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公开(公告)号：CN109468133A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811377267.7
申请日：2018-11-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种提高光学测温技术在高温区间灵敏度的温度敏感材料及其使用方法，本发明涉及一种提高光学测温技术在高温区间灵敏度的温度敏感材料及其使用方法。本发明的目的是为了解决现有的稀土离子荧光强度测温技术在较高温度区间内的相对灵敏度会急剧衰减的问题，在463到783K的温度范围内，稀土Tb3+离子所发出的位于520-565nm波段的荧光的强度和温度之间有单调对应关系，所以可以用来进行温度的表征。基于该方法，所获得的相对灵敏度在463K温度处可以达到1.12％K-1，明显优于目前常规光学方法所能达到的最高灵敏度，本发明应用于光学测温领域。
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公开(公告)号：CN108489617A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810241596.2
申请日：2018-03-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种提高铥离子近红外上转换荧光测温灵敏度的方法，本发明涉及一种提高铥离子近红外上转换荧光测温灵敏度的方法。本发明的目的是为了解决Tm3+离子近红外上转换荧光测温灵敏度较低的问题，具体的步骤包括：(1)制备Yb3+和Tm3+离子共同掺杂的NaYF4纳米晶体；(2)在接收荧光的光谱仪的狭缝入口加上400nm的高通滤光片模块；(3)利用近红外激光二极管对该样品进行激发，对该样品进行标定获得标准曲线即可进行实际温度的监测。本发明能够切实有效地提高Tm3+离子近红外上转换荧光的测温灵敏度，进而提高测温精度。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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公开(公告)号：CN105300563B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201510810135.9
申请日：2015-11-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种上转换荧光强度比测温技术的修正方法，本发明涉及一种上转换荧光强度比测温技术的修正方法。本发明是要解决现有测温技术测温结果不准确的问题，方法为：激发源发出的激发光经过凸透镜汇聚照射到感温材料上，感温材料所发射的上转换荧光通过凸透镜汇聚入射到光谱仪中，光谱仪连接存储示波器和计算机进行数据处理，给出修正曲线，即完成。本发明的修正方法消除了荧光强度比与玻尔兹曼分布律的偏差，在保持了荧光强度比方法抗干扰能力强、稳定性好、灵敏度高的优点的同时，提高了其测温的准确度。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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公开(公告)号：CN107044958A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710160893.X
申请日：2017-03-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于紫外宽带二级吸收光谱的氧气浓度测量系统及测量方法。涉及一种气体浓度的检测装置及方法。为了解决氧传感器技术测量氧气浓度时，稳定性差、误差大、维护困难、成本高、灵敏度不高的问题。本发明所述的氘灯发出的紫外宽带光经过第一透镜和第一滤光镜片准直为平行光后射入气体池内，经过待测氧气吸收导致平行光的光谱强度减弱形成透射光；透射光经过第二滤光镜片和第二透镜汇聚后射入光栅光谱仪的入射狭缝，光栅光谱仪将汇聚光转换为数据信号后经过光电倍增管放大；计算机对放大的数据信号进行数据处理，得出待测氧气的浓度。有益效果为确定性好，测量误差小、成本低。适用于工业过程中的氧气监测、环境大气监测。
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公开(公告)号：CN105300555A
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201510810190.8
申请日：2015-11-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于荧光谱线增宽机制的荧光强度比测温方法，本发明涉及一种基于荧光谱线增宽机制的荧光强度比测温方法。本发明是要解决现有荧光强度比测温技术中测温灵敏度和测温准确性低的问题，方法为：405nm发光二极管发出的近紫外光经过凸透镜汇聚照射到Eu3+掺杂感温材料上，Eu3+掺杂感温材料所发射的荧光通过凸透镜汇聚入射到成像光谱仪中，光谱仪连接计算机进行数据处理，建立谷峰值荧光强度比温度曲线，校准，然后将Eu3+掺杂感温材料置于待测温度场，监测感温材料发射的荧光，对比谷峰值荧光强度比温度曲线。本发明在较宽的温度范围内具有适合的灵敏度，测温范围较广，不用频繁的更换感温材料。本发明应用于稀土荧光测温领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103868903A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201410138237.6
