一种基于波形匹配的石英晶片研磨控制系统

    公开(公告)号:CN108655945A

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201810502283.8

    申请日:2016-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于波形匹配的石英晶片研磨控制系统,能在石英晶片研磨过程中稳定实时地测量从5M到70MHZ的频率;本系统可以显示晶片研磨生产过程中的各种状态并提出建议,在线测频过程中实时监控石英晶片研磨状态,若出现异常情况实时关停研磨机,防止超频事件的发生,用户可根据触摸屏上显示的这些状态有效提高生产效率;加入“跳频约束策略”彻底解决ALC系统“在某些频段发生测频值跳变”的问题;提供晶片研磨实时平均频率、研磨速率和散差等多样化统计参数,为更换研磨砂和维修研磨盘面提供科学依据,解决ALC系统“无法监控研磨机状态”的缺陷。

    基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法

    公开(公告)号:CN108614153A

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201810502284.2

    申请日:2016-01-22

    Abstract: 本发明公开了基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法,能在石英晶片研磨过程中稳定实时地测量从5M到70MHZ的频率;本系统可以显示晶片研磨生产过程中的各种状态并提出建议,在线测频过程中实时监控石英晶片研磨状态,若出现异常情况实时关停研磨机,防止超频事件的发生,用户可根据触摸屏上显示的这些状态有效提高生产效率;加入“跳频约束策略”彻底解决ALC系统“在某些频段发生测频值跳变”的问题;提供晶片研磨实时平均频率、研磨速率和散差等多样化统计参数,为更换研磨砂和维修研磨盘面提供科学依据,解决ALC系统“无法监控研磨机状态”的缺陷。

    纸币定型捆扎检测方法
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105015856B

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201510304715.0

    申请日:2015-06-04

    Abstract: 本发明公开了纸币定型捆扎检测方法,通过相机采集24位BMP格式图像,将该图像发送至控制系统,控制系统对图像数据进行灰度化处理,所述图像数据进行灰度化处理为对24位图像数据转成8为3通道图像数据,再将3通道转成单通道256色图像数据;对图像数据二值化、形态学处理腐蚀膨胀处理、八邻域找边处理完成寻找白色纸带、对图像二值化后,则对图像进行边界跟踪,提取出外边缘,区域内寻找印章处理;在塑封之前,摄像检测装置通过本发明的方法进行预检,如果数量正确自动进行塑封,如果数量出现错误,则暂停塑封,并发出警报,从而更加自动化,解决了捆钞数量错误的问题。

    石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法

    公开(公告)号:CN106644053A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611203123.0

    申请日:2016-12-23

    CPC classification number: G01H17/00

    Abstract: 本发明公开了石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法,包括如下步骤:自动搜索数据初始化、自动搜索测频参数设置、自动搜索扫频参数设置、自动搜索谐振频率、自动搜索频率切换参数设置、自动搜索完成数据处理;本发明的优点在于:石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法,具有抗干扰性强、搜索稳定、操作简单、测量精度高、测频信息完整等特点。

    纸币定型捆扎检测方法
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105015856A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201510304715.0

    申请日:2015-06-04

    CPC classification number: B65B57/14

    Abstract: 本发明公开了纸币定型捆扎检测方法,通过相机采集24位BMP格式图像,将该图像发送至控制系统,控制系统对图像数据进行灰度化处理,所述图像数据进行灰度化处理为对24位图像数据转成8为3通道图像数据,再将3通道转成单通道256色图像数据;对图像数据二值化、形态学处理腐蚀膨胀处理、八邻域找边处理完成寻找白色纸带、对图像二值化后,则对图像进行边界跟踪,提取出外边缘,区域内寻找印章处理;在塑封之前,摄像检测装置通过本发明的方法进行预检,如果数量正确自动进行塑封,如果数量出现错误,则暂停塑封,并发出警报,从而更加自动化,解决了捆钞数量错误的问题。

    阻抗匹配的石英晶片抛光研磨在线测频系统

    公开(公告)号:CN118671439A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410653110.1

    申请日:2019-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种阻抗匹配的石英晶片抛光研磨在线测频系统,包括DDS信号模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、阻抗匹配模块、信号处理模块、MCU控制系统模块和用于为以上模块提供工作电压的电源模块,所述信号处理模块进一步依次包括4阶有源高通电路、3级运放高速放大电路、2阶无源滤波电路、峰峰值比较电路、2阶高通交流耦合电路、2阶信号放大电路、4阶有源低通电路和加法电压跟随电路。

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