一种基于多指标TOPSIS的三维工艺性检查综合评价方法

    公开(公告)号:CN116451378A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310427163.7

    申请日:2023-04-17

    Abstract: 本发明公开一种基于多指标TOPSIS的三维工艺性检查综合评价方法,包括以下步骤:S1:确定检查指标,根据设计经验、行业标准、机械设计手册确定三维工艺性评价指标;S2:计算指标权重,采用AHP层次分析法针对三维工艺性评价指标构建判断矩阵,根据判断矩阵依次由上至下逐层计算出最低层元素相对于最高层目标的指标权重;S3:指标综合评价,根据评价指标与正理想解、负理想解之间的距离计算贴近度,根据贴近度排序得到多个产品方案的三维工艺性综合评价。本发明可以根据设计经验对具有结构复杂、结构设计紧凑、制造工艺知识差异性大的结构件进行三维工艺性检查,从而实现结构件的三维工艺性检查指标的综合评价,使得评价结果更为全面、客观、准确。

    一种焊接装配智能调度方法及系统

    公开(公告)号:CN116414094A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310396568.9

    申请日:2023-04-10

    Abstract: 本发明提供一种焊接装配智能调度方法及系统包括:实现嵌套工序编码、确定焊接需要的加工设备、缓存区容量等加工信息;收集生产历史数据,提取焊接过程的主要生产数据和干扰数据,拟合数据特征,确定数据分布函数;建立焊接过程动态数学描述模型,并设计求解目标表达公式;实现模型求解算法系统,包括改进遗传算法、构造启发式算法及问题模型理论的下界估计方法;求解建立的数学问题模型,生成随机案例,与预估下界进行对比,根据生产调度的完工时间、设备利用率等指标来修正算法系统输入的最佳参数;输入校验生产数据,使用最佳参数系统求解问题。本发明解决了动态问题表示缺陷、模拟效果较差、表达精确性及适应性较差的技术问题。

    一种轻型材料应变检测系统

    公开(公告)号:CN113310456A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110526118.8

    申请日:2021-05-13

    Abstract: 本发明公开一种轻型材料应变检测系统,包括底座,所述底座上设置有检测台、第一固定板和第二固定板,所述检测台设置在所述第一固定板和所述第二固定板之间,且所述第一固定板和所述第二固定板通过支撑板连接,所述支撑板位于所述检测台上方;所述支撑板上设置有第一滑槽,所述第一滑槽内部滑动连接有第一滑块,所述第一滑块上固定连接有第一套环,所述第一套环上设置有应变传感器;本发明通过所述活动卷筒转动带动第一套环的水平移动,从而可实现应变传感器对材料进行全方位检测。

    一种多通道片式TR组件的多学科建模及设计方法

    公开(公告)号:CN108304646B

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN201810089043.X

    申请日:2018-01-30

    Abstract: 本发明公开了一种多通道片式TR组件多学科建模方法,采用特征建模方法在结构专业数模软件中定制开发电讯专业的无源电路特征数模,建立TR组件的多学科统一数模,通过修改模型参数可以同步修改模型,便于优化设计,而多学科统一数模本身可以实现热电协同仿真数据的共享和传递,是TR组件多学科设计的基础;本发明还公开了一种基于多通道片式TR组件多学科数模的设计方法,可以有效解决高密度集成TR组件存在的热耗高对电性能紧密影响的设计难点,实现TR组件热与电性能的快速、准确协同设计。

    一种基于温度场重构的相控阵天线电性能补偿方法及系统

    公开(公告)号:CN113032976A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202110246525.3

    申请日:2021-03-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于温度场重构的相控阵天线电性能补偿方法系统,属于雷达天线技术领域,通过不完备信息下的天线温度场测量方法对相控阵天线进行温度场瞬态仿真、实际测量和温度重构;并对相控阵天线元器件进行温漂特性实验,获得离散温度下的传输参数曲线;采用矢量拟合的方法拟合出各测试温度下传输参数随频率、温度变化的频率响应函数;引入极限学习机算法建立频率、温度与频率响应函数极点、残基之间的数学模型;用测量的相控阵天线频率、温度作为输入变量,得到频率响应函数的极点、残基,确定激励电流的幅值和相位,进行电性能补偿;本发明可用于补偿受温度影响后的相控阵天线电性能,使其达到最佳工作状态。

    工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量评估方法及系统

    公开(公告)号:CN110308328B

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN201910663764.1

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明提供一种工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量及评估方法及系统,包括以下步骤:S100,构建样件;S200,测量样件在制造过程中产生的工艺级误差,包括钎透率β1、连接器安装偏差β2、金丝拱高偏差α1和金丝键合距离偏差α2;S300,更换样件,重复上述步骤,得出该样件4个误差源对驻波比的影响。S400,测量评估,首先对误差源进行高斯加权,然后对四个权重归一化,即可得各个误差对驻波比影响的权重分配。与现有技术相比,本发明提供一种测量并评估钎透率偏差、连接器安装偏差和金丝压焊工艺对驻波比影响的方法;对样件的检测快速方便,非侵入式,对样件没有破坏性;对各个误差源进行了高斯加权分配,使这些误差对样件驻波比的影响更加科学客观。

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