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公开(公告)号：CN109883461B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201910199844.6
申请日：2019-03-15
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01D5/353
Abstract: 一种多层光纤应变盘的制作装置及方法，属于光纤传感技术领域。该装置由缠绕工装、可调节转轴装置、覆胶装置、张力控制装置、供纤装置以及固化封装装置六部分组成。其设计思想为：通过弹性盘片搭配对称设计的缠绕工装，完成两侧光纤同步绕制，并通过共轴转动设计确保绕制光纤长度一致，实现两侧多层光纤环的缠绕固化以及与弹性盘片的粘接同时进行；在绕制过程中通过覆胶装置的过胶孔、张力控制装置等辅助设备并结合相应制作工艺方法，完成光纤覆胶控制与缠绕张力控制，确保实现两侧光纤绕制覆胶均匀平衡以及缠绕张力一致。利用该装置可以达到两侧多层光纤缠绕的同步一致，并实现多层光纤应变盘制作中光纤的绕制固化以及与弹性盘片粘接同时进行。
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公开(公告)号：CN107167085B
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201710277954.0
申请日：2017-04-25
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包括光源输出模块、膜厚测量探头模块、干涉与解调模块以及采集与控制模块等四部分。本发明的测量探头能同时实现对传输光线的透射和反射，无待测薄膜时可实现两探头间绝对距离H的测量；待测薄膜安置在两探头中间，实现两探头与待测薄膜前后表面绝对距离H1和H2的测量；待测薄膜厚度d可由d＝H‑(H1+H2)确定。本发明实现不需标定样品即可对透明与不透明薄膜的厚度进行测量，干涉光束共光路克服了测量过程中由于测量系统内部机械不稳定和外部环境变化所带来的影响，具有自校准、测量结果可溯源、稳定性高等优点。
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公开(公告)号：CN109916533A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910199839.5
申请日：2019-03-15
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 一种PDH解调的保偏光栅FP腔温度应变同时测量装置，属于光电探测技术领域。本发明包括超窄线宽光源、光源扫频装置、保偏光纤光栅、偏振分束装置、正交解调装置，窄线宽可调谐激光器由三角波驱动，提供扫频光源，Y波导调制后信号与后部光纤呈45°焊接，反射信号由PBS进行偏振态分离，利用保偏光纤光栅的FP腔特性进行温度和应变的探测，使用PDH技术获得谐振峰的准确频移信号，并通过保偏光纤光栅FP腔的两个偏振轴的物理特性，同时解算出温度与应变的信号。本发明的有益效果在于解调端口使用两个正交解调系统对信号进行解调，获得更高信噪比的信号，提高了测试精度，可用于恶劣环境条件下的高精度光纤光栅温度，应变传感器的制造。
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公开(公告)号：CN109883461A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910199844.6
申请日：2019-03-15
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01D5/353
Abstract: 一种多层光纤应变盘的制作装置及方法，属于光纤传感技术领域。该装置由缠绕工装、可调节转轴装置、覆胶装置、张力控制装置、供纤装置以及固化封装装置六部分组成。其设计思想为：通过弹性盘片搭配对称设计的缠绕工装，完成两侧光纤同步绕制，并通过共轴转动设计确保绕制光纤长度一致，实现两侧多层光纤环的缠绕固化以及与弹性盘片的粘接同时进行；在绕制过程中通过覆胶装置的过胶孔、张力控制装置等辅助设备并结合相应制作工艺方法，完成光纤覆胶控制与缠绕张力控制，确保实现两侧光纤绕制覆胶均匀平衡以及缠绕张力一致。利用该装置可以达到两侧多层光纤缠绕的同步一致，并实现多层光纤应变盘制作中光纤的绕制固化以及与弹性盘片粘接同时进行。
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公开(公告)号：CN108317962A
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201810084488.9
申请日：2018-01-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了消除透射光的共光路自校准薄膜厚度与折射率的测量方法，属于光学测量领域，包含如下步骤：在不插入待测薄膜时，打开第1光开关，关闭第2光开关，驱动光程扫描装置进行光程扫描，保存采集到的信号；关闭第1光开关，打开第2光开关，驱动光程扫描装置进行光程扫描，保存采集到的信号；解调采集到的信号；若测量不透明待测薄膜厚度，打开第1光开关与第2光开关，驱动光程扫描装置进行光程扫描，进行光程匹配，保存采集到的信号；解调采集到的信号，获得二倍光程；计算不透明待测薄膜厚度；测量透明薄膜厚度和折射率时，方法类似。本发明测量功能多；能够消除透射光的影响提高精度；降低识别难度；降低光路复杂性，提高测量速度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116105973A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202211394312.6
