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公开(公告)号：CN104865170A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201510197371.8
申请日：2015-04-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种三角波激励磁场下磁性纳米粒子粒径分布测量系统及方法，属于纳米测试技术领域。本发明在准确测量三角波激励磁场和磁性纳米粒子磁化强度信号的基础上，得到磁性纳米粒子的磁化曲线。再将磁化曲线在Matlab最优化工具箱中进行拟合，最终得到磁性纳米粒子的粒径分布。磁性纳米粒子的磁化曲线可以在实验装置上获取，不需要借助其他外部磁场测量设备,测量成本低。利用全局搜索等优化算法可以从磁化曲线中准确地提取出粒径分布，不需要借助磁性纳米粒子的其他特性，测量过程快速简易。本发明的测量方法不仅对单一粒径分布的磁性纳米粒子适用，对存在二聚体的磁性纳米粒子也同样适用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106556466A
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201611032946.1
申请日：2016-11-22
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米磁化强度‑温度曲线的快速测温方法，其包括以下步骤：(1)将磁纳米粒子样品置于待测对象的表面；(2)在所述磁纳米粒子样品所在区域施加直流激励磁场；(3)获取所述待测对象的初始温度T(0)，并根据该初始温度T(0)计算出初始磁化强度M(0)；(4)采用探测线圈检测由温度变化而引起磁化强度变化的响应信号u(t)；(5)根据所述初始磁化强度M(0)和响应信号u(t)实时计算出磁纳米粒子的磁化强度M(t)；(6)根据所述磁化强度M(t)利用拟合出的磁化强度‑温度曲线计算出待测对象的温度T(t)。本发明可实现纳秒量级快速温度测量，具有测量快速及时、测量结果准确等优点。
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公开(公告)号：CN109506805A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：CN201811542175.X
申请日：2018-12-17
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明的双差分温度测量方法，通过采用均由两个单线圈反向连接组成的两组差分探测线圈分别感应所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子的磁化强度，实现一次差分，减少了背景噪声和激励磁场剩磁的影响；同时，本发明的双差分温度测量方法，通过将两组差分探测线圈反向连接，组成双差分探测线圈，实现二次差分，获得只是由温度变化引起的磁化强度的微小变化，且这种微小信号更容易放大较高的倍数，减少了环境变化，特别是突然出现的环境磁场扰动对磁化强度变化带来的影响，从而实现了温度的精确测量。
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公开(公告)号：CN109506805B
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201811542175.X
申请日：2018-12-17
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明的双差分温度测量方法，通过采用均由两个单线圈反向连接组成的两组差分探测线圈分别感应所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子的磁化强度，实现一次差分，减少了背景噪声和激励磁场剩磁的影响；同时，本发明的双差分温度测量方法，通过将两组差分探测线圈反向连接，组成双差分探测线圈，实现二次差分，获得只是由温度变化引起的磁化强度的微小变化，且这种微小信号更容易放大较高的倍数，减少了环境变化，特别是突然出现的环境磁场扰动对磁化强度变化带来的影响，从而实现了温度的精确测量。
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公开(公告)号：CN106556466B
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201611032946.1
申请日：2016-11-22
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米磁化强度‑温度曲线的快速测温方法，其包括以下步骤：(1)将磁纳米粒子样品置于待测对象的表面；(2)在所述磁纳米粒子样品所在区域施加直流激励磁场；(3)获取所述待测对象的初始温度T(0)，并根据该初始温度T(0)计算出初始磁化强度M(0)；(4)采用探测线圈检测由温度变化而引起磁化强度变化的响应信号u(t)；(5)根据所述初始磁化强度M(0)和响应信号u(t)实时计算出磁纳米粒子的磁化强度M(t)；(6)根据所述磁化强度M(t)利用拟合出的磁化强度‑温度曲线计算出待测对象的温度T(t)。本发明可实现纳秒量级快速温度测量，具有测量快速及时、测量结果准确等优点。
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公开(公告)号：CN104865170B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201510197371.8
申请日：2015-04-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种三角波激励磁场下磁性纳米粒子粒径分布测量系统及方法，属于纳米测试技术领域。本发明在准确测量三角波激励磁场和磁性纳米粒子磁化强度信号的基础上，得到磁性纳米粒子的磁化曲线。再将磁化曲线在Matlab最优化工具箱中进行拟合，最终得到磁性纳米粒子的粒径分布。磁性纳米粒子的磁化曲线可以在实验装置上获取，不需要借助其他外部磁场测量设备,测量成本低。利用全局搜索等优化算法可以从磁化曲线中准确地提取出粒径分布，不需要借助磁性纳米粒子的其他特性，测量过程快速简易。本发明的测量方法不仅对单一粒径分布的磁性纳米粒子适用，对存在二聚体的磁性纳米粒子也同样适用。
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