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公开(公告)号：CN112652402A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202011462314.5
申请日：2020-12-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G16H50/80 , G01N33/543 , G01N33/569 , G16B5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子谐波响应的病毒检测方法及系统，属于纳米测试技术领域，包括：分别产生交流磁场和直流偏置磁场并叠加为混合磁场；测量免疫检定试剂在混合磁场中的交流磁化响应，以测量出免疫检定试剂的二次及以上各次谐波响应；将免疫检定试剂与病毒样本混合，使功能性磁纳米粒子与目标抗原发生特异性结合，得到混合溶液；测量混合溶液在混合磁场中的交流磁化响应，以测量出混合溶液二次及以上的各次谐波响应；分别利用免疫检定试剂和混合溶液的二次及以上各次谐波响应计算免疫检定试剂和混合溶液的检测特征，若两个检测特征的差异程度超过预设的阈值，则判定病毒样本中含有目标病毒。本发明能够同时提升病毒检测的效率和灵敏度。
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公开(公告)号：CN112539853A
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202011217601.X
申请日：2020-11-04
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明公开了一种基于电子顺磁共振的磁纳米粒子温度测量方法，属于纳米材料测试技术领域。本发明利用电子顺磁共振设备，通过测量磁纳米粒子共振波谱g因子变化来进行温度测量；具体地，磁纳米粒子具有超顺磁性，其电子顺磁共振波谱形状与粒子粒径、温度以及浓度有关。在粒子粒径已知的情况下，电子顺磁共振波谱的中心共振磁场，即g因子的变化只与温度有关，而与浓度无明显联系。利用这一特性可以迅速准确地探知活体器官、组织甚至细胞内部的温度，大大拓宽了磁纳米测温应用场景，并且相对于磁共振测温，测温精度得到了有效提高。
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公开(公告)号：CN111256865A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010193678.1
申请日：2020-03-18
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明公开了一种基于TMR的双频激励磁纳米温度测量方法，属于纳米材料测试技术领域。包括：对待测目标所在区域施加双频交流激励磁场；将磁纳米粒子紧贴待测目标放置；利用TMR传感器构成的差分结构探测双频交流磁场激励下磁纳米粒子的磁化强度信号；提取磁纳米粒子磁化强度信号的各次谐波幅值；根据各次谐波与温度的关系构建方程，从而求解出待测目标温度。本发明在不同频率、不同幅值的双频磁场激励下，利用磁纳米粒子的朗之万顺磁定理构建磁纳米温度测量模型，采集到磁纳米粒子磁化强度信息的信噪比要远远大于差分线圈的效果，并且系统的稳定性更强，更有利于实现高精度的温度测量。解决了磁纳米温度测量误差较大问题。
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公开(公告)号：CN109946578B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201910127850.0
申请日：2019-02-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子的IGBT结温测量方法，包括：将磁纳米粒子布置在IGBT芯片外壳背部的中心区域，构建IGBT结、IGBT芯片外壳与工作环境的二阶传热模型；构建均匀的交流激励磁场，将带有磁纳米粒子的IGBT芯片放置于所述磁场后，提取磁纳米粒子响应信号的一次谐波幅值；根据一次谐波幅值，计算IGBT芯片外壳背部温度；根据IGBT芯片外壳背部温度、工作环境温度和二阶传热模型，计算IGBT结温。本发明使磁纳米粒子接近IGBT结处，提高IGBT结温测量的精度；利用磁纳米粒子磁化强度的温度敏感特性，测量磁纳米粒子交流磁化强度的一次谐波幅值，得到外壳背部温度，无需破坏IGBT芯片的现有封装，实现非侵入式温度测量；通过二阶热容热阻传热模型，实现IGBT结温的实时测量。
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公开(公告)号：CN110179463A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201910266758.2
申请日：2019-04-03
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种磁纳米粒子的温度与浓度成像方法，使用梯度磁场产生零磁场点，确认激活磁共振信号的样品空间位置，利用不同方向的阶梯三角波驱动磁场来控制直流梯度磁场的零磁场点位置。施加脉冲静磁场与射频脉冲波，检测得到磁纳米粒子液体样品的磁共振频率信息，依据成像范围中不同空间位置的磁纳米试剂共振频率，利用共振频率与磁纳米粒子磁化率的关系获取磁纳米粒子浓度信息与温度信息，最终实现磁纳米温度成像。本发明利用核磁共振技术来获取磁纳米粒子浓度、温度信息实现温度成像，有效提高磁纳米粒子成像的空间分辨率并实现温度分布成像。从仿真数据来看，利用磁共振频率进行温度成像可以很好地提高磁纳米成像的空间分辨率并实现温度成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105953939B