申请日：2022-11-08
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种用于超高偏振消光比发生的光纤低应力夹持与对准装置，所述装置包括光纤样品模块、可调磁力夹持模块、双目视觉系统模块、同轴调节与对准模块、角度旋转与测量模块，其中：所述光纤样品模块包括第一光纤样品和第二光纤样品；所述光纤可调磁力夹持模块包括第一可调磁力夹具和第二可调磁力夹具；所述同轴调节与对准模块包括第一同轴调节与对准模块和第二同轴调节与对准模块；所述双目视觉系统模块、第二同轴调节与对准模块、角度旋转与测量模块固定在大理石台上。该装置可以实现光纤的极低应力夹持和精密同轴对准，具有夹持应力低、对准精度高、适用范围广等优点，可用于偏振消光比测试仪器标定领域。
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公开(公告)号：CN112082492B
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202010919118.X
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种具有角度监测的薄膜厚度与折射率同时测量的装置及方法，属于光学测量领域，包括宽谱光输出模块、窄线宽激光输出模块、薄膜测量模块、解调干涉仪模块以及采集与控制模块等五个主要部分。本发明基于偏振复用的原理，利用双面四探头的测量结构，在对薄膜厚度及折射率测量的基础上，实现对其角度偏移进行监测及校正，提升厚度测量准确性的同时可对薄膜厚度均匀性的评价。偏振复用技术的采用消除了透射光影响，降低特征干涉峰的识别难度。本发明实现不需要额外的装置即可实现对薄膜的偏转角度进行测量，具有薄膜厚度与折射率测量准确性高、评价结果丰富、自校准、自标定、可溯源以及测量系统稳定性高等优点。
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公开(公告)号：CN113175894A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110428788.6
申请日：2021-04-21
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种物体表面三维形貌白光干涉测量装置及方法，本发明装置在Linnik型干涉仪的基础上，添加了第四透镜组(6)、第一面阵相机(13)以及六维位移台(17)组成差分探测系统。借助校准样品对第一面阵相机(13)及第四透镜组(6)进行精密六维调节，实现第一面阵相机(13)与第二面阵相机(14)亚像素级别的对准，并对采集得到干涉信号进行差分运算处理，消除信号中的直流分量对测量结果的影响，提升白光干涉信号的信噪比。本发明利用基于白光干涉信号的面阵差分探测实现了物体表面三维形貌的高精度测量。
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公开(公告)号：CN112902921A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110105066.7
申请日：2021-01-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种力平衡推挽式光纤二维倾斜测量装置，属于光纤干涉测量领域，它主要包括信号处理系统、信号采集系统、二维倾斜仪、光电复合缆以及通信线缆，二维倾斜仪主要包括内部框架、外部壳体、倾斜摆、光纤器件盒、光电转换电路，倾斜摆悬挂于内部框架顶部并能绕顶部一点做定点摆动，四个敏感光纤均匀分布于倾斜摆四周，通过与内部框架、倾斜摆等机械结构组件复合，同时以一定的预应力缠绕于倾斜摆和内部框架的两对缠纤柱上构成力平衡式推挽结构，两对推挽结构同时共用一个倾斜摆。本装置的优点是可以实现对空间一点的二维倾斜角度测量，而且可以实现较高的测量灵敏度。
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公开(公告)号：CN109828339B
公开(公告)日：2020-09-25
申请号：CN201910199842.7
申请日：2019-03-15
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G02B6/44
Abstract: 一种单层光纤应变盘装置与制作方法，属于光纤传感技术领域。一种单层光纤应变盘装置，结构包括上光纤盘缠绕压片、下光纤盘缠绕压片、弹性盘片、固定螺母，下光纤盘缠绕压片的中心螺纹柱依次穿过弹性盘片的中心孔、上光纤盘缠绕压片的中心孔，固定螺母与中心螺纹柱相连接。本发明装置结构简单、易于加工，使用该装置制作单层光纤应变盘的方法容易、方便操作，且单层光纤应变盘的制作尺寸不受限制，可实现弹性盘片上、下表面上光纤缠绕区域对称，实现较好的推挽效果；在批量制作单层光纤应变盘中，使用该方法不仅可以实现快速高效的完成光纤应变盘制作，还可以保证单层光纤应变盘样品之间的一致性，进而提高传感器的一致性。
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