接合体、陶瓷铜电路基板及半导体装置

    公开(公告)号:CN116457321B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202180072058.5

    申请日:2021-10-20

    Abstract: 实施方式涉及的接合体具备陶瓷基板、铜板和接合层。上述接合层配置在上述陶瓷基板的至少一个面上,且接合上述陶瓷基板和上述铜板。上述接合层含有Ag及Ti。上述铜板包含第一区域、第二区域及第三区域。上述第一区域在厚度方向与上述接合层分离。上述第二区域设在上述接合层与上述第一区域之间,且具有比上述第一区域高的Ag浓度。上述第三区域设在上述接合层与上述第二区域之间,且具有比上述第二区域低的Ag浓度。

    半导体装置
    35.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117913034A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202410073781.0

    申请日:2021-05-17

    Abstract: 实施方式的接合体具备:陶瓷基板、铜板、以及配置于上述陶瓷基板的至少一面且将上述陶瓷基板与上述铜板接合的接合层。上述接合层含有钛。上述接合层具有第一区域、和位于上述第一区域与上述铜板之间的第二区域,上述第一区域包含以钛作为主成分的层,上述层形成于上述接合层的与上述陶瓷基板的界面。通过EDX测定上述第一区域及上述第二区域各自的测定区域的200μm×厚度的范围中的Ti浓度时,上述接合体的上述第一区域的钛浓度M1at%与上述第二区域的钛浓度M2at%之比M1/M2为0.1~5。

    接合体的制造方法及使用了其的陶瓷电路基板的制造方法

    公开(公告)号:CN117321020A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202280035521.3

    申请日:2022-05-17

    Abstract: 实施方式的接合体的制造方法的特征在于,其是使用连续炉将包含金属构件、陶瓷构件和设置于它们之间的钎料层的层叠体一边搬送一边处理的接合体的制造方法,具备以下工序:在不活泼气氛中以从200℃至接合温度为止的上述层叠体的平均升温速度15℃/分钟以上对上述层叠体进行加热的工序;在不活泼气氛中以600℃以上且950℃以下的范围内的上述接合温度将上述层叠体接合的工序;和以上述层叠体的平均降温速度15℃/分钟以上将上述层叠体从上述接合温度冷却至200℃为止的工序。此外,陶瓷基板优选为氮化硅基板。

    接合体、陶瓷电路基板及半导体装置

    公开(公告)号:CN115989579A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202180053012.9

    申请日:2021-10-07

    Abstract: 实施方式涉及的接合体具备陶瓷基板、铜板和接合层。接合层配置在所述陶瓷基板的至少一面上,接合所述陶瓷基板和所述铜板。所述接合层含有Ti反应层及多个第1合金。所述Ti反应层含有氮化钛或氧化钛作为主成分。所述多个第1合金位于所述Ti反应层与所述铜板之间。所述多个第1合金分别含有选自Cu‑Sn合金及Cu‑In合金中的一种以上。所述多个第1合金具有相互不同的Sn浓度或In浓度。根据实施方式,能够降低翘曲量,并且能够提高接合工序的升温速度及降温速度。实施方式中,作为陶瓷基板氮化硅基板是适合的。

    磁性材料及设备
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105448446A

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201510540828.0

    申请日:2015-08-28

    CPC classification number: H01F27/255 H01F1/28 H01F1/37 H01F41/0246

    Abstract: 实施方式涉及一种磁性材料和设备,所述磁性材料是具备含有磁性金属的多个扁平粒子、以及配置在扁平粒子周围且电阻比扁平粒子高的基质相的磁性材料,在磁性材料的截面,扁平粒子的长宽比为10以上,当将扁平粒子的长径设定为L、将连接扁平粒子的2个端点的直线长度设定为W时,将满足W≤0.95×L的扁平粒子连续层叠的部分的外周包围的面积的比例是截面的面积的10%以上。

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