申请日：2014-04-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 一种近红外量子剪切绝对光致发光量子效率定量测量方法，涉及量子剪切材料绝对发光效率计量领域。解决了现有采用理论量子效率的测量方法只能相对的评价量子剪切材料性能，测量准确度低，导致无法实现对量子剪切材料进行绝对评价的问题。将标准灯置于积分球探测系统的积分球内，测量标准灯发光光谱，获得积分球探测系统响应函数，分别使激光照射在空积分球内，照射入积分球内、且不直接照射在样品上和照射入积分球内、且直接照射在样品上，三种情况下获得积分球出射激光及样品荧光的光谱；再对积分球出射激光及样品荧光的光谱进行校准，将校准过的光谱转换为光子数分布光谱，对光子数分布光谱进行积分，计算获得绝对量子效率η。应用在量子测量领域。
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公开(公告)号：CN103353440A
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：CN201310298204.3
申请日：2013-07-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 采用气体吸收光谱测量材料漫反射率的装置及方法，属于材料漫反射率的测量技术领域。本发明为了解决由于积分球的非中性特征导致光谱在不同波段发生变化而使材料的漫反射率测量不准确的问题。装置包括电源、激光光源、聚焦透镜、积分球、光电探测器、数据采集卡和计算机，积分球具有入光孔和出光孔，所述入光孔的中心与积分球球心的连线和出光孔的中心与积分球球心的连线的夹角为直角，积分球的内壁均匀喷涂待测材料；方法为激光光源发出的光束在积分球内与已知浓度气体及待测材料相互作用后，被光电探测器接收，光电探测器输出的电信号通过数据采集卡传输给计算机，计算机通过计算获得待测材料的漫反射率。本发明用于测量材料漫反射率。
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公开(公告)号：CN102590092B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201210058360.8
申请日：2012-03-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于激光吸收光谱技术的吸收光程延长的装置及方法，属于气体测量领域，本发明为解决现有的激光吸收光谱技术吸收光程延长方法所导致的气体容器体积大、检测响应速度慢的问题。本发明装置包括气体池、多孔材料芯、探测器、一维平移台和放大器，吸收光程延长方法为：在一维平移台带着探测器移动的方向上建立一维坐标系，该一维坐标系的原点为探测器初始位置，驱动一维平移台带着探测器自初始位置点开始移动了n个位置点，每个位置点的坐标为Xi，测量探测器在第i个位置对应的吸收光程为Leff(Xi)，根据n个位置点及其对应吸收光程，通过二次多项式拟合获得吸收光程Leff(Xi)与探测器位置坐标x的关系式f(x)＝Leff(x)，进而通过调整探测器的位置来达到预期的吸收光程。
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公开(公告)号：CN103091267A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310009320.9
申请日：2013-01-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/31
Abstract: 基于二极管激光吸收光谱的积分球等效路径标定装置及方法，属于积分球等效路径标定技术领域。它解决了积分球等效路径在实际应用中存在较大误差的问题。装置由信号发生器、温度电流控制器、764nm二极管激光器、积分球、光电探测器、数据采集卡和计算机组成；方法为：信号发生器产生10Hz的扫描锯齿波信号，并将该扫描锯齿波信号加载到温度电流控制器的控制电流中，将温度电流控制器的控制电流注入到764nm二极管激光器中，光电探测器将接收到的光信号转换为电信号，该电信号由数据采集卡采集后传输给计算机，计算机对采集获得的信号进行处理，获得积分球等效路径，实现对积分球等效路径的标定。本发明用于对积分球等效路径的标定。
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公开(公告)号：CN102994085A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201310006108.7
申请日：2013-01-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C09K11/78
Abstract: 一种新型发红光纳米荧光粉及其制备方法，涉及纳米荧光材料及其制备方法的领域。本发明是要解决现有的发红光纳米荧光材料，存在着生产成本高、生产工艺复杂、晶格缺陷多和紫外吸收带宽窄，现有的纳米级荧光粉的制备方法中由于采用球磨方法球磨微米级的荧光粉，球磨过程中易引入杂质，易对发光中心造成破坏的技术问题。一种新型发红光纳米荧光粉是分子式为EuxGd1-xBO3的粉状固体，其中0.05≤x≤0.2。制备方法：一、准备原材料；二、制备溶液；三、制备胶体；四、制备干凝胶；五、锻烧。本发明适用于荧光材料领域。
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