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公开(公告)号：CN115656771A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211293878.X
申请日：2022-10-21
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于启发式搜索的边界扫描测试矩阵生成方法，先统计被测电路板中的网络数量并计算计算任意两网络间的归一化距离，然后通过任意两网络间的归一化距离计算网络间发生短路的概率，从而构造网络之间的短路概率矩阵；接着设置测试矩阵，并根据测试矩阵生成多个行测试矩阵，最后基于测试代价和启发函数值，通过建立搜索树的方式，搜索具有最小代价的测试矩阵。
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公开(公告)号：CN113221496B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202110489544.9
申请日：2021-05-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06F17/18 , G06F17/16 , G06F111/08 , G06F111/10 , G06F119/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开了一种基于三维测试性分析模型的故障诊断方法，通过故障和测点间的依赖关系，以及温度对于测点可靠性的影响来构建三维测试性分析模型，然后在某一固定温度kq下，通过测试结果序列与故障依赖矩阵实现待测系统在不同温度环境的单故障、多故障定位。
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公开(公告)号：CN109145516B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201811167953.1
申请日：2018-10-08
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06N3/08 , G06N3/00 , G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于改进型极限学习机的模拟电路故障识别方法，先采用模拟电路在不同转折频率下的电压特征向量作为输入，再基于各熵率选取各个隐藏层神经元对应的输入向量，并通过多维粒子群算法生成达到最高相关度的权值和偏置，然后通过粒子群算法和迭代运算找到合适的影响参数，从而构造高效的隐藏层模型，最后通过该隐藏层模型训练出识别模拟电路故障的诊断模型，进而来识别模拟电路故障，具有故障识别精度高、速度快等特点。
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公开(公告)号：CN114429082A
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202210021680.X
申请日：2022-01-10
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/27 , G01R31/28 , G06N3/00 , G06F111/04
Abstract: 本发明公开了一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法，通过构建测试不确定性的多信号模型，并给出该模型下由隔离率、检测率、测试代价、虚警率以及漏检率的优化目标函数和约束条件，然后利用多目标粒子群算法以测试代价，虚警率，漏检率作为优化目标，检测率、隔离率作为约束条件进行多目标优化，最终得到多组优选后的测点选择方案。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109445413B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201811260038.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种大规模电路互连网络的测试向量自动生成方法，首先从电路板中提取出各个互连网络及其配置信息，计算每个互连网络的短路故障概率，然后采用GNS算法对互连网络进行初步分组，为每个互连网络分配GNS序列作为测试向量；再基于遗传算法对互连网络分组进行优化，得到最优互连网络分组方案；最后根据最优互连网络分组方案将GNS序列分配给各个互连网络。本发明针对大规模电路的边界扫描测试，自动生成测试向量，可以缩短测试时间，且能够有效避免征兆误判和征兆混淆的情况发生，故障测试诊断性能良好。
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公开(公告)号：CN109164377B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201811242553.2
申请日：2018-10-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种高速AD/DA混合芯片的故障测试装置及方法，用于诊断电路板上的高速ADC和DAC器件；对于ADC的诊断，将给定电压值输入PC上位机，PC上位机通过AD/DA一体模块产生模拟电压，并加载至被测ADC，产生测试指令和测试向量，在通过IEEE1149.1控制器作用于AD测试模块，AD测试模块快将采集到的电压量化值串行移出至IEEE1149.1控制器，继而IEEE1149.1控制器将数据发送给PC上位机，并与预期响应作比较，可以判断ADC故障情况；对于DAC的诊断，将给定电压值输入PC上位机，PC上位机将电压值转化为测试向量并产生测试指令，经IEEE1149.1控制器译码后，测试向量通过TDI移入DA测试模块，进而加载至被测DAC，再接收由AD/DA一体模块采集到的被测DAC输出的模拟电压，与预期响应作比较，可以判断DAC故障情况。
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公开(公告)号：CN112287628A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011032139.6
申请日：2020-09-27
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06N3/12 , G06F111/04 , G06F111/06
Abstract: 本发明公开了一种基于约束优化的模拟电路故障参数范围确定方法，分别采用遗传算法来获取故障元件参数范围下限和上限，在每次运行遗传算法时，将元件参数向量作为遗传算法种群的个体，在生成初始种群的时候，故障元件的参数值在预设的故障取值范围中取值，其余元件在容差范围内取值，在迭代过程中基于个体误差和误差精度的约束来计算个体适应度值，在迭代完成后根据最后一代种群提取出故障元件参数范围的下限或上限。本发明基于约束优化通过遗传算法实现了对于故障元件参数范围的精确确定。
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公开(公告)号：CN110470979B
公开(公告)日：2020-12-01
申请号：CN201910753305.2
申请日：2019-08-15
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06F30/36
Abstract: 本发明公开了一种基于故障特征区域的模拟电路故障诊断方法，首先对模拟电路进行模糊组分析，得到各个模糊组信息，对每个模糊组的代表元件分别在元件参数值的容差范围内设置若干元件参数向量，获取各个模糊组的圆模型参数特征向量范围凸域的边界向量，采用轮廓拟合得到各个模糊组的故障特征区域轮廓，在故障诊断时根据退化数据得到当前模拟电路的圆模型参数，判断该圆模型参数是否位于故障特征区域内，从而实现故障诊断。本发明可以得到容差影响下的模拟电路故障特征区域，从而实现故障诊断。
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公开(公告)号：CN109164378B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201811273121.8
申请日：2018-10-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明公开了一种边界扫描测试链路的设计及测试方法，先将设计的边界扫描测试链路添加到被测电路板，再将被测电路板中引脚利用率低的数字芯片按照实现功能划分为不同的功能模块，并采用边界扫描测试链路连接方式连接，形成完整的边界扫描测试总链路，最后对边界扫描测试总链路进行分级测试，找出具体的故障类型和故障位置，并进行结果展示。
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