号导出的信息和与测试对象的多个模型相对应的信息相比较，其中，通过一系列用于测试对象的特性而将所述多个模型参数化。正被比较的可导出的信息可与用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号的形状相关。
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公开(公告)号：CN1475769A
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN03149200.2
申请日：2003-06-20
Applicant: 富士写真光机株式会社
Inventor： 葛宗濤
CPC classification number: G01B9/02083 , G01B9/0201 , G01B9/0209
Abstract: 在一种低相干性干涉条纹分析方法中，利用包络函数，把由样品的物光和参考光形成的干涉条纹光强分布，表示为光强的分布函数。接着进行相位移动，以便对每一移动行程测量光强。根据由此在相应各移动行程上测量的光强，计算光强分布函数的未知参数。然后，根据计算的未知参数，确定包络函数曲线的峰值位置。根据由此确定的峰值位置，确定样品的相位信息。
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