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201610399156.0
申请日：2016-06-07
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明提供一种混频磁场激励下的磁纳米温度测量方法，包括如下步骤：(1)将磁性纳米颗粒放置于待测对象区；(2)在磁性纳米颗粒所在区域内产生混频激励磁场；(3)探测磁性纳米颗粒在混频磁场激励下的磁化响应谐波信号；(4)提取磁性纳米颗粒磁化响应信号中的各次偶次谐波信号的幅值；(5)根据各次偶次谐波幅值与温度信息之间的关系计算绝对温度阵。本发明利用磁性纳米颗粒在混频磁场激励下，磁化响应信息中含有丰富的偶次谐波信息与温度的关系构建方程，克服了由于激励磁场带来的干扰，同时回避了难以测量的基次谐波信号，即确保该方法在实际应用的可行性的同时提高了温度测量的精度。
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公开(公告)号：CN108663391A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810905464.5
申请日：2018-08-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N24/08
Abstract: 本发明公开了一种基于顺磁位移的磁纳米粒子浓度与温度方法，利用核磁共振设备通过测量含顺磁性颗粒的液体样品化学位移来进行磁纳米粒子浓度及温度测量，有效实现高测量精度的浓度与温度测量。在核磁共振样品试剂中添加顺磁性磁纳米粒子，通过核磁共振得到样品的顺磁位移。利用顺磁位移获取共振频率，依照共振频率与磁纳米粒子磁化率的关系获取磁化率，进一步根据磁纳米粒子磁化率与浓度、温度的关系反解样品浓度信息及温度信息。从仿真数据来看，利用顺磁位移信息可以有效地实现磁纳米粒子样品的浓度测量以及高精度温度测量。
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公开(公告)号：CN104644138B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201310646058.9
申请日：2013-12-04
Applicant: 华中科技大学
IPC: A61B5/01
CPC classification number: G01K7/36 , A61B5/01 , A61B5/05 , A61B2562/0285
Abstract: 本发明公开了一种三角波激励磁场下的磁纳米温度测量方法，属于纳米测试技术领域。该方法具体为：（1）将磁纳米样品放置于待测对象处；（2）在磁纳米样品所在区域施加三角波激励磁场；（3）检测三角波激励磁场-时间曲线和磁纳米粒子样品的磁化强度-时间曲线；（4）依据三角波激励磁场曲线和磁化强度曲线得到磁纳米粒子磁化曲线即激励磁场-磁化强度曲线，对该曲线采样获得激励磁场Hi下磁纳米粒子样品的磁化强度Mi；（5）以激励磁场Hi作为输入，磁化强度Mi作为输出，激励磁场与磁化强度间的关系式作为目标函数，进行曲线拟合从而确定待测对象温度。本发明是基于磁纳米粒子直流磁场下的温度测量模型的，使用三角波激励磁场，快速获得磁纳米粒子的磁化曲线，配合以反演算法，实现基于磁纳米粒子的实时精密的温度测量。
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公开(公告)号：CN106073725A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610484800.4
申请日：2016-06-24
IPC: A61B5/01
CPC classification number: A61B5/01 , A61B5/7221 , A61B5/7235 , A61B5/7257
Abstract: 本发明公开一种基于交流磁化强度奇次谐波的磁纳米温度测量方法，其步骤如下：将磁纳米样品放置于待测对象区；在磁纳米样品所在区域内利用通电的两对亥姆霍兹线圈产生混频激励磁场；采用一对差分式探测线圈探测磁纳米样品在混频磁场激励下的磁化强度信号；提取磁纳米样品磁化强度信号的各次奇次谐波信号的幅值；建立奇次谐波幅值与温度之间的关系，构建温度反演数学模型，通过反演算法对构建的温度反演数学模型进行求解，获取温度信息。本发明利用在混频磁场激励下，可以测量到更多的有用信号；利用混频磁场激励下丰富的谐波信息与温度的关系构建方程，回避了难以测量的谐波，提高了测量精度；有助于研究混频激励下的磁纳米温度成像方法奠定基础。
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公开(公告)号：CN104865170A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201510197371.8
申请日：2015-04-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种三角波激励磁场下磁性纳米粒子粒径分布测量系统及方法，属于纳米测试技术领域。本发明在准确测量三角波激励磁场和磁性纳米粒子磁化强度信号的基础上，得到磁性纳米粒子的磁化曲线。再将磁化曲线在Matlab最优化工具箱中进行拟合，最终得到磁性纳米粒子的粒径分布。磁性纳米粒子的磁化曲线可以在实验装置上获取，不需要借助其他外部磁场测量设备,测量成本低。利用全局搜索等优化算法可以从磁化曲线中准确地提取出粒径分布，不需要借助磁性纳米粒子的其他特性，测量过程快速简易。本发明的测量方法不仅对单一粒径分布的磁性纳米粒子适用，对存在二聚体的磁性纳米粒子也同样适用。
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